FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
phương pháp DCM được cấp bằng sáng chế
đã được chứng nhận
tự động hóa
Phân tích huỳnh quang tia X cho nhu cầu cao hơn.
Mỏng, mỏng hơn, XDAL®: Nhờ ống vi tiêu điểm và các đầu dò bán dẫn khác nhau, dòng FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® lý tưởng cho các ứng dụng trong lĩnh vực lớp phủ mỏng và rất mỏng <0,05 μm cũng như phân tích vật liệu trong phạm vi ppm. Phiên bản thiết bị có đầu dò trôi silicon 50 mm2 càng phù hợp hơn nữa để đo RoHS. Linh hoạt và nhờ có nhiều tùy chọn cấu hình khác nhau (bàn, khẩu độ, bộ lọc và đầu dò), XDAL® phổ quát đo lường một cách đáng tin cậy, chính xác và đảm bảo an toàn 100%.
Đưa vào sử dụng.
Cực kỳ nhanh chóng và đơn giản
Một thiết bị, nhiều tính năng.
Đo độ dày lớp phủ, phân tích vật liệu và phân tích dấu vết
Kiểm tra nhiều điểm đo.
Ngay cả với các mẫu lớn, các điểm đo có thể được thực hiện trên toàn bộ bề mặt mẫu
Dành cho mẫu vật lớn.
Nắp máy khe chữ C
Hoàn toàn tự động.
Hãy để thiết bị làm việc cho bạn chỉ bằng một cú nhấp chuột
Thiết kế nhỏ gọn.
Sự cân bằng rất tốt giữa hiệu suất và yêu cầu về không gian
Truyền, đánh giá và xuất dữ liệu đo lường theo thời gian thực bằng WinFTM®, phần mềm ứng dụng mạnh mẽ nhất trên thị trường.
Giảm thiểu rủi ro trong việc kiểm tra hàng hóa đầu vào: loại bỏ các mẻ hàn khác nhau nhờ bàn đo có thể lập trình và máy dò bán dẫn.
Không thể tiện lợi hơn: Đo khoảng cách liên tục với phép đo từ phía trên và hiệu chuẩn tại nơi làm việc.
Tính năng
Ống microfocus với cực dương vonfram
Điểm đo xấp xỉ.: Ø 0,15 mm
Đầu dò Silicon PIN và SDD cho độ chính xác phát hiện tốt và độ phân giải cao
Bộ lọc có thể thay đổi 3 cấp
Thiết bị bảo vệ toàn diện đã được chứng nhận
Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện với các phụ kiện tương ứng
Khẩu độ có thể thay đổi 4 cấp
Chiều cao mẫu có thể lên tới 140 mm
Tùy chọn bàn đo khác nhau
Ví dụ ứng dụng
- Phân tích lớp phủ mỏng và rất mỏng ≤ 0,05 μm
- Đo lớp phủ chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn, chẳng hạn như trên khung chì, tiếp điểm phích cắm hoặc PCB
- Xác định hệ thống đa lớp phức tạp
- Các phép đo tự động, chẳng hạn như trong kiểm soát chất lượng
- Xác định hàm lượng chì trong vật liệu hàn
- Với phiên bản SDD (20 mm2 hoặc 50 mm2):
- Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp NiP
- Đáp ứng yêu cầu ENIG/ENEPIG
Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!
Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
Bài viết kỹ thuật
Ghi chú ứng dụng
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBVideo sản phẩm
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: IntroductionHướng dẫn
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Hội thảo trực tuyến
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationTài liệu quảng cáo
Bài viết kỹ thuật
Thông tin chi tiết của Fischer.
Khám phá nhiều sản phẩm hơn.
