FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
phương pháp DCM được cấp bằng sáng chế
đã được chứng nhận
lớn nhất trên thị trường
Tự động hóa XRF cho người mới bắt đầu.
Các thiết bị thuộc dòng FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® được thiết kế chuyên dụng cho các phép đo đảm bảo chất lượng, kiểm tra đầu vào và giám sát sản xuất. Chúng có liên quan chặt chẽ vớiDòng XULM®, với một sự khác biệt đáng kể: hướng đo từ trên xuống! Điều này có nghĩa là bạn có thể phân tích thuận tiện các mẫu không đồng đều cũng như khả năng đo tự động.
Đo mẫu lớn.
Nắp máy với khe C
Bền bỉ
Thiết kế mạnh mẽ để đo lường trên các bộ phận được sản xuất hàng loạt
Kiểm tra nhiều điểm đo.
Ngay cả với các mẫu lớn, các điểm đo có thể được thực hiện trên toàn bộ bề mặt mẫu
Đưa vào sử dụng.
Cực kỳ nhanh chóng và đơn giản
Tùy chỉnh.
Các mô hình khác nhau cung cấp giải pháp tối ưu cho ứng dụng của bạn
Thiết kế đo nhanh.
Mẫu được đặt và sẵn sàng để đo chỉ trong vài bước
Được trang bị WinFTM®, phần mềm mạnh mẽ nhất trên thị trường để đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu bằng phân tích huỳnh quang tia X.
Ngoài ra, nắp máy với khe C cho phép đo các mẫu lớn và phẳng.
Từ giá đỡ mẫu phẳng đến bàn XY có thể lập trình: Dòng XDL® đáp ứng ngoài mong đợi.
Trên các mẫu có bàn XY, con trỏ laser đóng vai trò hỗ trợ định vị, hỗ trợ căn chỉnh nhanh mẫu cần đo.
Kính hiển vi video tích hợp với chức năng thu phóng và đường chỉ tâm giúp căn chỉnh mẫu nhanh chóng và xác định chính xác điểm đo cực kỳ dễ dàng.
Tính năng
Ống phát tia X tiêu chuẩn
khẩu độ: cố định
Bộ lọc chính: cố định
Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm
Điểm đo nhỏ nhất khoảng.: Ø 0,2 mm
Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện với các phụ kiện tương ứng
Thiết bị bảo vệ toàn diện đã được chứng nhận
Máy dò ống đếm tỷ lệ cho thời gian đo ngắn
Ví dụ ứng dụng
- Lớp phủ mạ điện như kẽm trên sắt để chống ăn mòn
- Thử nghiệm nối tiếp các bộ phận được sản xuất hàng loạt
- Lớp phủ crom trang trí, ví dụ. Cr/Ni/Cu/ABS
- Tất cả các lớp phủ crom điển hình như Cr(VI) và các lớp phủ mới như Cr(III)
- Đo lớp phủ vàng chức năng trên PCB như Au/Ni/Cu/PCB
- Lớp phủ của các đầu nối và tiếp điểm trong ngành điện tử như Au/Ni/Cu và Sn/Ni/Cu
- Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện
Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!
Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
Ghi chú ứng dụng
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MBVideo sản phẩm
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: IntroductionHướng dẫn
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: With DCM: Easy measurement of complex shaped samplesHội thảo trực tuyến
Setting up measurement equipment monitoringZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated bathsReport documentationTài liệu quảng cáo
Thông tin chi tiết của Fischer.
Khám phá nhiều sản phẩm hơn.
