FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
in-house üretilir ve sürekli geliştirilir²
¹ DPP ile DPP+ karşılaştırıldığında önemli ölçüde iyileştirilmiş standart sapma ve ölçüm kapasitesi veya önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süresi.
² Sürekli daha da geliştirilmekte olan polikapiler optikler. Dünyanın kendi polikapiler üretimine sahip tek X-ışını floresan ölçüm cihazları üreticisi olan Fischer tarafından üretilen üst düzey kapiler optikler.
³ Üç farklı üst düzey polikapiler mevcuttur - tüm uygulamalarınız için doğru çözüm: 10 µm halo-free, 20 µm halo-free veya 20 µm halo.
En küçük µ'na kadar en yüksek talepler için.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ cihazları, Fischer'in üst düzey X-ışını floresan ölçüm cihazları arasındadır ve küçük parçaların ölçümü için idealdir. En yeni nesil güçlü silikon drift dedektörleri, Ultra mikrofokus tüpleri ve Fischer tarafından üretilen polikapiller optiklerle donatılmıştır. Yüksek radyasyon yoğunluğu sayesinde ölçüm süreleri önemli ölçüde kısalır ve en küçük ölçüm noktalarında bile son derece hassas ölçümler sağlar.
Zorlu ölçüm görevleri için.
Zorlu ölçüm görevleri için güvenilir ve hızlı sonuçlar
Piyasadaki en gelişmiş polikapiler optikler.
Kendi üretimimiz olan polikapiler optikler, kısa ölçüm süreleri ile olağanüstü ölçüm sonuçları sağlar
Programlanabilir.
Gelişmiş desen tanıma teknolojisi sayesinde önceden tanımlanmış yapılar üzerinde otomatik ölçümler
Tamamen otomatikleştirilebilir.
Tek bir tıklama ile cihazınız ölçümleri sizin için gerçekleştirir
DPP+ dijital pulse processor.
Daha kısa ölçüm süreleri veya iyileştirilmiş standart sapma*
*DPP ile karşılaştırıldığında
3 kademeli optik zoom ve WinFTM® yazılımına sahip video sistemi - her numunenin hassas bir şekilde konumlandırılmasını sağlar.
Mikrofokus tüpü Ultra ile egzitasyon yoğunluğu önemli ölçüde artırılmıştır. Bu, en küçük ölçüm noktalarında bile daha iyi ölçüm performansı sağlar.
Yenilikçi polikapillar X-ışını optikleri sayesinde cihaz, yüksek ışın yoğunluğunu korurken son derece küçük bir noktada ölçüm yapar.
Yüksek performanslı silikon drift dedektörü, çok küçük parçaları ve en ince kaplamaları (<0,1 µm) hassas ve tahribatsız bir şekilde ölçmenizi sağlar.
Özellikler
En küçük noktalarda daha da yüksek performans için tungsten anotlu Microfocus tüp Ultra; Molibden anot isteğe bağlı
Değiştirilebilir filtre
DPP+ sayesinde daha yüksek count oranları ve önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süreleri
Polikapiler optikler, yüksek yoğunlukta kısa ölçüm süreleri ile küçük noktalarda ölçüm kabiliyeti sağlar
Ölçüm noktası yakl: Ø 10 veya 20 µm
En yüksek hassasiyet için 20 veya 50 mm² aktif alana sahip silikon drift dedektörü
135 mm'ye kadar olası numune yüksekliği
Uygulama örnekleri
- İzler (trace), kontaklar veya kurşun çerçeveler gibi çok küçük, düz yapılar üzerinde ölçüm
- Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde fonksiyonel kaplamaların ölçümü
- Karmaşık çok katlı kaplamaların tayini
- Giriş kalite kontrol süreçlerindeki gibi, otomatik ölçüm
- Hafif elementlerin ölçümü, örneğin altın ve paladyum altında akımsız nikelde fosfor içeriğinin belirlenmesi (ENIG/ENEPIG)
Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!
Uygulama Notları
Ürün videoları
Öğretici içerikler
Webinarlar
Broşürler
Uygulama Notları
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN008 Thickness and composition of NiP on connectors or small structures on PCBs 0.56 MB AN032 Material analysis of solder bumps in the Integrated circuit (IC) packaging industry 0.57 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN098 Optimized for the electronics industry: Measuring ENIG and ENEPIG on a new level 1.46 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBÜrün videoları
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceÖğretici içerikler
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: Automated measurements on smallest structures using pattern recognitionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 1: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 2: Test of stability, calibration and normalizationFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 3: XY programmingWebinarlar
Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentationBroşürler
Fischer Insights.
Daha fazla ürün keşfedin.
