FISCHERSCOPE® XDAL®
Mới
6x ¹ ²
14x ¹
10x ¹
¹ So với FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
² Tùy thuộc vào bề mặt mẫu
Dễ dàng xử lý, tốc độ và độ chính xác tối đa.
FISCHERSCOPE® XDAL® lý tưởng cho các ứng dụng trong lĩnh vực lớp phủ mỏng và rất mỏng <0,05 μm và để phân tích vật liệu trong phạm vi ppm. Phiên bản thiết bị được trang bị thế hệ máy dò mạnh mẽ mới nhất, máy dò trôi silicon 50 mm². Đèn báo trạng thái trực quan và chụp đo tự động, cùng với phần mềm FISIQ® X XRF hiện đại, đảm bảo quá trình đo diễn ra suôn sẻ - để thuận tiện hơn, an toàn hơn và thông lượng tối đa.
Trục Z tốc độ cao.
Để định vị nhanh các mẫu của bạn
Tự động lấy nét trong vòng 2 giây.
Thu thập và lấy nét đối tượng đo lường của bạn nhanh chóng để có quy trình đo lường hiệu quả hơn nữa
Camera tổng quan độ phân giải cao.
Giữ tổng quan tốt hơn với hình ảnh sắc nét và chi tiết hơn
Đèn LED nhiều vùng.
Chiếu sáng hoàn hảo mọi lúc, bất kể bề mặt nào
Mái che đo tự động.
Hoạt động thủ công hoặc tự động để có tính linh hoạt tối đa
Hình học đo được tối ưu hóa.
Độ chính xác đo lường vô song nhờ khoảng cách được cải thiện giữa ống tia X, mẫu và máy dò
Đèn báo trạng thái trực quan.
Kiểm tra trạng thái của thiết bị chỉ trong nháy mắt
Camera chi tiết với đèn LED đa vùng: chiếu sáng tối ưu cho mọi bề mặt mẫu (mờ, bóng, phản chiếu).
Nắp máy có động cơ có thể mở và đóng bằng cách nhấn nút hoặc điều khiển bằng phần mềm. Cho quy trình diễn ra suôn sẻ và hiệu quả.
Khoảng cách được cải thiện giữa ống tia X, mẫu và đầu dò đảm bảo cường độ tối đa và độ chính xác đo lường vô song - mang lại kết quả đáng tin cậy và chất lượng cao nhất.
Dải đèn LED hiển thị trạng thái của thiết bị chỉ trong nháy mắt. Đèn xanh dương biểu thị chế độ chờ, đèn xanh lá biểu thị thiết bị đã sẵn sàng để đo và đèn cam nhấp nháy biểu thị phép đo đang diễn ra.
FISIQ® X: Phần mềm XRF hiện đại và đầu tiên có chế độ phổ được hỗ trợ bởi AI. Tăng năng suất với quy trình làm việc đơn giản và hiệu quả.
Đặc trưng
Ống vi tiêu điểm với cực dương vonfram, các cực dương khác có sẵn theo yêu cầu
Vỏ máy khe chữ C cho phép đo tự động trên các mẫu vật lớn hơn
Đầu dò SDD 20 mm² hoặc 50 mm² cho độ chính xác cao nhất trên các lớp mỏng
Khẩu độ có thể thay đổi 4 lần và bộ lọc có thể thay đổi 6 lần
Thiết bị bảo vệ toàn diện đã được chứng nhận
Phần mềm FISIQ® X với chế độ phổ được AI hỗ trợ cho các quy trình đo lường thông minh hơn
Khoảng cách đo vô cấp với phép đo từ trên xuống dưới
Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm
Bàn đo có thể lập trình để đo tự động
Ví dụ ứng dụng
- Phân tích lớp phủ rất mỏng ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Đo lớp phủ chức năng trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn, ví dụ như trên khung chì, đầu nối hoặc bảng mạch in
- Xác định hệ thống phủ nhiều lớp phức tạp
- Đo tự động, ví dụ như trong kiểm soát chất lượng
- Xác định hàm lượng chì trong chất hàn
- Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP
- Xác định lớp hoàn thiện PCB
Bạn có ứng dụng nào khác không? Hãy liên hệ với chúng tôi!
Video sản phẩm
Tờ rơi
Video sản phẩm
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Tờ rơi
Thông tin chi tiết của Fischer.
Khám phá thêm sản phẩm.
