FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®/XUL®
































































Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng
lớn nhất trên thị trường
với kích thước 0,1 mm
có thể thay đổi 3 lần
Phân tích huỳnh quang tia X cho ứng dụng cơ bản
Thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®/XUL® là thiết bị đo XRF nhỏ gọn, linh hoạt, lý tưởng để đo độ dày lớp phủ không phá hủy và phân tích vật liệu. Với đầu dò tín hiệu PC Tube tích hợp, cho phép thời gian đo nhanh, đặc biệt với khoảng cách đo lớn và các mẫu có hình dạng phức tạp, ngay cả với các điểm đo nhỏ. Những tính năng này và nhiều chức năng khác giúp cho thiết bị này trở thành thiết bị không thể thiếu trong lĩnh vực đảm bảo chất lượng, kiểm tra hàng hóa đầu vào và giám sát sản xuất, đặc biệt là trong lĩnh vực xi mạ.
Ưu thế vượt trội
Cửa sổ nhận tín hiệu đo lớn nhất trên thị trường
Thiết kế giúp đo nhanh.
Mẫu được đặt và sẵn sàng đo chỉ trong vài bước
Đáp ứng cho mẫu kích thước lớn.
Nắp với khe hở C cho phép đo mẫu phẳng lớn
Nghiệm thu.
Cực kỳ nhanh chóng và đơn giản
Cân bằng.
Tỷ lệ chi phí-lợi ích tối ưu
Kiểm tra nhiều điểm đo.
Ngay cả với các mẫu diện tích lớn, các điểm đo cũng có thể thực hiện trên toàn bộ diện tích mẫu
Tính năng
Ống phát tia X dạng Micro-focus
Các phép đo riêng lẻ
Bộ lọc cố định hoặc có thể thay đổi 3 lần
Điểm đo xấp xỉ.: Ø 0,1mm
Đầu dò tín hiệu PC Tube cho thời gian đo ngắn
Hình ảnh trực tiếp tại vị trí cần đo
Chiều cao mẫu có thể lên tới 170 mm
Khẩu độ cố định hoặc có thể thay đổi 4 lần
Thiết bị đạt tiêu chuẩn an toàn nghiêm ngặt
Ví dụ ứng dụng
- Mạ điện như kẽm trên thép hoặc kẽm-niken trên thép để bảo vệ chống ăn mòn cho các bộ phận sản xuất hàng loạt (bu lông, ốc vít)
- Xác định hàm lượng kim loại trong dung cịch bể mạ điện
- Lớp phủ trang trí Cr/Ni/Cu/ABS
- Lớp phủ trên connector và tiếp điểm dẫn điện trong ngành điện tử
- Đo bảng mạch PCB
- Đo lường trong ngành đồng hồ và trang sức
Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!