FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

Lorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei Ipsum

Sản phẩm có thể thay đổi dựa trên mẫu mã hoặc tính năng

 

Thiết bị đáp ứng đa dạng yêu cầu đo lường

Thiết bị đa năng để phân tích hợp kim và thành phần kim loại quý cũng như đo độ dày lớp phủ trên các mẫu có hình dạng đơn giản và sàng lọc RoHS.

Tùy chọn bàn đo:
cố định hoặc thủ công
Phân tích RoHS:
Xác định đáng tin cậy các chất độc hại
Khả năng thu phóng hình ảnh video để dễ dàng
xác định vị trí điểm đo tối ưu

Thiết bị XRF phù hợp cho mọi ứng dụng.

Với đầu dò tín hiệu dạng PIN hay đầu dò SDD, hỗ trợ mẫu cố định hay bàn đo trục XY vận hành thủ công: FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® cung cấp các ứng dụng linh hoạt và phù hợp với nhu cầu của bạn. Điều này cho phép phân tích chính xác vật liệu kim loại quý và hợp kim vàng, đo độ dày lớp phủ hoặc truy vết tôn dư các nguyên tố độc hại. Phiên bản thiết bị có đầu dò SDD kích thước 50 mm² ưu việt cho ứng dụng phân tích RoHS.

Đa năng.

Dành cho các ứng dụng với mục đích đo lường thương mại, sản xuất công nghiệp và trong phòng thí nghiệm

Thiết kế thao tác nhanh chóng.

Mẫu được đặt và sẵn sàng để đo chỉ trong vài bước

Vận hành.

Cực kỳ nhanh chóng và đơn giản

Phân tích truy vết theo tiêu chuẩn RoHS.

Xác định một cách đáng tin cậy tồn dư các chất độc hại

Công nghệ xử lý tín hiệu kỹ thuật số DPP+ digital pulse processor*.

Thời gian đo thậm chí còn ngắn hơn với cùng độ lệch chuẩn**

*không trang bị cùng model FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
**so với công nghệ DPP

  • Tính năng

      Ống phát tia X dạng Microfocus với cực dương bằng vật liệu Vonfram

      Máy dò tín hiệu dạng PIN silicon và SDD cung cấp độ chính xác tối đa và độ phân giải cao

      Tín hiệu bức xạ tia X cao hơn và giảm đáng kể thời gian đo nhờ công nghệ xử lý kỷ thuật số DPP+

      Nắp thiết bị lớn hơn: Chiều cao mẫu đo có thể từ 90 đến 170 mm, tùy thuộc vào model thiết bị

      Khẩu độ (kích thước điểm đo): cố định hoặc có thể thay đổi 4 loại khác nhau*
      Bộ lọc tín hiệu : cố định hoặc có thể thay đổi 6 loại khác nhau*
      *tùy thuộc vào thiết bị

      Thiết bị đáp ứng quy định an toàn nghiêm ngặt

      Điểm đo nhỏ nhất khoảng.: Ø 0,3 mm

      Xác định hàm lượng kim loại trong dung dịch xi mạ với các phụ kiện tương ứng

  • Ví dụ ứng dụng

      • Phân tích không phá hủy các hợp kim phức tạp
      • Đo độ dày cấu trúc nhiều lớp mạ
      • Phân tích các lớp mạ chức năng từ 10 nm trong ngành điện tử và bán dẫn
      • Phân tích dấu vết tồn dư chất độc hại để bảo vệ người tiêu dùng, chẳng hạn như hàm lượng chì trong đồ chơi trẻ em
      • Xác định hợp kim kim loại với yêu cầu độ chính xác cao nhất trong ngành trang sức và chế tác nữ trang

      Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!

Ghi chú ứng dụng
Video sản phẩm
Hướng dẫn
Hội thảo trực tuyến
Tài liệu quảng cáo
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Thông tin chi tiết của Fischer.

Phương pháp đo.

Tìm hiểu và khám phá cách hoạt động của phân tích huỳnh quang tia X.

Tìm hiểu thêm
Dịch vụ.

Chúng tôi cung cấp mọi thứ bạn cần để có kết quả đo đáng tin cậy.

Tìm hiểu thêm
Tại sao lại là Fischer.

Trải nghiệm nhiều lý do tuyệt vời để lựa chọn chúng tôi như một công ty.

Tìm hiểu thêm

Khám phá nhiều sản phẩm hơn.