En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

Yarı İletkenler

Ultra ince çok katmanlı ve mikro yapıların yüksek hassasiyetli kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizi

Yarı iletken üretiminde en yüksek kalite kontrol standartlarını korurken ultra ince, karmaşık çok katmanlı sistemleri ve mikro yapıları nasıl güvenilir bir şekilde ölçebilir ve analiz edebilirsiniz?

XRF cihazlarımızla, silikon ve bileşik yarı iletkenlerinizin hassas kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizi için size yüksek performanslı çözümler sunuyoruz. İster tam otomatik bir sisteme ister kompakt bir tezgah üstü cihaza ihtiyacınız olsun, size doğru ölçüm çözümünü sunuyoruz - elektronik uygulamalar için de!

En iyisini talep edin. FISCHER'a güvenin.

Pazar lideri içinde
ölçüm performansı
Tam ve kısmi otomatik
Çözümler - ihtiyaçlarınıza göre uyarlanmış
Sınıfının en iyisi yazılım
- sezgisel, verimli, güçlü
Polikapiller optikler için
minimum spot boyutları
Mükemmel
FISCHER müşteri hizmetleri
Güvenilir yedek parça tedariği
orijinal FISCHER parçaları ile

Uygulamalar

Ölçüm teknolojimiz, yarı iletken ve elektronik endüstrisindeki sayısız müşteri tarafından dünya çapında güvenilmektedir. Güvenilirlik, verimlilik ve hepsinden önemlisi pazar lideri ölçüm performansı cihazlarımızı vazgeçilmez kılmaktadır. Wafer paketleme ve gelişmiş paketlemeden yüksek güçlü yarı iletkenlere ve elektronik uygulam alara kadar çözümlerimizin gerçek, ölçülebilir faydalar sağladığı geniş uygulama yelpazesini keşfedin.

Kurşun çerçeveler

Temel paketleme süreçlerinin temel bileşenleri olan kurşun çerçeveler, kalıp ile bir muhafazanın dış bağlantıları arasında mekanik bir destek ve elektrik bağlantısı görevi görür. Genellikle karmaşık çoklu katmanlarla kaplanırlar. Bunlar tipik olarak nanometre aralığında kalınlığa sahip altın ve paladyum katmanları içerirken, nikel katmanı genellikle birkaç mikrometre kalınlığındadır. Ölçümleri son derece hataya açık hale getiren ve kalite kontrolünü zorlaştıran, bu kurşun taşıyıcının telkari yapısıdır. Bu zorluğun üstesinden bizimle birlikte nasıl gelebileceğinizi öğrenin!

Landing padler

Yarı iletken paketleme teknolojilerinde, bir çip üzerinde temel temas noktaları olarak hizmet ederler, örneğin tel yapıştırma sırasında telleri bağlamak veya flip chip paketleme sırasında lehim tümsekleri. İniş pedleri alüminyum, bakır veya nikel gibi metallerden yapıldığından, korozyonu ve metal difüzyonunu önlemek için genellikle koruyucu veya pasivasyon kaplamaları ile sağlanırlar. Hızlı ve güvenilir bir ölçüm çözümü mü arıyorsunuz?

BGA'lar

Bilyalı ızgara dizileri (BGA'lar), PCB'lere montaj için kullanılan entegre devreler (IC'ler) ve mikroişlemciler için bir muhafaza türüdür. Muhafazanın altında mikroskobik bir lehim topu matrisi olarak düzenlenmiş yüksek yoğunlukta bağlantılar sunarlar. Gelişmiş ölçüm çözümlerimizin BGA testlerini nasıl hızlı ve güvenilir hale getirdiğini keşfedin!

UBM

Yüksek kaliteli tümsek altı metalizasyonu (UBM), flip chip bağlantılarının performansı ve güvenilirliği için çok önemlidir. İşlemin ilerleyen aşamalarında daha iyi lehimlenebilirlik ve lehim tümseklerinin yapışmasını sağlamak için genellikle metal pedlere uygulanır. Ayrıca UBM, metal difüzyonuna karşı bir bariyer tabakası oluşturur ve böylece çip ile paket arasındaki bağlantıyı iyileştirir. Çözümlerimizin UBM ölçümünüzde sizi nasıl desteklediğini keşfetmeye hazır mısınız?

Lehim çıkıntıları

Flip chip veya wafer-level, 2.5D ve 3D paketleme teknolojileri gibi gelişmiş paketleme süreçlerinde, çipleri alt tabakaya veya bir alt tabaka üzerindeki gofretlere (CoWoS) bağlamak için lehim tümsekleri, bakır sütun tümsekleri ve altın tümsekler kullanılır. Uygun işlevsellik ve maliyet nedenleriyle, farklı türdeki tümseklerin tam malzeme bileşimi - özellikle SnAg konsantrasyonu - ve kaplama kalınlığı önemli bir rol oynamaktadır. Bu zorluk için ölçüm çözümlerimizi keşfedin!

RDL'ler

Yeniden dağıtım katmanları (RDL'ler), özellikle Wafer-Level Chip Scale Packaging (WLCSP) gibi gelişmiş teknolojilerde wafer-level packaging'in (WLP) kritik bileşenleridir. Bir çipin bağlantı konumlarını farklı ambalaj tasarımları için standartlaştırılmış bir düzene uyacak şekilde yeniden dağıtmak için kullanılırlar. RDL'lerdeki iletken hatlar çoğunlukla bakırdan yapıldığından, yalıtım malzemelerine bakır difüzyonunu önlemek ve daha iyi yapışma elde etmek için ince titanyum, krom veya nikel katmanları da uygulanır. Ölçüm çözümlerimizin size nasıl yardımcı olduğunu öğrenmek ister misiniz?

Arka yüz metalizasyonu

Arka yüz metalizasyonu, MEMS sensörleri gibi yüksek güçlü yarı iletken ve sensör üretiminde önemli bir işlem adımıdır. Katmanları ve bunların kombinasyon sırasını dikkatlice seçerek, arka yüz metalizasyonu elektriksel, mekanik ve termal özellikler açısından ilgili yarı iletken bileşenin özel gereksinimlerine en uygun şekilde eşleştirilebilir. Arka yüz metalizasyonlarınızı test etmek için bir ölçüm çözümü mü arıyorsunuz?

Yaylı kontaklar / Pogo pimleri

Pogo pimleri veya yaylı pimler, prob kartları kullanılarak gofret testi için gofretler üzerine yerleştirilen elektriksel bağlantı mekanizmalarıdır. Bu şekilde, bir yonga plakası üzerindeki münferit kalıpların elektriksel özellikleri, çipler halinde kesilmeden önce test edilir. Bu test sürecinde kesinlikle güvenilir sonuçlar elde etmek için, pogo pinlerin fonksiyonel kaplamalarının yüksek kalitede olması gerekir. İşte bu noktada XRF cihazlarımız devreye giriyor. Gelişmiş ölçüm çözümlerimizin pogo pinleri test etmeyi nasıl kolay ve hassas hale getirdiğini keşfedin!

İletişime geçin

Size memnuniyetle yardımcı olacağız. İletişim bilgilerinizi bırakın, size geri dönelim.

 

0 / 2000
Captcha image
Field to save user journey on the website, can be hidden input but textarea can hold more text.
Daha fazla yükle

Zorluklarınız için çözümlerimiz

Ana uygulamalar

Arka taraf metalizasyonu, iniş pedleri, mikro pedler, RoHS taraması

Karşılaştığınız zorluklar

  • Birçok farklı alaşımın ve karmaşık çoklu katmanların ölçülmesi
  • Küçük ve büyük ölçekli örneklerin ölçülmesi
  • Çok düşük tespit limitlerinde eser element analizleri

Öne çıkan ürünlerimiz

  • Evrensel kullanım için 3 mm'ye kadar çeşitli kolimatör boyutları ve filtreler
  • Optimize edilmiş bileşenler ve ölçüm geometrisi sayesinde en yüksek hassasiyet ve kısa ölçüm
  • Otomatik ölçümler için programlanabilir ölçüm masası
  • Verimli iş akışları ile pazar lideri yazılım

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

En küçük noktalar, en yüksek hassasiyet.

Daha fazla bilgi edinin

Ana uygulamalar

Kurşun çerçeveler, ince teller, lehim tümsekleri, mikro pedler, SMD bileşenleri, pogo pimleri, BGA'lar, UBM'ler, RDL'ler

Karşılaştığınız zorluklar

  • Mikroyapılar üzerinde ölçüm
  • Düz numunelerin ve ultra ince çok katmanların ölçülmesi

Öne çıkan ürünlerimiz

  • En küçük ölçüm noktaları ve en yüksek hassasiyet için çeşitli filtre, dedektör ve polikapiler optik seçenekleri
  • Düz, büyük ölçekli numunelerin kolay taşınması için C yuvalı muhafaza
  • Zorlu ölçüm görevleri için pazar lideri yazılım

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

En küçük noktalar, en büyük ölçüm mesafesi.

Daha fazla bilgi

 

Ana uygulamalar

Montajlı PCB'ler, konektörler, pogo pimleri

Karşılaştığınız zorluklar

  • Farklı numune boyutları ve karmaşık şekillerle başa çıkma
  • Üzerinde düzenekler bulunan veya farklı seviyelerdeki numunelerin ölçülmesi
  • Mikroyapılar üzerinde ölçüm
  • Ultra ince çok katmanların ölçülmesi

Öne çıkan ürünlerimiz

  • Geniş ölçüm mesafesine sahip benzersiz 35 µm polikapiler optiğimiz sayesinde karmaşık şekilli numunelerdeki en küçük özellikleri ölçün, örneğin potansiyel çarpıklığı olan wafer'lar için
  • Düz, büyük ölçekli numunelerin kolay taşınması için C yuvalı muhafaza
  • Zorlu ölçüm görevleri için pazar lideri yazılım

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER

Gofret uygulamaları için en son teknoloji.

Daha fazla bilgi

 

Ana uygulamalar

Lehim tümsekleri, bakır sütun tümsekleri, altın tümsekler, küçük temas yüzeyleri, mikro pedler, UBM'ler, RDL'ler

Karşılaştığınız zorluklar

  • 6'' ila 12'' çaplı waferlar üzerinde ince filmlerin ve mikro yapıların ölçülmesi
  • Potansiyel çarpıklığı olan wafer'larla başa çıkma
  • Temiz oda gereksinimlerini karşılama

Öne çıkan ürünlerimiz

  • İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için çeşitli dedektör ve polikapiler optik seçenekleri
  • Vakumlu gofret aynası veya mekanik düzleştirme ile özelleştirilmiş gofret taşıma
  • Pazar lideri yazılım ile kapsamlı otomasyon seçenekleri

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI

Otomatik wafer ölçümü için ilk tercih.

Daha fazla bilgi

Ana uygulamalar

Lehim tümsekleri, bakır sütun tümsekleri, altın tümsekler, küçük temas yüzeyleri, mikro pedler, UBM'ler, RDL'ler

Karşılaştığınız zorluklar

  • Gofret ölçüm sürecinizin otomasyonu
  • Yüksek iş hacmini yönetme
  • Potansiyel çarpıklığı olan wafer'larla başa çıkma
  • Temiz oda gereksinimlerini karşılama

Öne çıkan ürünlerimiz

  • Entegre FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER ve otomatik gofret işleme sistemi ile tam otomatik ölçüm sistemi
  • İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için çeşitli dedektör ve polikapiler optik seçenekleri
  • Verimliliğinizi artırmak için pazar lideri yazılım

ÖZELLEŞTİRİLMİŞ ÇÖZÜMLER

Ölçüm göreviniz için doğru çözüm.

Talep üzerine tam veya yarı otomatik özelleştirilmiş sistem yapısı. Uygulamanıza özel olarak, gofretlerin mekanik düzleştirilmesi gibi ek işlem adımları uyguluyoruz. Yerel entegrasyon ortaklarıyla birlikte çalışarak uzun teslim sürelerinden kaçınıyoruz.

XRF dışında başka ölçüm yöntemleri de sunuyoruz. Daha fazla bilgi için lütfen doğrudan bizimle iletişime geçin.