FISCHERSCOPE® XDAL®
Yenidaha hızlı konumlandırma
daha hızlı otomatik odaklama
daha yüksek kamera çözünürlüğü
¹ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 ile karşılaştırıldığında.
² Örnek yüzeyine bağlı olarak.
Kolay kullanım, maksimum hız ve hassasiyet.
FISCHERSCOPE® XDAL®, <0,05 μm ince ve çok ince kaplamalar alanındaki uygulamalar ve ppm aralığında malzeme analizi için idealdir. Cihaz versiyonu, 50 mm² silikon drift dedektörü olan en yeni nesil güçlü dedektörlerle donatılmıştır. Sezgisel durum aydınlatması ve otomatik ölçüm başlığı, modern FISIQ® X XRF yazılımı ile birlikte, daha fazla rahatlık, güvenlik ve maksimum verim için sorunsuz bir ölçüm süreci sağlar.
Yüksek hızlı Z ekseni.
Numunelerinizin hızlı konumlandırılması için
2 saniyenin altında otomatik odaklama.
Daha da verimli ölçüm süreçleri için ölçüm nesnenizin hızlı alımı ve odaklanması
Yüksek çözünürlüklü genel bakış kamerası.
Daha keskin ve daha ayrıntılı görüntülerle daha iyi bir genel bakış elde edin
Çok bölgeli LED aydınlatma.
Yüzey ne olursa olsun her zaman mükemmel aydınlatma
Otomatik ölçüm başlığı.
Maksimum esneklik için manuel veya otomatik çalışma
Optimize edilmiş ölçüm geometrisi.
X-ışını tüpü, numune ve dedektör arasındaki gelişmiş boşluk sayesinde benzersiz ölçüm doğruluğu
Sezgisel durum aydınlatması.
Cihazın durumunu bir bakışta kontrol edin
Özellikler
Tungsten anotlu mikrofokus tüpü, diğer anotlar istek üzerine temin edilebilir
Daha büyük numunelerde otomatik ölçümler için C yuvalı muhafaza
İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için 20 mm² veya 50 mm² silikon sapma dedektörü
4 kat değiştirilebilir diyafram açıklıkları ve 6 kat değiştirilebilir filtreler
Tip onaylı tam koruma cihazı
Daha akıllı ölçüm süreçleri için yapay zeka destekli spektrum moduna sahip FISIQ® X yazılımı
Yukarıdan aşağıya ölçüm ile kademesiz ölçüm mesafesi
140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri
Otomatik ölçümler için programlanabilir ölçüm masası
Uygulama örnekleri
- ≤ 0,1 μm (0,004 mils) çok ince kaplamaların analizi
- Elektronik ve yarı iletken endüstrilerinde, örneğin kurşun çerçeveler, konektörler veya baskılı devre kartları üzerindeki fonksiyonel kaplamaların ölçümleri
- Karmaşık çoklu kaplama sistemlerinin belirlenmesi
- Otomatik ölçümler, örneğin kalite kontrolde
- Lehimdeki kurşun içeriğinin belirlenmesi
- NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin belirlenmesi
- PCB yüzeylerinin belirlenmesi
Başka uygulamalarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!
































































