FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
nhờ DPP+
4 cấp
6 cấp
¹ Cải thiện đáng kể độ lệch chuẩn và do đó đánh giá khả năng hoặc giảm đáng kể thời gian đo so với DPP với DPP+.
Phân tích huỳnh quang tia X đáp ứng nhu cầu cao nhất trên toàn cầu.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD là một trong những thiết bị quang phổ huỳnh quang tia X mạnh mẽ nhất trong danh mục sản phẩm của Fischer. Với dòng sản phẩm cao cấp này, bạn có thể nâng cao hiệu suất đo của mình lên một tầm cao: Kết hợp với bộ xử lý xung kỹ thuật số DPP+ được phát triển nội bộ, giờ đây có thể xử lý được tốc độ đếm cao hơn, giúp giảm thời gian đo hoặc độ lặp lại của kết quả đo được cải thiện.
Bền bỉ.
Thiết kế mạnh mẽ cho các yêu cầu đặc biệt cao
Tự động hóa hoàn toàn.
Hãy để thiết bị của bạn làm việc cho bạn chỉ bằng một cú nhấp chuột
Thiết kế đo nhanh.
Với một vài bước đơn giản, mẫu đã được đặt và sẵn sàng để đo. Có thể đo tự động nhiều bộ phận
Nhanh chóng.
Nhờ thời gian đo ngắn, bạn tiết kiệm được thời gian quý báu
Phân tích RoHS.
Xác định các chất ô nhiễm với độ chính xác phát hiện cao và hiệu suất vượt trội
Bộ xử lý xung kỹ thuật số DPP+.
Thời gian đo ngắn hơn hoặc cải thiện độ lệch chuẩn*
*so với DPP
Truyền, đánh giá và xuất dữ liệu đo lường theo thời gian thực bằng WinFTM®, phần mềm ứng dụng mạnh mẽ nhất trên thị trường.
Khẩu độ lên tới 3 mm: Cường độ cao nhất cho thời gian đo ngắn nhất ngay cả với những mẫu phức tạp.
Bảng đo có thể lập trình để đo tự động trên các kết cấu nhỏ.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD là một trong những thiết bị huỳnh quang tia X mạnh mẽ nhất trong danh mục sản phẩm của Fischer.
Đầu dò SDD có độ phân giải cao và hiệu suất cao cho phép bạn đo các lớp mỏng nhất một cách chính xác và không phá hủy.
Tính năng
Ống microfocus với cực dương vonfram
Đầu dò SDD 50 mm2 với diện tích hiệu dụng cực lớn 50 mm2
Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện với các phụ kiện tương ứng
Điểm đo xấp xỉ.: Ø 0,25 mm
Tốc độ đếm cao hơn và giảm đáng kể thời gian đo nhờ DPP+
Thiết bị bảo vệ toàn diện đã được chứng nhận
Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm
Khẩu độ có thể thay đổi 4 cấp và bộ lọc có thể thay đổi 6 cấp
Ví dụ ứng dụng
- Đo lớp phủ chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn, ví dụ như xác định độ dày của lớp phủ vàng xuống tới 2 nm
- Phân tích các lớp phủ mỏng và rất mỏng trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn, chẳng hạn như các lớp vàng/palađi ≤ 0,1 μm
- Xác định hệ thống đa lớp phức tạp
- Đo độ dày lớp phủ cho các ứng dụng quang điện, pin nhiên liệu và pin
- Phân tích dấu vết các chất độc hại như chì và cadmium theo RoHS, WEEE, CPSIA và các chỉ thị khác dành cho thiết bị điện tử, bao bì và sản phẩm tiêu dùng
- Phân tích và kiểm tra tính xác thực của vàng và các kim loại quý khác và hợp kim kim loại quý
- Xác định trực tiếp hàm lượng phốt pho trong các lớp NiP chức năng
- Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện
Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!
Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
Ghi chú ứng dụng
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBVideo sản phẩm
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceHướng dẫn
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Hội thảo trực tuyến
Setting up measurement equipment monitoringZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated bathsReport documentationTài liệu quảng cáo
Thông tin chi tiết của Fischer.
Khám phá nhiều sản phẩm hơn.
