FISCHERSCOPE® X-RAY 5000
nhờ DPP+
thông qua các bộ phận cố định
hoặc trong không khí
¹ Cải thiện đáng kể độ lệch chuẩn và do đó đánh giá khả năng hoặc giảm đáng kể thời gian đo so với DPP với DPP+.
² Chỉ FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.
Kiểm soát chất lượng liên tục và thông minh.
Được thiết kế để có thời gian hoạt động tối đa, dòng FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 gây ấn tượng với nhiều thứ khác nhờ mức độ tùy chỉnh cao và hiệu suất đo vượt trội - không tiếp xúc, không phá hủy và chính xác. Các thiết bị thuộc dòng này tạo thành các đơn vị mô-đun, đó là lý do tại sao chúng có thể dễ dàng lắp đặt dưới dạng các bộ phận thuần túy trong nhà máy hiện có.
Tùy chỉnh theo yêu cầu.
Dễ dàng tích hợp , có thể điều chỉnh riêng lẻ cho ứng dụng của bạn
Không bị ảnh hưởng bởi nhiệt độ.
Nhiệt độ mẫu lên tới 250 °C (482 °F) nhờ làm mát bằng nước
Bộ xử lý xung kỹ thuật số DPP+.
Thời gian đo ngắn hơn hoặc cải thiện độ lệch chuẩn*
*so với DPP
Mạnh mẽ và đáng tin cậy.
Không có bộ phận chuyển động
Thiết kế nhỏ gọn.
Đầu đo với tất cả các bộ phận cần thiết trong một thiết bị
Tương thích với chân không.
Có thể lắp đặt trên buồng chân không
Được thiết kế và chế tạo chắc chắn để sử dụng liên tục 24/7, ngay cả trên các bề mặt nóng.
Linh hoạt và lý tưởng cho các lớp phủ mỏng nhờ đầu dò SDD mạnh mẽ và khẩu độ có thể cấu hình được.
Đo nội tuyến chính xác và nhanh chóng trong quá trình sản xuất đang vận hành.
Dễ bảo trì và dễ bảo dưỡng - có thể bảo dưỡng đầu đo mà không làm hỏng chân không.
Truyền, đánh giá và xuất dữ liệu đo lường theo thời gian thực với WinFTM®, phần mềm ứng dụng mạnh mẽ nhất trên thị trường.
Tính năng
Ống tia X microfocus với anốt tungsten; anốt molypden tùy chọn
Khẩu độ cố định (có thể cấu hình lên tới Ø 11 mm)
Để đo trong chân không hoặc trong không khí
Tùy chọn làm mát bằng nước cho nhiệt độ mẫu lên tới 250 ° C
Đầu dò SDD 50 mm2 cho độ chính xác cao nhất
Bộ lọc cố định (có thể định cấu hình)
Làm mát pelti
Tốc độ đếm cao hơn và thời gian đo giảm đáng kể nhờ DPP+
Có thể lắp đặt mọi vị trí bất kì.
Điều khiển từ xa và xuất dữ liệu qua giao diện TCP/IP
Ví dụ ứng dụng
- Đo lớp phủ mỏng và tải trọng thấp trên các sản phẩm và chất nền có diện tích lớn, chẳng hạn như pin nhiên liệu, trên tấm kính và các bề mặt rất nóng
- Giám sát thành phần và độ dày của các lớp trong quang điện như CIGS, CIS, CdTe và CdS
- Đo các lớp mỏng vài µm trên dải kim loại, lá kim loại và màng nhựa
- Giám sát quá trình thiết bị phún xạ và mạ điện
Bạn có thêm ứng dụng khác? Hãy liên hệ chúng tôi!
Ghi chú ứng dụng
Tài liệu quảng cáo
Thông tin chi tiết của Fischer.
Khám phá nhiều sản phẩm hơn.
