En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

FISCHERSCOPE® XDAL®

Yeni

Ürün modele veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir

İnce katmanlar için en iyi dedektörler.

Çok ince ve karmaşık kaplamaların, hatta <0,05 μm'nin kaplama kalınlığı ölçümü ve ppm aralığında malzeme analizi için yenilikçi tezgah üstü başarı.

6x ¹ ²
daha hızlı konumlandırma
14x ¹
daha hızlı otomatik odaklama
10x ¹
daha yüksek kamera çözünürlüğü
¹ ² Daha fazla göster
Daha az göster

¹ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 ile karşılaştırıldığında.
² Örnek yüzeyine bağlı olarak.

Kolay kullanım, maksimum hız ve hassasiyet.

FISCHERSCOPE® XDAL®, <0,05 μm ince ve çok ince kaplamalar alanındaki uygulamalar ve ppm aralığında malzeme analizi için idealdir. Cihaz versiyonu, 50 mm² silikon drift dedektörü olan en yeni nesil güçlü dedektörlerle donatılmıştır. Sezgisel durum aydınlatması ve otomatik ölçüm başlığı, modern FISIQ® X XRF yazılımı ile birlikte, daha fazla rahatlık, güvenlik ve maksimum verim için sorunsuz bir ölçüm süreci sağlar.

Yüksek hızlı Z ekseni.

Numunelerinizin hızlı konumlandırılması için

2 saniyenin altında otomatik odaklama.

Daha da verimli ölçüm süreçleri için ölçüm nesnenizin hızlı alımı ve odaklanması

Yüksek çözünürlüklü genel bakış kamerası.

Daha keskin ve daha ayrıntılı görüntülerle daha iyi bir genel bakış elde edin

Çok bölgeli LED aydınlatma.

Yüzey ne olursa olsun her zaman mükemmel aydınlatma

Otomatik ölçüm başlığı.

Maksimum esneklik için manuel veya otomatik çalışma

Optimize edilmiş ölçüm geometrisi.

X-ışını tüpü, numune ve dedektör arasındaki gelişmiş boşluk sayesinde benzersiz ölçüm doğruluğu

Sezgisel durum aydınlatması.

Cihazın durumunu bir bakışta kontrol edin

  • Özellikler

      Tungsten anotlu mikrofokus tüpü, diğer anotlar istek üzerine temin edilebilir

      Daha büyük numunelerde otomatik ölçümler için C yuvalı muhafaza

      İnce katmanlarda en yüksek hassasiyet için 20 mm² veya 50 mm² silikon sapma dedektörü

      4 kat değiştirilebilir diyafram açıklıkları ve 6 kat değiştirilebilir filtreler

      Tip onaylı tam koruma cihazı

      Daha akıllı ölçüm süreçleri için yapay zeka destekli spektrum moduna sahip FISIQ® X yazılımı

      Yukarıdan aşağıya ölçüm ile kademesiz ölçüm mesafesi

      140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri

      Otomatik ölçümler için programlanabilir ölçüm masası

  • Uygulama örnekleri

      • ≤ 0,1 μm (0,004 mils) çok ince kaplamaların analizi
      • Elektronik ve yarı iletken endüstrilerinde, örneğin kurşun çerçeveler, konektörler veya baskılı devre kartları üzerindeki fonksiyonel kaplamaların ölçümleri
      • Karmaşık çoklu kaplama sistemlerinin belirlenmesi
      • Otomatik ölçümler, örneğin kalite kontrolde
      • Lehimdeki kurşun içeriğinin belirlenmesi
      • NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin belirlenmesi
      • PCB yüzeylerinin belirlenmesi

      Başka uygulamalarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!

Ürün videoları
Broşürler
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®

Fischer Insights.

Ölçüm yöntemi.

X-ışını floresan analizinin nasıl çalıştığını öğrenin ve keşfedin.

Daha fazla bilgi edinin
Hizmetlerimiz.

Güvenilir ölçüm sonuçları için ihtiyacınız olan her şeyi size sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinin
Neden Fischer?

Bir şirket olarak bizim adımıza konuşan birçok iyi nedeni deneyimleyin.

Daha fazla bilgi edinin

Daha fazla ürün keşfedin.