Phần mềm WinFTM®
hoàn chỉnh
tự động
thống kê
Quản lý và đánh giá dữ liệu đo lường hiệu quả.
Dù là kiểm tra đầu vào, kiểm soát chất lượng hay phòng thí nghiệm nghiên cứu – các yêu cầu đối với phần mềm công nghệ đo lường tốt cũng đa dạng như phạm vi ứng dụng của các thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY. Để đáp ứng tất cả các yêu cầu này, WinFTM® cung cấp chính xác các tính năng và chức năng cần thiết cho việc đo lường nhanh chóng, đánh giá hiệu quả và tài liệu hóa chuyên nghiệp dữ liệu đo lường.
Kết quả đo có thể truy xuất được.
Quy trình hiệu chuẩn được hướng dẫn và đơn giản cũng như các mẫu chuẩn Fischer đạt chứng chỉ DAkkS
Đo lường chính xác và mẫu chuẩn miễn phí.
Đo độ dày lớp phủ và thành phần vật liệu dựa trên các thuật toán tham số cơ bản được phát triển liên tục
Tự động hóa.
Lập trình và tự động thực hiện các chuỗi đo lặp lại
Đánh giá thuận tiện.
Đánh giá thống kê mở rộng bao gồm kiểm soát quá trình thống kê (SPC)
Xuất dữ liệu trực tiếp.
Xuất dữ liệu dễ dàng sang các giao diện khác nhau, chẳng hạn như hệ thống quản lý chất lượng
Tạo báo cáo dữ liệu dễ dàng.
Các báo cáo hoàn toàn có thể tùy chỉnh và tạo các giao thức đo lường cá nhân chỉ với một cú nhấp chuột
Chức năng
Những tính năng này và nhiều tính năng khác làm cho WinFTM® trở thành phần mềm XRF toàn diện nhất cho kiểm soát chất lượng:
Tự động nhận dạng mẫu
WinFTM® sở hữu công nghệ nhận dạng hình ảnh và nhận dạng mẫu tiên tiến cho phép tự động xác định các cấu trúc được định nghĩa trước. Điều này giúp bạn bù đắp cho độ lệch vị trí khi đo nhiều bộ phận thử nghiệm (chẳng hạn như khi kiểm tra từng sản phẩm trong sản xuất).
Nhận dạng vật liệu (loại chất) tự động
Nhờ khả năng nhận dạng vật liệu thông minh, các bộ phận thử nghiệm khác nhau với thành phần và độ dày lớp khác nhau có thể được phân loại vào các lớp chất được xác định trước. WinFTM® sau đó có thể tự động tải các thông số hiệu chuẩn và đo lường phù hợp cho từng bộ phận thử nghiệm.
Quá trình đo lường tự động
WinFTM® cho phép lập trình và thực hiện tự động các chuỗi đo lặp lại. Thậm chí các quy trình đo phức tạp cũng có thể được thực hiện dễ dàng và đáng tin cậy chỉ với một cú nhấp chuột hoặc nhấn phím. Hướng dẫn cho người vận hành có thể được hiển thị rõ ràng trên màn hình, giúp việc vận hành dễ dàng hơn.
Việc đo lường có thể truy xuất nguồn gốc một cách dễ dàng
Nhờ các chức năng hiệu chuẩn trực quan của WinFTM® và danh mục mẫu chuẩn Fischer đa dạng, bạn sẽ có được kết quả đo lường đáng tin cậy và có thể truy xuất nguồn gốc. WinFTM® hỗ trợ hiệu chuẩn dựa trên tiêu chuẩn với tối đa 64 mẫu chuẩn cho mỗi nhiệm vụ đo lường.
Giám sát thiết bị đo lường
WinFTM® hỗ trợ bạn với các chức năng tích hợp và hoàn toàn tự động cho việc giám sát thiết bị đo. Cùng với bộ công cụ giám sát thiết bị đo tùy chọn, thiết bị đo của bạn sẽ tự kiểm tra ở các khoảng thời gian xác định và lập tài liệu kết quả một cách đáng tin cậy.
Đo lường miễn phí mẫu chuẩn
Nhờ các thuật toán tham số cơ bản được phát triển và tối ưu hóa liên tục trong nhiều năm, hệ thống của chúng tôi cho phép xác định độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu ngay cả khi không cần hiệu chuẩn bằng mẫu chuẩn. Điều này giúp tiết kiệm thời gian và tăng tính linh hoạt trong đo lường.
Các chức năng thống kê bao gồm kiểm soát quá trình thống kê (SPC)
Phần mềm WinFTM® cung cấp các đánh giá thống kê mở rộng như biểu đồ tần số, mạng lưới xác suất cũng như biểu đồ SPC bao gồm phép tính Cp/Cpk. Điều này cho phép bạn phân tích hiệu quả dữ liệu đo lường và phát hiện các biến đổi quá trình.
Chức năng báo cáo
Phần mềm của chúng tôi cho phép bạn dễ dàng tạo các giao thức với tiêu đề giao thức có chỉnh sửa, dữ liệu đo lường, kết quả thống kê và hơn thế nữa. Bạn có thể in báo cáo hoặc xuất kết quả đo ở các định dạng khác nhau.
Giao thức đo lường tùy chỉnh
Nhận báo cáo đo lường chỉ với vài cú nhấp chuột! Nhờ các mẫu có thể cấu hình hoàn toàn, bạn có thể xuất kết quả đo lường trong vài giây ở định dạng chính xác.
Ứng dụng
- Đo đồng thời lên đến 24 biến số (một biến số đo có thể là độ dày lớp phủ hoặc nồng độ nguyên tố)
- Có thể đo độ dày lớp phủ và thành phần lớp song song
- Chế độ đo diện tích
- Đo đồng thời lên đến 24 nguyên tố
- Phân tích vàng với hiển thị kết quả theo % hoặc carat
- Phân tích nguyên tố vết để sàng lọc RoHS
- Nhận dạng vật liệu tự động
- Hiển thị đèn giao thông đơn giản cho đạt/không đạt
- Phân tích vật liệu rời rạc không xác định
- Bao gồm xác định nguyên tố tự động
- Đo đồng thời lên đến 24 nguyên tố
- Chuyển đổi tự động hàm lượng khối thành nồng độ dung dịch
Đo độ dày lớp phủ
- Đo đồng thời lên đến 24 biến số (một biến số đo có thể là độ dày lớp phủ hoặc nồng độ nguyên tố)
- Có thể đo độ dày lớp phủ và thành phần lớp song song
- Chế độ đo diện tích
Phân tích vật liệu
- Đo đồng thời lên đến 24 nguyên tố
- Phân tích vàng với hiển thị kết quả theo % hoặc carat
- Phân tích nguyên tố vết để sàng lọc RoHS
- Nhận dạng vật liệu tự động
- Hiển thị đèn giao thông đơn giản cho đạt/không đạt
Phân tích thành phần định tính
- Phân tích vật liệu rời rạc không xác định
- Bao gồm xác định nguyên tố tự động
Phân tích giải pháp
- Đo đồng thời lên đến 24 nguyên tố
- Chuyển đổi tự động hàm lượng khối thành nồng độ dung dịch