FISCHERSCOPE® XDV®

^{Sản phẩm có thể thay đổi tùy theo mẫu mã hoặc tính năng}

Thiết bị toàn diện cao cấp.

Thiết bị để bàn cải tiến dùng để đo độ dày của các lớp phủ rất mỏng và phức tạp, thậm chí < 0,05 μm.

Tờ rơi thiết bị XRF

Trải nghiệm sản phẩm

Yêu cầu ngay

Độ chính xác vượt trội

                        với đo lường tối ưu trên mọi hình dáng.

                    
                        Trục Z tốc độ cao cho
                    
                        việc định vị mẫu siêu nhanh

Nâng cao trải nghiệm sử dụng
                    
                        và
                    
tối ưu hướng dẫn vận hành
                    
                        với phần mềm FISIQ® X

Điểm nổi bật của sản phẩm Thư viện hình ảnh Tính năng và ứng dụng Phương tiện truyền thông Thông tin chi tiết của FISCHER Các sản phẩm khác Liên hệ

Tốc độ kết hợp với độ chính xác.

Được thiết kế cho tốc độ tối đa, độ chính xác cao nhất và tính dễ sử dụng trực quan – đây là cách chúng tôi giới thiệu thế hệ thiết bị XRF FISCHERSCOPE® XDV®. Là một trong những giải pháp XRF cao cấp của chúng tôi, thiết bị được thiết kế để đo các cấu trúc vi mô một cách tin cậy. Kết hợp với phần mềm tiên tiến FISIQ® X , thiết bị mang lại hiệu suất đo lường vượt trội. Ngoài ra, quy trình làm việc đơn giản và hiệu quả đảm bảo quá trình đo diễn ra trơn tru và tăng đáng kể thông lượng trong kiểm soát chất lượng của bạn.

Định vị mẫu siêu nhanh.

Trục Z tốc độ cao, nhanh hơn 6 lần*

Chụp mẫu nhanh.

Tự động lấy nét trong dưới 2 giây – nhanh hơn 14 lần*

Vận hành tự động.

Nắp tự động hoặc thủ công để linh hoạt tối đa

Chiếu sáng mẫu tối ưu và chụp ảnh.

Độ phân giải camera cao hơn 10 lần* và chiếu sáng LED đa vùng

_{* So với FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.}

Độ chính xác cao vượt trội và kết quả có thể lặp lại.

Hình học đo lường được tối ưu hóa

Trạng thái thiết bị luôn hiển thị.

Đèn trạng thái 180° trực quan

Nâng cao trải nghiệm sử dụng và tối ưu vận hành.

Phần mềm FISIQ® X mới

Luôn quan sát rõ mọi thứ nhờ camera quan sát tổng quan độ phân giải cao. Dù là bề mặt mờ, bóng hay phản chiếu – hệ thống đèn LED đa vùng sẽ làm nổi bật từng chi tiết một cách chính xác.

Bạn có thể lựa chọn giữa chế độ vận hành tự động và thủ công, được hỗ trợ bởi nắp che động cơ để mang lại sự linh hoạt tối đa trong quy trình đo lường của bạn.

Xem ngay trạng thái thiết bị nhờ hệ thống đèn báo trạng thái trực quan: chế độ chờ (màu xanh dương), sẵn sàng đo (màu xanh lá cây) và đang đo (màu cam nhấp nháy).

Hãy tận hưởng độ chính xác đo lường vượt trội và nhận được kết quả đáng tin cậy, chất lượng cao nhờ khoảng cách được tối ưu hóa giữa ống tia X, mẫu và bộ cảm biến.

Thực hiện các phép đo nhanh chóng và cực kỳ chính xác nhờ quy trình làm việc đơn giản và hiệu quả, ngay cả trong những ứng dụng khó khăn nhất như phân tích tấm wafer.

Hãy khám phá FISIQ® X ngay hôm nay – phần mềm XRF đầu tiên tích hợp công nghệ AI!