FISCHERSCOPE® XDAL®
Mới
khi đo lường trên các mặt tiếp xúc
siêu nhanh
hướng dẫn người dùng với phần mềm FISIQ® X
Dễ dàng xử lý, tốc độ và độ chính xác tối đa.
Khi độ chính xác vượt qua mọi giới hạn, FISCHERSCOPE® XDAL® của chúng tôi định nghĩa lại những điều có thể đạt được. Là thế hệ kế nhiệm đầy đổi mới của FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®, thiết bị này lý tưởng cho các ứng dụng trong lĩnh vực lớp phủ mỏng và siêu mỏng (< 0.05 μm) cũng như phân tích vật liệu trong phạm vi ppm. Bạn có thể lựa chọn giữa mẫu XDAL® 650 được trang bị đầu dò silicon drift mạnh mẽ 50 mm² và XDAL® 620 được trang bị đầu dò silicon drift 20 mm². Kết hợp với phần mềm XRF tiên tiến FISIQ® X, giải pháp cao cấp này đảm bảo quy trình đo lường liền mạch để mang lại sự thuận tiện, an toàn và hiệu suất tối đa.
Định vị mẫu siêu nhanh.
Trục Z tốc độ cao nhanh hơn 6 lần*
Thu nhận mẫu nhanh chóng.
Tự động lấy nét trong chưa đầy 2 giây – nhanh hơn 14 lần*
Vận hành tự động.
Nắp che tự động hoặc thủ công cho độ linh hoạt tối đa
Chiếu sáng mẫu và chụp ảnh tối ưu.
Độ phân giải camera cao hơn 10 lần* và hệ thống chiếu sáng LED đa vùng
* So với FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Độ chính xác vượt trội và kết quả lặp lại đáng tin cậy.
Hình học đo lường được tối ưu hóa
Trạng thái thiết bị luôn hiển thị rõ ràng.
Đèn trạng thái 180° trực quan
Cải thiện khả năng sử dụng và hướng dẫn người dùng.
Phần mềm FISIQ® X mới
Chi tiết kích thước lớn.
Rãnh C-slot cho phép đo các chi tiết lớn
Camera chi tiết với đèn LED đa vùng: chiếu sáng tối ưu cho mọi bề mặt mẫu (mờ, bóng, phản chiếu).
Đo theo cách của bạn – tự động hoặc thủ công – được hỗ trợ bởi chụp hút có động cơ để đạt tính linh hoạt tối đa.
Khoảng cách được cải thiện giữa ống tia X, mẫu và đầu dò đảm bảo cường độ tối đa và độ chính xác đo lường vô song - mang lại kết quả đáng tin cậy và chất lượng cao nhất.
Dải đèn LED hiển thị trạng thái của thiết bị chỉ trong nháy mắt. Đèn xanh dương biểu thị chế độ chờ, đèn xanh lá biểu thị thiết bị đã sẵn sàng để đo và đèn cam nhấp nháy biểu thị phép đo đang diễn ra.
FISIQ® X: Phần mềm XRF hiện đại và đầu tiên có chế độ phổ được hỗ trợ bởi AI. Tăng năng suất với quy trình làm việc đơn giản và hiệu quả.
Đặc trưng
Ống vi tiêu điểm với cực dương vonfram, hỗ trợ các cực dương khác theo yêu cầu.
Vỏ khe C để đo các mẫu lớn hơn
Đầu dò Silicon Drift Detector 20 mm² hoặc 50 mm² cho độ chính xác tối ưu khi đo các lớp phủ mỏng.
Khẩu độ có thể thay đổi 4 lần và bộ lọc có thể thay đổi 6 lần
Chứng nhận riêng biệt đạt chuẩn thiết bị bảo vệ an toàn toàn phần
Phần mềm FISIQ® X với chế độ phổ được hỗ trợ bởi AI cho các quy trình đo lường thông minh hơn
Khoảng cách đo điều chỉnh liên tục với khả năng đo từ trên xuống
Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm
Buồng che tự động và bàn đo lập trình hỗ trợ quy trình đo tự động hóa.
Ví dụ ứng dụng
- Phân tích lớp phủ rất mỏng ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Đo lớp phủ chức năng trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn, ví dụ như trên khung chì, đầu nối hoặc bảng mạch in
- Đo lường các hệ thống đa lớp phức tạp
- Đo tự động, ví dụ như trong kiểm soát chất lượng
- Xác định hàm lượng chì trong chất hàn
- Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP
- Xác định lớp hoàn thiện PCB
Bạn có ứng dụng nào khác cần đo kiểm không? Hãy liên hệ với chúng tôi!
Ghi chú ứng dụng
Ghi chú hướng dẫn sử dụng
Video sản phẩm
Tờ rơi
Ghi chú ứng dụng
Ghi chú hướng dẫn sử dụng
Video sản phẩm
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Tờ rơi
Thông tin chi tiết của FISCHER
Khám phá thêm sản phẩm
