Yarı İletkenler

Ultra ince çok katmanlı ve mikro yapıların yüksek hassasiyetli kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizi
Yarı iletken üretiminde en yüksek kalite kontrol standartlarını korurken ultra ince, karmaşık çok katmanlı sistemleri ve mikro yapıları nasıl güvenilir bir şekilde ölçebilir ve analiz edebilirsiniz?
XRF cihazlarımızla, silikon ve bileşik yarı iletkenlerinizin hassas kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizi için size yüksek performanslı çözümler sunuyoruz. İster tam otomatik bir sisteme ister kompakt bir tezgah üstü cihaza ihtiyacınız olsun, size doğru ölçüm çözümünü sunuyoruz - elektronik uygulamalar için de!
En iyisini talep edin. FISCHER'a güvenin.
ölçüm performansı
Çözümler - ihtiyaçlarınıza göre uyarlanmış
- sezgisel, verimli, güçlü
minimum spot boyutları
FISCHER müşteri hizmetleri
orijinal FISCHER parçaları ile
Uygulamalar
Ölçüm teknolojimiz, yarı iletken ve elektronik endüstrisindeki sayısız müşteri tarafından dünya çapında güvenilmektedir. Güvenilirlik, verimlilik ve hepsinden önemlisi pazar lideri ölçüm performansı cihazlarımızı vazgeçilmez kılmaktadır. Wafer paketleme ve gelişmiş paketlemeden yüksek güçlü yarı iletkenlere ve elektronik uygulam alara kadar çözümlerimizin gerçek, ölçülebilir faydalar sağladığı geniş uygulama yelpazesini keşfedin.

Kurşun çerçeveler
Temel paketleme süreçlerinin temel bileşenleri olan kurşun çerçeveler, kalıp ile bir muhafazanın dış bağlantıları arasında mekanik bir destek ve elektrik bağlantısı görevi görür. Genellikle karmaşık çoklu katmanlarla kaplanırlar. Bunlar tipik olarak nanometre aralığında kalınlığa sahip altın ve paladyum katmanları içerirken, nikel katmanı genellikle birkaç mikrometre kalınlığındadır. Ölçümleri son derece hataya açık hale getiren ve kalite kontrolünü zorlaştıran, bu kurşun taşıyıcının telkari yapısıdır. Bu zorluğun üstesinden bizimle birlikte nasıl gelebileceğinizi öğrenin!
FISCHER ile çözün!
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ gibi polikapiler XRF cihazlarımız, kurşun çerçevelerin ayrı uçlarındaki kaplama kalınlığını ölçmek için mükemmel şekilde uygundur.
Ana uygulamalar: Au/Pd/NiP/CuFe ve diğer yaygın çoklu katmanların kaplama kalınlığı ölçümü
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!Uygulama Notları ve Eğitim Notları:

Landing padler
Yarı iletken paketleme teknolojilerinde, bir çip üzerinde temel temas noktaları olarak hizmet ederler, örneğin tel yapıştırma sırasında telleri bağlamak veya flip chip paketleme sırasında lehim tümsekleri. İniş pedleri alüminyum, bakır veya nikel gibi metallerden yapıldığından, korozyonu ve metal difüzyonunu önlemek için genellikle koruyucu veya pasivasyon kaplamaları ile sağlanırlar. Hızlı ve güvenilir bir ölçüm çözümü mü arıyorsunuz?
FISCHER ile çözün!
Yenilikçi FISCHERSCOPE® XDV® ve kendini kanıtlamış uzman cihazımız FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, iniş pistlerinin güvenilir kalite denetimi için özellikle iyi bir şekilde kurulmuştur. Elbette, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ veya FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER gibi diğer XRF cihazlarımız da bu uygulama için mükemmel şekilde uygundur.
Ana uygulamalar: Au/Pd/NiP/Cu/wafer substratının kaplama kalınlığı ölçümü, malzeme analizi
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!

BGA'lar
Bilyalı ızgara dizileri (BGA'lar), PCB'lere montaj için kullanılan entegre devreler (IC'ler) ve mikroişlemciler için bir muhafaza türüdür. Muhafazanın altında mikroskobik bir lehim topu matrisi olarak düzenlenmiş yüksek yoğunlukta bağlantılar sunarlar. Gelişmiş ölçüm çözümlerimizin BGA testlerini nasıl hızlı ve güvenilir hale getirdiğini keşfedin!
FISCHER ile çözün!
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ ile yüksek hassasiyetli kalite kontrolünün gerçekte ne anlama geldiğini keşfedin! BGA alaşımlarınızın malzeme bileşimini - kurşunsuz durumlarının doğrulanması da dahil olmak üzere - hızlı, doğru ve güvenilir bir şekilde analiz edin.
Ana uygulamalar: SnPb, SnAgCu malzeme analizi
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!Uygulama Notları ve Eğitim Notları:

UBM
Yüksek kaliteli tümsek altı metalizasyonu (UBM), flip chip bağlantılarının performansı ve güvenilirliği için çok önemlidir. İşlemin ilerleyen aşamalarında daha iyi lehimlenebilirlik ve lehim tümseklerinin yapışmasını sağlamak için genellikle metal pedlere uygulanır. Ayrıca UBM, metal difüzyonuna karşı bir bariyer tabakası oluşturur ve böylece çip ile paket arasındaki bağlantıyı iyileştirir. Çözümlerimizin UBM ölçümünüzde sizi nasıl desteklediğini keşfetmeye hazır mısınız?
FISCHER ile çözün!
UBM gibi son derece ince ve karmaşık çok katmanlı sistemlerin güvenilir ölçümü için, yarı otomatik tezgah üstü cihazlarımız FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ ve FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER'ın yanı sıra tam otomatik üst düzey sistemimiz FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI'yi sunuyoruz. XRF cihazlarımızla en dar toleranslara uyabilir ve elektronik cihazların en yüksek performansını sağlayabilirsiniz.
Ana uygulamalar: Au/Ni/Ti/metal ped/wafer substrat, Au/Ni/Cu/Ti/metal ped/wafer substrat, Pd/Ni/Cu/metal ped/wafer substrat kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizi
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!

Lehim çıkıntıları
Flip chip veya wafer-level, 2.5D ve 3D paketleme teknolojileri gibi gelişmiş paketleme süreçlerinde, çipleri alt tabakaya veya bir alt tabaka üzerindeki gofretlere (CoWoS) bağlamak için lehim tümsekleri, bakır sütun tümsekleri ve altın tümsekler kullanılır. Uygun işlevsellik ve maliyet nedenleriyle, farklı türdeki tümseklerin tam malzeme bileşimi - özellikle SnAg konsantrasyonu - ve kaplama kalınlığı önemli bir rol oynamaktadır. Bu zorluk için ölçüm çözümlerimizi keşfedin!
FISCHER ile çözün!
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER ve FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI gibi üst düzey XRF cihazlarımızla, tümseklerinizin malzeme bileşimini, yüksekliğini ve kaplama kalınlığını hassas bir şekilde ölçersiniz.
Ana uygulamalar: %1 ile %3 arasında Ag içeren Sn/Ag veya SnAg/Cu gibi bileşimlere sahip lehim ve bakır sütun tümseklerinin malzeme analizi ve tümsek yüksekliğinin ölçümü, Au/Ni/Cu/UBM/metal ped/wafer substratı gibi altın tümseklerin kaplama kalınlığı ölçümü
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!Uygulama Notları ve Eğitim Notları:

RDL'ler
Yeniden dağıtım katmanları (RDL'ler), özellikle Wafer-Level Chip Scale Packaging (WLCSP) gibi gelişmiş teknolojilerde wafer-level packaging'in (WLP) kritik bileşenleridir. Bir çipin bağlantı konumlarını farklı ambalaj tasarımları için standartlaştırılmış bir düzene uyacak şekilde yeniden dağıtmak için kullanılırlar. RDL'lerdeki iletken hatlar çoğunlukla bakırdan yapıldığından, yalıtım malzemelerine bakır difüzyonunu önlemek ve daha iyi yapışma elde etmek için ince titanyum, krom veya nikel katmanları da uygulanır. Ölçüm çözümlerimizin size nasıl yardımcı olduğunu öğrenmek ister misiniz?
FISCHER ile çözün!
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE®X-RAYXDV®-µWAFER veya FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI cihazlarımızı kullanarak RDL'lerinizi yüksek hassasiyet ve güvenilirlikle ölçün.
Ana uygulamalar: RDL'lerin malzeme analizi ve kaplama kalınlığı ölçümü, örneğin Ti/Cu
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!

Arka yüz metalizasyonu
Arka yüz metalizasyonu, MEMS sensörleri gibi yüksek güçlü yarı iletken ve sensör üretiminde önemli bir işlem adımıdır. Katmanları ve bunların kombinasyon sırasını dikkatlice seçerek, arka yüz metalizasyonu elektriksel, mekanik ve termal özellikler açısından ilgili yarı iletken bileşenin özel gereksinimlerine en uygun şekilde eşleştirilebilir. Arka yüz metalizasyonlarınızı test etmek için bir ölçüm çözümü mü arıyorsunuz?
FISCHER ile çözün!
Yenilikçi tezgah üstü halefimiz FISCHERSCOPE® XDV® veya kanıtlanmış uzmanımız FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ile, arka taraf metalizasyonlarınızın kalınlığını ve bileşimini hassas bir şekilde ölçebilir ve kaplama işleminizin kalitesini garanti edebilirsiniz. Ölçüm görevinize mükemmel şekilde uyan ve ihtiyaçlarınıza göre uyarlanmış, örneğin daha kalın metal katmanları ölçmek için gofret aynalarımız gibi özelleştirilmiş çözümler de sunuyoruz.
Ana uygulamalar: Ag/Ni/Ti/Al/wafer substrat gibi yaygın çok katmanlı sistemlerin kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizi
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!

Yaylı kontaklar / Pogo pimleri
Pogo pimleri veya yaylı pimler, prob kartları kullanılarak gofret testi için gofretler üzerine yerleştirilen elektriksel bağlantı mekanizmalarıdır. Bu şekilde, bir yonga plakası üzerindeki münferit kalıpların elektriksel özellikleri, çipler halinde kesilmeden önce test edilir. Bu test sürecinde kesinlikle güvenilir sonuçlar elde etmek için, pogo pinlerin fonksiyonel kaplamalarının yüksek kalitede olması gerekir. İşte bu noktada XRF cihazlarımız devreye giriyor. Gelişmiş ölçüm çözümlerimizin pogo pinleri test etmeyi nasıl kolay ve hassas hale getirdiğini keşfedin!
FISCHER ile çözün!
Pogo pimlerinizi FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ veya karmaşık şekilli yay kontakları için FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD ile ölçün.
Ana uygulamalar: Kaplama kalınlığı ölçümü, örneğin Au/Ni/Cu alaşımı
Yarı iletkenler için broşürümüzü indirin!
Ürün danışmanlığı talep edin!
İletişime geçin
Size memnuniyetle yardımcı olacağız. İletişim bilgilerinizi bırakın, size geri dönelim.
Zorluklarınız için çözümlerimiz

Ana uygulamalar
Arka taraf metalizasyonu, iniş pedleri, mikro pedler, RoHS taraması
Karşılaştığınız zorluklar
- Birçok farklı alaşımın ve karmaşık çoklu katmanların ölçülmesi
- Küçük ve büyük ölçekli örneklerin ölçülmesi
- Çok düşük tespit limitlerinde eser element analizleri
Öne çıkan ürünlerimiz
- Evrensel kullanım için 3 mm'ye kadar çeşitli kolimatör boyutları ve filtreler
- Optimize edilmiş bileşenler ve ölçüm geometrisi sayesinde en yüksek hassasiyet ve kısa ölçüm
- Otomatik ölçümler için programlanabilir ölçüm masası
- Verimli iş akışları ile pazar lideri yazılım

Ana uygulamalar
Kurşun çerçeveler, ince teller, lehim tümsekleri, mikro pedler, SMD bileşenleri, pogo pimleri, BGA'lar, UBM'ler, RDL'ler
Karşılaştığınız zorluklar
- Mikroyapılar üzerinde ölçüm
- Düz numunelerin ve ultra ince çok katmanların ölçülmesi
Öne çıkan ürünlerimiz
- En küçük ölçüm noktaları ve en yüksek hassasiyet için çeşitli filtre, dedektör ve polikapiler optik seçenekleri
- Düz, büyük ölçekli numunelerin kolay taşınması için C yuvalı muhafaza
- Zorlu ölçüm görevleri için pazar lideri yazılım

Ana uygulamalar
Montajlı PCB'ler, konektörler, pogo pimleri
Karşılaştığınız zorluklar
- Farklı numune boyutları ve karmaşık şekillerle başa çıkma
- Üzerinde düzenekler bulunan veya farklı seviyelerdeki numunelerin ölçülmesi
- Mikroyapılar üzerinde ölçüm
- Ultra ince çok katmanların ölçülmesi
Öne çıkan ürünlerimiz
- Geniş ölçüm mesafesine sahip benzersiz 35 µm polikapiler optiğimiz sayesinde karmaşık şekilli numunelerdeki en küçük özellikleri ölçün, örneğin potansiyel çarpıklığı olan wafer'lar için
- Düz, büyük ölçekli numunelerin kolay taşınması için C yuvalı muhafaza
- Zorlu ölçüm görevleri için pazar lideri yazılım

Ana uygulamalar
Lehim tümsekleri, bakır sütun tümsekleri, altın tümsekler, küçük temas yüzeyleri, mikro pedler, UBM'ler, RDL'ler
Karşılaştığınız zorluklar
- 6'' ila 12'' çaplı waferlar üzerinde ince filmlerin ve mikro yapıların ölçülmesi
- Potansiyel çarpıklığı olan wafer'larla başa çıkma
- Temiz oda gereksinimlerini karşılama
Öne çıkan ürünlerimiz
- İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için çeşitli dedektör ve polikapiler optik seçenekleri
- Vakumlu gofret aynası veya mekanik düzleştirme ile özelleştirilmiş gofret taşıma
- Pazar lideri yazılım ile kapsamlı otomasyon seçenekleri

Ana uygulamalar
Lehim tümsekleri, bakır sütun tümsekleri, altın tümsekler, küçük temas yüzeyleri, mikro pedler, UBM'ler, RDL'ler
Karşılaştığınız zorluklar
- Gofret ölçüm sürecinizin otomasyonu
- Yüksek iş hacmini yönetme
- Potansiyel çarpıklığı olan wafer'larla başa çıkma
- Temiz oda gereksinimlerini karşılama
Öne çıkan ürünlerimiz
- Entegre FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER ve otomatik gofret işleme sistemi ile tam otomatik ölçüm sistemi
- İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için çeşitli dedektör ve polikapiler optik seçenekleri
- Verimliliğinizi artırmak için pazar lideri yazılım
Ölçüm göreviniz için doğru çözüm.
Talep üzerine tam veya yarı otomatik özelleştirilmiş sistem yapısı. Uygulamanıza özel olarak, gofretlerin mekanik düzleştirilmesi gibi ek işlem adımları uyguluyoruz. Yerel entegrasyon ortaklarıyla birlikte çalışarak uzun teslim sürelerinden kaçınıyoruz.
XRF dışında başka ölçüm yöntemleri de sunuyoruz. Daha fazla bilgi için lütfen doğrudan bizimle iletişime geçin.