FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
































































Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng
nhờ DPP+
60 µm
12mm tốt nhất trong cùng loại
¹ Cải thiện đáng kể độ lệch chuẩn và do đó đánh giá khả năng hoặc giảm đáng kể thời gian đo so với DPP với DPP+.
Hiệu suất tốt nhất.
Điểm nổi bật cho các bộ phận thử nghiệm nhỏ có hình dạng phức tạp. Khoảng cách đo vô song kết hợp với điểm đo nhỏ nhất và ống microfocus Ultra cho hiệu suất cao hơn với điểm đo nhỏ nhất khiến FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD trở thành thiết bị XRF hàng đầu trong ngành.
Đáp ứng mọi thách thức.
Kết quả đáng tin cậy và nhanh chóng cho phép đo đầy tham vọng
Quang học đa mao tiên tiến nhất trên thị trường.
Quang học đa mao quản được sản xuất khép kín mang lại kết quả đo vượt trội trong thời gian ngắn
Chính xác và rõ ràng.
Định vị điểm đo trên các cấu trúc nhỏ nhờ nhận dạng hình ảnh tự động
Tự động hóa hoàn toàn.
Hãy để thiết bị của bạn làm việc chỉ bằng một cú nhấp chuột
Bộ xử lý xung kỹ thuật số DPP+.
Thời gian đo ngắn hơn hoặc cải thiện độ lệch chuẩn*
*so với DPP
Tính năng
Ống microfocus Ultra với anốt tungsten cho hiệu suất cao hơn cho những điểm nhỏ nhất; Anốt molypden tùy chọn
Bộ lọc có thể thay đổi
Tốc độ đếm cao hơn và giảm đáng kể thời gian đo nhờ DPP+
Quang học đa mao quản cho phép đo các điểm đặc biệt nhỏ với thời gian đo ngắn với cường độ cao
Điểm đo xấp xỉ.: Ø 60 µm
Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện với các phụ kiện tương ứng
Đầu dò SDD có diện tích hoạt động 20 hoặc 50 mm2 cho độ chính xác cao nhất với các lớp mỏng
Chiều cao mẫu có thể lên tới 135 mm
Ví dụ ứng dụng
- Đo trên các bộ phận và cấu trúc nhỏ nhất như PCB được lắp ráp và có hình dạng phức tạp, điểm tiếp xúc phích cắm, khu vực liên kết, bộ phận SMD hoặc dây mỏng
- Đo các lớp chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn
- Xác định hệ thống đa lớp phức tạp
- Đo lường tự động, chẳng hạn như trong kiểm soát chất lượng
Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!