En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Ürün model veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir

 

En küçük ölçüm noktası, en büyük ölçme mesafesi.

Polikapilerler ile zorlu ölçüm görevlerinde ustalaşın: En küçük ölçüm noktası ve en büyük ölçme mesafesi ile en küçük numunelerde ölçüm yapmak için polikapiler X-ışını optiklerine sahip üst düzey XRF ölçüm cihazı.

DPP+ sayesinde performans %50'ye kadar¹ arttı
60 µm,
en küçük ölçme spotu
12 mm,
en büyük ölçme mesafesi - sınıfının en iyisi!
¹ Daha fazla göster
Daha az göster

¹ DPP ile DPP+ karşılaştırıldığında önemli ölçüde daha iyi standart sapma ve arttırılmış ölçüm kabiliyeti, önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süresi.

En iyi performans.

Karmaşık şekilli küçük numuneler için öne çıkan özellik. FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD, üstün performans için benzersiz ölçüm mesafesi, küçük ölçüm spotu, mikrofokus Ultra tüp ile donatılmış sektör lideri XRF cihazıdır.

Zorlu ölçüm görevleri için.

Kapsamlı ölçüm görevleri için güvenilir ve hızlı sonuçlar

Piyasadaki en gelişmiş polikapiler optikler.

Kendi üretimimiz olan polikapiler optikler, kısa ölçüm süreleri ile olağanüstü ölçüm sonuçları sağlar

Programlanabilir.

Gelişmiş desen tanıma teknolojisi sayesinde önceden tanımlanmış yapılar üzerinde otomatik ölçümler

Tamamen otomatikleştirilebilir.

Tek bir tıklama ile cihazınız ölçümleri sizin için gerçekleştirir

DPP+ dijital pulse processor.

Daha kısa ölçüm süreleri veya iyileştirilmiş standart sapma*

*DPP ile karşılaştırıldığında

  • Özellikler

      En küçük noktalarda daha da yüksek performans için tungsten anotlu Microfocus tüp Ultra; isteğe bağlı Molibden anot 

      Değiştirilebilir filtre

      DPP+ sayesinde daha yüksek count oranları ve önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süreleri

      Polikapiler optikler, yüksek yoğunlukta kısa ölçüm süreleri ile çok küçük noktalarda ölçüm yapılmasını mümkün kılar.

      Ölçüm noktası yakl: Ø 60 µm

      İlgili aksesuarlar ile elektrokaplama banyolarında metal içeriğinin analizi

      İnce kaplamalarda en yüksek hassasiyet için 20 veya 50 mm² aktif alana sahip silikon drifyt dedektörü

      135 mm'ye kadar olası numune yüksekliği

  • Uygulama örnekleri

      • Birleştirilmiş ve karmaşık şekilli PCB'ler, fiş kontakları, bonding bölgeleri, SMD bileşenleri veya ince teller gibi çok küçük yapılar üzerinde ölçüm
      • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde fonksiyonel kaplamaların ölçülmesi
      • Karmaşık çok katlı kaplamaların tayini
      • Giriş kalite kontrolde süreçlerindeki gibi, otomatik ölçüm

      Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!

Uygulama Notları
Ürün videoları
Öğretici içerikler
Webinarlar
Broşürler
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation

Fischer Insights.

Ölçüm yöntemi.

X-ışını floresan analizinin nasıl çalıştığını öğrenin ve keşfedin.

Daha fazla bilgi edinin
Hizmetlerimiz.

Güvenilir ölçüm sonuçları için ihtiyacınız olan her şeyi size sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinin
Neden Fischer?

Bir şirket olarak bizim adımıza konuşan birçok iyi nedeni deneyimleyin.

Daha fazla bilgi edinin

Daha fazla ürün keşfedin.