FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®

Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng

 

Sự khởi đầu trong lĩnh vực đo lường tự động.

Thiết bị đa năng cho phép kiểm tra các linh kiện nhỏ và có cấu trúc nhỏ, đo kim loại nhẹ, lớp phủ cứng và các bộ phận mạ điện mỏng.

Điều chỉnh khoảng cách đo thông qua
phương pháp DCM được cấp bằng sáng chế
Thiết bị bảo vệ toàn diện
đã được chứng nhận
Đầu dò PC với cửa sổ đo
lớn nhất trên thị trường

Tự động hóa XRF cho người mới bắt đầu.

Được trang bị ống microfocus, nhiều khẩu độ và bộ lọc sơ cấp, dòng XDLM® là lựa chọn tốt nhất để kiểm tra nhiều bộ phận nhỏ liên tiếp. Các công cụ có mối quan hệ chặt chẽ với dòng XULM®, chỉ khác một điểm đáng kể: hướng đo từ trên xuống! Điều này có nghĩa là: phân tích thuận tiện các mẫu không đều cũng như khả năng đo tự động và do đó phù hợp cho đảm bảo chất lượng, kiểm tra hàng hóa đầu vào và giám sát sản xuất. Là một giải pháp đặc biệt cho PCB, thiết bị này có sẵn dưới dạng XDLM® PCB.

Đưa vào sử dụng.

Cực kỳ nhanh chóng và đơn giản

Tùy chỉnh.

Các mô hình khác nhau cung cấp giải pháp tối ưu cho ứng dụng của bạn

Kiểm tra nhiều điểm đo.

Ngay cả với các mẫu lớn, các điểm đo có thể được thực hiện trên toàn bộ bề mặt mẫu

Dành cho cả mẫu vật lớn.

Nắp chụp có khe C

Bền bỉ.

Thiết kế chắc chắn cho việc đo lường hàng loạt

Thiết kế đo nhanh.

Chỉ cần vài thao tác đơn giản là mẫu đã sẵn sàng để đo

  • Tính năng

      Ống microfocus

      Máy dò ống đếm tỷ lệ cho thời gian đo ngắn và điểm đo nhỏ

      Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm

      Khẩu độ có thể thay đổi 4 cấp

      Điểm đo nhỏ nhất khoảng.: Ø 0,1mm

      Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện với các phụ kiện tương ứng

      Bộ lọc có thể thay đổi 3 cấp

      Tùy chọn bàn đo khác nhau

      Thiết bị bảo vệ toàn diện đã được chứng nhận

  • Ví dụ ứng dụng

      • Lớp phủ mạ điện như kẽm trên sắt để chống ăn mòn
      • Thử nghiệm nối tiếp các bộ phận được sản xuất hàng loạt
      • Phân tích thành phần của thép đặc biệt, chẳng hạn như phát hiện molypden trong A4
      • Lớp phủ crom trang trí, ví dụ. Cr/Ni/Cu/ABS
      • Tất cả các lớp phủ crom điển hình - cũng như các lớp phủ mới như CrVI
      • Đo lớp phủ vàng chức năng trên PCB như Au/Ni/Cu/PCB hoặc Sn/Cu/PCB
      • Lớp phủ của các đầu nối và tiếp điểm trong ngành điện tử như Au/Ni/Cu và Sn/Ni/Cu
      • Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện

      Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!

Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237: Solution analysis of electrolytes – easy & fast
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237: Programmable, motor-driven XY-stage for automated measurements
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® tutorial part 1: Introduction, warm up and reference measurement
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® tutorial part 2: Standard free measurements, calibration and normalization
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® tutorial part 3: XY programming and pattern recognition
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Thông tin chi tiết của Fischer.

Phương pháp đo.

Tìm hiểu và khám phá cách hoạt động của phân tích huỳnh quang tia X.

Tìm hiểu thêm
Dịch vụ.

Chúng tôi cung cấp mọi thứ bạn cần để có kết quả đo đáng tin cậy.

Tìm hiểu thêm
Tại sao lại là Fischer.

Trải nghiệm nhiều lý do tuyệt vời để lựa chọn chúng tôi như một công ty.

Tìm hiểu thêm

Khám phá nhiều sản phẩm hơn.