FISCHERSCOPE® XDV®
Yeni
daha hızlı konumlandırma
daha hızlı otomatik odaklama
daha yüksek kamera çözünürlüğü
¹ FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ile karşılaştırıldığında.
² Örnek yüzeyine bağlı olarak.
Hız hassasiyetle buluşuyor.
FISCHERSCOPE® XDV®, Fischer'in üst düzey bir X-ışını floresan ölçüm cihazıdır ve küçük yapılar üzerinde otomatik ölçümler için idealdir. Cihaz, kullanım kolaylığı, maksimum hızı ve hassasiyeti ile etkileyicidir. Çok yönlü durum aydınlatması mevcut cihaz durumunu bir bakışta gösterirken, motorlu ölçüm başlığı güvenli ve rahat çalışma için tam otomatik olarak açılıp tekrar kapatılabilir. Modern FISIQ® X XRF yazılımı, verimli ve sorunsuz süreçlerin yanı sıra ölçüm sürecinizde artan verim sağlar.
Yüksek hızlı Z ekseni.
Numunelerinizin hızlı konumlandırılması için
2 saniyenin altında otomatik odaklama.
Daha da verimli ölçüm süreçleri için ölçüm nesnenizin hızlı alımı ve odaklanması
Yüksek çözünürlüklü genel bakış kamerası.
Daha keskin ve daha ayrıntılı görüntülerle daha iyi bir genel bakış elde edin
Çok bölgeli LED aydınlatma.
Yüzey ne olursa olsun her zaman mükemmel aydınlatma
Otomatik ölçüm başlığı.
Maksimum esneklik için manuel veya otomatik çalışma
Optimize edilmiş ölçüm geometrisi.
X-ışını tüpü, numune ve dedektör arasındaki gelişmiş boşluk sayesinde benzersiz ölçüm doğruluğu
Sezgisel durum aydınlatması.
Cihazın durumunu bir bakışta kontrol edin
Her ayrıntıyı aydınlatın: Mükemmel aydınlatma ve en doğru analiz için çok bölgeli LED aydınlatmadan ve yüksek çözünürlüklü genel bakış kamerasından yararlanın.
Zahmetsiz, eller serbest kullanım: Motorlu başlık sayesinde eşsiz esneklik. Bir düğmeye basarak manuel olarak veya yazılım kontrollü otomasyonla. Sorunsuz, kesintisiz süreçler için üretilmiştir.
X-ışını tüpü, numune ve dedektör arasındaki optimize edilmiş mesafe maksimum yoğunluk sağlar ve özellikle güvenilir ve yüksek kaliteli sonuçlar için olağanüstü ölçüm doğruluğunu garanti eder.
LED ışık şeridi cihazın durumunu bir bakışta gösterir. Mavi ışık bekleme modunu, yeşil ışık cihazın ölçüme hazır olduğunu, turuncu ışık ise ölçümün devam ettiğini gösterir.
FISIQ® X: Yapay zeka destekli spektrum moduna sahip modern ve ilk XRF yazılımı. Basitleştirilmiş ve verimli iş akışları ile üretkenliğinizi artırın.
Özellikler
Tungsten anotlu mikrofokus tüpü, diğer anotlar istek üzerine temin edilebilir
Otomatik ölçüm başlığı
İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için 20 mm² veya 50 mm² silikon sapma dedektörü
4 kat değiştirilebilir diyafram açıklıkları ve 6 kat değiştirilebilir filtreler
Tip onaylı tam koruma cihazı
Daha akıllı ölçüm süreçleri için yapay zeka destekli spektrum moduna sahip FISIQ® X yazılımı
Yukarıdan aşağıya ölçüm ile kademesiz ölçüm mesafesi
140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri
Otomatik ölçümler için programlanabilir ölçüm masası
Uygulama örnekleri
- Çok ince kaplamaların analizi, örneğin ≤ 50 nm (0,002 mils) altın/paladyum kaplamalar
- Elektronik ve yarı iletken endüstrilerindeki fonksiyonel kaplamaların ölçümleri, örneğin kurşun çerçeveler için 2 nm'ye (0,00008 mil) kadar altın katmanların kaplama kalınlığının belirlenmesi
- Silikon waferlar üzerinde ultra ince kaplamaların ölçümü
- Gofretler üzerindeki hafif element kaplamalarının belirlenmesi (Al, Ti, NiP)
- Yakıt hücresi ve batarya folyoları: organik matris (karbon) içinde metaller (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn)
- En yüksek gereksinimlerle altın analizi
- Karmaşık çoklu kaplama sistemlerinin belirlenmesi
- Otomatik ölçümler, örneğin kalite kontrolde
Başka uygulamalarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!
Ürün videoları
Broşürler
Ürün videoları
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Broşürler
Fischer Insights.
Daha fazla ürün keşfedin.
