FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng

 

Xác định lớp màng mỏng, nguyên tố vi lượng và hợp kim.

Thiết bị đa năng cho phép đo trên các cấu trúc nhỏ nhất, lớp phủ đa lớp cực mỏng, lớp phủ chức năng và lớp phủ mỏng ≤ 0,1 µm.

Tính khả dụng tùy thuộc vào khu vực và quốc gia.

Hiệu suất ¹ được cải thiện lên đến
50% nhờ DPP+
Bàn điều chỉnh mẫu
thủ công để định vị mẫu nhanh chóng và dễ dàng
Điều chỉnh khoảng cách đo thông qua
phương pháp DCM được cấp bằng sáng chế
¹ Hiển thị thêm
Ẩn bớt

¹ Độ lệch chuẩn tốt hơn đáng kể và do đó khả năng đo lường hoặc thời gian đo giảm đáng kể so với DPP với DPP+.

 

Phân tích huỳnh quang tia X phổ quát cho các lớp rất mỏng.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 là máy phân tích XRF phổ quát của Fischer để xác định các lớp mỏng, nguyên tố vi lượng và hợp kim. Với phép đo từ trên xuống, mẫu được đặt đơn giản trên bàn cắt vận hành bằng tay. Con trỏ laser đóng vai trò hỗ trợ định vị. Điều này có nghĩa là ngay cả những mẫu có hình dạng phức tạp cũng có thể được phân tích một cách chính xác và dễ dàng.

Linh hoạt.

Lý tưởng cho ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn

Phân tích RoHS.

Xác định đáng tin cậy các chất độc hại

Thiết kế đo nhanh.

Mẫu được đặt và sẵn sàng để đo chỉ trong vài bước

Cân đối.

Tỷ lệ chi phí-lợi ích tối ưu

Bộ xử lý xung kỹ thuật số DPP+.

Thời gian đo ngắn hơn hoặc cải thiện độ lệch chuẩn*

*so với DPP

  • Tính năng

      Đầu dò SDD với diện tích hiệu dụng cực lớn 20 mm2

      Khẩu độ có thể thay đổi 4 lần và bộ lọc có thể thay đổi 3 lần

      Tốc độ đếm cao hơn và giảm đáng kể thời gian đo nhờ DPP+

      Ống microfocus với cực dương vonfram

      Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm

      Điểm đo xấp xỉ.: Ø 0,15 mm

  • Ví dụ ứng dụng

      • Phân tích lớp phủ mỏng và rất mỏng ≤ 0,1 µm
      • Đo lớp phủ chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn, chẳng hạn như trên khung chì, tiếp điểm phích cắm hoặc PCB
      • Xác định hệ thống đa lớp phức tạp
      • Xác định hàm lượng chì trong vật liệu hàn
      • Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP

      Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!

Ghi chú ứng dụng
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

Thông tin chi tiết của Fischer.

Phương pháp đo.

Tìm hiểu và khám phá cách hoạt động của phân tích huỳnh quang tia X.

Tìm hiểu thêm
Dịch vụ.

Chúng tôi cung cấp mọi thứ bạn cần để có kết quả đo đáng tin cậy.

Tìm hiểu thêm
Tại sao lại là Fischer.

Trải nghiệm nhiều lý do tuyệt vời để lựa chọn chúng tôi như một công ty.

Tìm hiểu thêm

Khám phá nhiều sản phẩm hơn.