FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng

 

Điểm đo cực nhỏ, khoảng cách đo cực lớn.

Thực hiện nhiệm vụ đo lường đòi hỏi khắt khe với tập hợp ống mao dẫn tập trung tia X: Thiết bị đo lường X-ray cao cấp với quang học tia X đa mao mạch cho phép đo trên các bộ phận nhỏ nhất có điểm đo cực nhỏ và khoảng cách đo cực lớn.

Hiệu suất ¹ tăng lên đến 50%
nhờ DPP+
Kích thước điểm nhỏ nhất
60 µm
Khoảng cách đo lớn nhất
12mm tốt nhất trong cùng loại
¹ Hiển thị thêm
Ẩn bớt

¹ Cải thiện đáng kể độ lệch chuẩn và do đó đánh giá khả năng hoặc giảm đáng kể thời gian đo so với DPP với DPP+.

 

Hiệu suất tốt nhất.

Điểm nổi bật cho các bộ phận thử nghiệm nhỏ có hình dạng phức tạp. Khoảng cách đo vô song kết hợp với điểm đo nhỏ nhất và ống microfocus Ultra cho hiệu suất cao hơn với điểm đo nhỏ nhất khiến FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD trở thành thiết bị XRF hàng đầu trong ngành.

Đáp ứng mọi thách thức.

Kết quả đáng tin cậy và nhanh chóng cho phép đo đầy tham vọng

Quang học đa mao tiên tiến nhất trên thị trường.

Quang học đa mao quản được sản xuất khép kín mang lại kết quả đo vượt trội trong thời gian ngắn

Chính xác và rõ ràng.

Định vị điểm đo trên các cấu trúc nhỏ nhờ nhận dạng hình ảnh tự động

Tự động hóa hoàn toàn.

Hãy để thiết bị của bạn làm việc chỉ bằng một cú nhấp chuột

Bộ xử lý xung kỹ thuật số DPP+.

Thời gian đo ngắn hơn hoặc cải thiện độ lệch chuẩn*

*so với DPP

  • Tính năng

      Ống microfocus Ultra với anốt tungsten cho hiệu suất cao hơn cho những điểm nhỏ nhất; Anốt molypden tùy chọn

      Bộ lọc có thể thay đổi

      Tốc độ đếm cao hơn và giảm đáng kể thời gian đo nhờ DPP+

      Quang học đa mao quản cho phép đo các điểm đặc biệt nhỏ với thời gian đo ngắn với cường độ cao

      Điểm đo xấp xỉ.: Ø 60 µm

      Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện với các phụ kiện tương ứng

      Đầu dò SDD có diện tích hoạt động 20 hoặc 50 mm2 cho độ chính xác cao nhất với các lớp mỏng

      Chiều cao mẫu có thể lên tới 135 mm

  • Ví dụ ứng dụng

      • Đo trên các bộ phận và cấu trúc nhỏ nhất như PCB được lắp ráp và có hình dạng phức tạp, điểm tiếp xúc phích cắm, khu vực liên kết, bộ phận SMD hoặc dây mỏng
      • Đo các lớp chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn
      • Xác định hệ thống đa lớp phức tạp
      • Đo lường tự động, chẳng hạn như trong kiểm soát chất lượng

      Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!

Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation

Thông tin chi tiết của Fischer.

Phương pháp đo.

Tìm hiểu và khám phá cách hoạt động của phân tích huỳnh quang tia X.

Tìm hiểu thêm
Dịch vụ.

Chúng tôi cung cấp mọi thứ bạn cần để có kết quả đo đáng tin cậy.

Tìm hiểu thêm
Tại sao lại là Fischer.

Trải nghiệm nhiều lý do tuyệt vời để lựa chọn chúng tôi như một công ty.

Tìm hiểu thêm

Khám phá nhiều sản phẩm hơn.