FISCHERSCOPE® XDAL®
Yenioptimize edilmiş ölçüm geometrisi ile
yüksek hızlı Z ekseni
FISIQ® X yazılımı ile kullanıcı yönlendirmesi
Kolay kullanım, maksimum hız ve hassasiyet.
Hassasiyet sınırları zorladığında, FISCHERSCOPE® XDAL® cihazımız mümkün olanı yeniden tanımlar. FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® cihazımızın yenilikçi halefi olan bu çözüm, ince ve çok ince kaplamalar (< 0.05 μm) ile ppm aralığında malzeme analizi uygulamaları için idealdir. Güçlü 50 mm² silikon drift dedektörü ile donatılmış XDAL® 650 ve 20 mm² silikon drift dedektörü ile donatılmış XDAL® 620 modellerimiz arasından seçim yapabilirsiniz. En son teknolojiye sahip FISIQ® X XRF yazılımımız ile birlikte bu üst düzey çözüm, daha fazla kullanım kolaylığı, güvenlik ve maksimum verimlilik için sorunsuz bir ölçüm süreci sağlar.
Süper hızlı numune konumlandırma.
Yüksek hızlı Z ekseni: 6 kat daha hızlı*
Hızlı numune yakalama.
2 saniyeden kısa sürede otomatik odaklama – 14 kat daha hızlı*
Otomatik çalışma.
Maksimum esneklik için otomatik veya manuel kapak
Optimum numune aydınlatması ve görüntü yakalama.
10 kat daha yüksek* kamera çözünürlüğü ve çok bölgeli LED aydınlatma
* FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 ile karşılaştırıldığında.
Eşsiz yüksek hassasiyet ve tekrarlanabilir sonuçlar.
Optimize edilmiş ölçüm geometrisi
Cihaz durumu her zaman görünür.
Sezgisel 180° durum ışığı
Geliştirilmiş kullanım kolaylığı ve kullanıcı yönlendirmesi.
Yeni FISIQ® X yazılımı
Büyük parçalar.
C-slot büyük parçaların ölçülmesine olanak tanır
Özellikler
Tungsten anotlu mikrofokus tüpü, diğer anotlar istek üzerine temin edilebilir
Daha büyük numuneleri ölçmek için C yuvalı muhafaza
İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için 20 mm² veya 50 mm² silikon sapma dedektörü
4 kat değiştirilebilir diyafram açıklıkları ve 6 kat değiştirilebilir filtreler
Tam korumalı bir araç olarak bireysel onay
FISIQ® X yazılımı, daha akıllı ölçüm süreçleri için yapay zekâ destekli spektrum modu ile
Yukarıdan aşağıya ölçüm ile kademesiz ölçüm mesafesi
140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri
Otomatik ölçümler için otomatik davlumbaz ve programlanabilir ölçüm masası
Uygulama örnekleri
- ≤ 0,1 μm (0,004 mils) çok ince kaplamaların analizi
- Elektronik ve yarı iletken endüstrilerinde, örneğin kurşun çerçeveler, konektörler veya baskılı devre kartları üzerindeki fonksiyonel kaplamaların ölçümleri
- Karmaşık çok katmanlı sistemlerin ölçümü
- Otomatik ölçümler, örneğin kalite kontrolde
- Lehimdeki kurşun içeriğinin belirlenmesi
- NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin belirlenmesi
- PCB yüzeylerinin belirlenmesi
Başka uygulamalarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!
































































