En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

FISCHERSCOPE® XDAL®

Yeni

Ürün modele veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir

İnce katmanlar için en iyi dedektörler.

Çok ince ve karmaşık kaplamaların kalınlığını ölçmek için, hatta 0,05 μm’nin altındaki değerlerde bile, ayrıca ppm aralığında malzeme analizi için yenilikçi tezgahüstü cihaz.

Eşsiz yüksek hassasiyet
optimize edilmiş ölçüm geometrisi ile
Süper hızlı numune konumlandırması için
yüksek hızlı Z ekseni
Geliştirilmiş kullanılabilirlik ve
FISIQ® X yazılımı ile kullanıcı yönlendirmesi

Kolay kullanım, maksimum hız ve hassasiyet.

Hassasiyet sınırları zorladığında, FISCHERSCOPE® XDAL® cihazımız mümkün olanı yeniden tanımlar. FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® cihazımızın yenilikçi halefi olan bu çözüm, ince ve çok ince kaplamalar (< 0.05 μm) ile ppm aralığında malzeme analizi uygulamaları için idealdir. Güçlü 50 mm² silikon drift dedektörü ile donatılmış XDAL® 650 ve 20 mm² silikon drift dedektörü ile donatılmış XDAL® 620 modellerimiz arasından seçim yapabilirsiniz. En son teknolojiye sahip FISIQ® X XRF yazılımımız ile birlikte bu üst düzey çözüm, daha fazla kullanım kolaylığı, güvenlik ve maksimum verimlilik için sorunsuz bir ölçüm süreci sağlar.

Süper hızlı numune konumlandırma.

Yüksek hızlı Z ekseni: 6 kat daha hızlı*

Hızlı numune yakalama.

2 saniyeden kısa sürede otomatik odaklama – 14 kat daha hızlı*

Otomatik çalışma.

Maksimum esneklik için otomatik veya manuel kapak

Optimum numune aydınlatması ve görüntü yakalama.

10 kat daha yüksek* kamera çözünürlüğü ve çok bölgeli LED aydınlatma

* FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 ile karşılaştırıldığında.

Eşsiz yüksek hassasiyet ve tekrarlanabilir sonuçlar.

Optimize edilmiş ölçüm geometrisi

Cihaz durumu her zaman görünür.

Sezgisel 180° durum ışığı

Geliştirilmiş kullanım kolaylığı ve kullanıcı yönlendirmesi.

Yeni FISIQ® X yazılımı

Büyük parçalar.

C-slot büyük parçaların ölçülmesine olanak tanır

  • Özellikler

      Tungsten anotlu mikrofokus tüpü, diğer anotlar istek üzerine temin edilebilir

      Daha büyük numuneleri ölçmek için C yuvalı muhafaza

      İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için 20 mm² veya 50 mm² silikon sapma dedektörü

      4 kat değiştirilebilir diyafram açıklıkları ve 6 kat değiştirilebilir filtreler

      Tam korumalı bir araç olarak bireysel onay

      FISIQ® X yazılımı, daha akıllı ölçüm süreçleri için yapay zekâ destekli spektrum modu ile

      Yukarıdan aşağıya ölçüm ile kademesiz ölçüm mesafesi

      140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri

      Otomatik ölçümler için otomatik davlumbaz ve programlanabilir ölçüm masası

  • Uygulama örnekleri

      • ≤ 0,1 μm (0,004 mils) çok ince kaplamaların analizi
      • Elektronik ve yarı iletken endüstrilerinde, örneğin kurşun çerçeveler, konektörler veya baskılı devre kartları üzerindeki fonksiyonel kaplamaların ölçümleri
      • Karmaşık çok katmanlı sistemlerin ölçümü
      • Otomatik ölçümler, örneğin kalite kontrolde
      • Lehimdeki kurşun içeriğinin belirlenmesi
      • NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin belirlenmesi
      • PCB yüzeylerinin belirlenmesi

      Başka uygulamalarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!

Ürün videoları
Broşürler
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®

FISCHER insights

Ölçüm yöntemi.

X-ışını floresan analizinin nasıl çalıştığını öğrenin ve keşfedin.

Daha fazla bilgi edinin
Hizmetlerimiz.

Güvenilir ölçüm sonuçları için ihtiyacınız olan her şeyi size sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinin
Neden Fischer?

Bir şirket olarak bizim adımıza konuşan birçok iyi nedeni deneyimleyin.

Daha fazla bilgi edinin

Daha fazla ürün keşfedin