FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®/XUL®

Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng

 

Thiết bị đo lường cơ bản, tiết kiệm thời gian.

Thiết bị đo linh hoạt để đo độ dày lớp phủ của các bộ phận tinh xảo như phích cắm, tiếp điểm hoặc điểm tiếp xúc, dây hoặc bảng mạch nhỏ hơn cũng như để xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện và thành phần của các lớp hợp kim đơn giản.

Đầu dò PC Tube với cửa sổ thu nhận tín hiệu
lớn nhất trên thị trường
Điểm đo nhỏ nhất
với kích thước 0,1 mm
Vòng khẩu độ cố định hoặc có thể thay đổi 4 lần, cùng với bộ lọc cố định hoặc
có thể thay đổi 3 lần

Phân tích huỳnh quang tia X cho ứng dụng cơ bản

Thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®/XUL® là thiết bị đo XRF nhỏ gọn, linh hoạt, lý tưởng để đo độ dày lớp phủ không phá hủy và phân tích vật liệu. Với đầu dò tín hiệu PC Tube tích hợp, cho phép thời gian đo nhanh, đặc biệt với khoảng cách đo lớn và các mẫu có hình dạng phức tạp, ngay cả với các điểm đo nhỏ. Những tính năng này và nhiều chức năng khác giúp cho thiết bị này trở thành thiết bị không thể thiếu trong lĩnh vực đảm bảo chất lượng, kiểm tra hàng hóa đầu vào và giám sát sản xuất, đặc biệt là trong lĩnh vực xi mạ.

Ưu thế vượt trội

Cửa sổ nhận tín hiệu đo lớn nhất trên thị trường

Thiết kế giúp đo nhanh.

Mẫu được đặt và sẵn sàng đo chỉ trong vài bước

Đáp ứng cho mẫu kích thước lớn.

Nắp với khe hở C cho phép đo mẫu phẳng lớn

Nghiệm thu.

Cực kỳ nhanh chóng và đơn giản

Cân bằng.

Tỷ lệ chi phí-lợi ích tối ưu

Kiểm tra nhiều điểm đo.

Ngay cả với các mẫu diện tích lớn, các điểm đo cũng có thể thực hiện trên toàn bộ diện tích mẫu

  • Tính năng

      Ống phát tia X dạng Micro-focus

      Các phép đo riêng lẻ

      Bộ lọc cố định hoặc có thể thay đổi 3 lần

      Điểm đo xấp xỉ.: Ø 0,1mm

      Đầu dò tín hiệu PC Tube cho thời gian đo ngắn

      Hình ảnh trực tiếp tại vị trí cần đo

      Chiều cao mẫu có thể lên tới 170 mm

      Khẩu độ cố định hoặc có thể thay đổi 4 lần

      Thiết bị đạt tiêu chuẩn an toàn nghiêm ngặt

  • Ví dụ ứng dụng

      • Mạ điện như kẽm trên thép hoặc kẽm-niken trên thép để bảo vệ chống ăn mòn cho các bộ phận sản xuất hàng loạt (bu lông, ốc vít)
      • Xác định hàm lượng kim loại trong dung cịch bể mạ điện
      • Lớp phủ trang trí Cr/Ni/Cu/ABS
      • Lớp phủ trên connector và tiếp điểm dẫn điện trong ngành điện tử
      • Đo bảng mạch PCB
      • Đo lường trong ngành đồng hồ và trang sức

      Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!

Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Thông tin chi tiết từ Fischer.

Phương pháp đo.

Tìm hiểu và khám phá cách hoạt động của phân tích huỳnh quang tia X.

Tìm hiểu thêm
Dịch vụ.

Chúng tôi cung cấp mọi thứ bạn cần để có kết quả đo đáng tin cậy.

Tìm hiểu thêm
Tại sao lại là Fischer.

Trải nghiệm nhiều lý do tuyệt vời để lựa chọn chúng tôi như một công ty.

Tìm hiểu thêm

Khám phá nhiều sản phẩm hơn.