FISCHERSCOPE® XDV®
Yeni
optimize edilmiş ölçüm geometrisi ile
yüksek hızlı Z ekseni
FISIQ® X yazılımı ile kullanıcı yönlendirmesi
Hız hassasiyetle buluşuyor.
Maksimum hız, en yüksek hassasiyet ve sezgisel kullanım kolaylığı için tasarlanmıştır — yeni nesil FISCHERSCOPE® XDV® XRF cihazlarını bu şekilde tanıtıyoruz. Üst düzey XRF çözümlerimizden biri olarak, cihaz mikro yapılar üzerinde güvenle ölçüm yapmak için tasarlanmıştır. En son teknoloji FISIQ® X yazılımımızla birlikte cihaz, olağanüstü ölçüm performansı sunar. Ayrıca, basitleştirilmiş ve verimli iş akışları, ölçüm süreçlerinin sorunsuz ilerlemesini ve kalite kontrolünüzde önemli ölçüde artan verimliliği sağlar.
Süper hızlı numune konumlandırma.
Yüksek hızlı Z ekseni, 6 kat daha hızlı*
Hızlı numune yakalama.
2 saniyenin altında otomatik odaklama – 14 kat daha hızlı*
Otomatik çalışma.
Maksimum esneklik için otomatik veya manuel kapak
Optimum numune aydınlatması ve görüntü yakalama.
Kamera çözünürlüğü 10 kat daha yüksek* ve çok bölgeli LED aydınlatma
* FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ile karşılaştırıldığında.
Eşsiz yüksek hassasiyet ve tekrarlanabilir sonuçlar.
Optimize edilmiş ölçüm geometrisi
Cihaz durumu her zaman görünür.
Sezgisel 180° durum ışığı
Geliştirilmiş kullanım kolaylığı ve kullanıcı yönlendirmesi.
Yeni FISIQ® X yazılımı
Yüksek çözünürlüklü genel bakış kamerası ile her şeyi her zaman görüş alanınızda tutun. İster mat, ister parlak veya yansıtıcı yüzeyler olsun, çok bölgeli LED aydınlatma her ayrıntıyı hassas bir şekilde ortaya çıkarır.
Ölçüm iş akışlarınızda maksimum esneklik için motorlu bir başlık ile geliştirilmiş otomatik ve manuel çalışma arasında seçim yapın.
Sezgisel durum aydınlatması ile cihaz durumunu hemen görün: bekleme (mavi), ölçüme hazır (yeşil) ve aktif ölçüm (titreşen turuncu).
X-ray tüpü, numune ve dedektör arasındaki optimize edilmiş mesafe sayesinde olağanüstü ölçüm doğruluğundan yararlanın ve güvenilir, yüksek kaliteli sonuçlar elde edin.
Wafer analizi gibi en zorlu uygulamalarda bile basitleştirilmiş ve verimli iş akışları ile hızlı, ultra hassas ölçümler elde edin.
Şimdi FISIQ® X ile tanışın - yapay zeka teknolojisine sahip ilk XRF yazılımı!
Özellikler
Tungsten anotlu mikrofokus tüpü, diğer anotlar istek üzerine temin edilebilir
İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için 50 mm² silikon sapma dedektörü
Otomatik başlık ve otomatik ölçümler için programlanabilir ölçüm masası
4 kat değiştirilebilir diyafram açıklıkları ve 6 kat değiştirilebilir filtreler
Tam korumalı bir araç olarak bireysel onay
FISIQ® X yazılımı, daha akıllı ölçüm süreçleri için yapay zekâ destekli spektrum modu ile
Yukarıdan aşağıya ölçüm ile kademesiz ölçüm mesafesi
140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri
Uygulama örnekleri
- Çok ince kaplamaların analizi, örneğin ≤ 50 nm (0,002 mils) altın/paladyum kaplamalar
- Elektronik ve yarı iletken endüstrilerindeki fonksiyonel kaplamaların ölçümleri, örneğin kurşun çerçeveler için 2 nm'ye (0,00008 mil) kadar altın katmanların kaplama kalınlığının belirlenmesi
- Silikon waferlar üzerinde ultra ince kaplamaların ölçümü
- Gofretler üzerindeki hafif element kaplamalarının belirlenmesi (Al, Ti, NiP)
- Yakıt hücresi ve batarya folyoları: organik matris (karbon) içinde metaller (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn)
- En yüksek gereksinimlerle altın analizi
- Karmaşık çok katmanlı sistemlerin ölçümü
- Otomatik ölçümler, örneğin kalite kontrolde
Başka uygulamalarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!
Eğitim Notları
Ürün videoları
Broşürler
Eğitim Notları
Ürün videoları
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Broşürler
FISCHER insights
Daha fazla ürün keşfedin
