En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

Ürün model veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir

 

Üst düzey çok yönlü cihaz.

Düşük algılama limitleri ile RoHS taraması da dahil olmak üzere ince veya karmaşık kaplamaların ölçümü için çok yönlü ve hassas ölçüm cihazı.

DPP+ sayesinde %50'ye kadar ¹
iyileştirilmiş performans
4 farklı
değiştirilebilir kolimatör
6 farklı
değiştirilebilir filtre
¹ Daha fazla göster
Daha az göster

Yüksek ihtiyaçlar için X-ışını floresan analizi.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, Fischer portföyündeki en güçlü X-Ray cihazlarından biridir. Bu premium model ile ölçüm performansınızı yeni bir seviyeye taşıyın: Fischer tarafından geliştirilen dijital pulse processor DPP + ile birlikte, artık daha yüksek count oranları sayesinde, daha kısa ölçüm süreleri veya ölçüm sonuçlarınızın tekrarlanabilirliğinin artması sağlanır.

Dayanıklı tasarımıyla uzun yıllar sizinle.

Farklı ihtiyaçlar için sağlam tasarım

Tamamen otomatikleştirilebilir.

Tek bir tıklama ile cihazınız ölçümleri sizin için gerçekleştirir

Hızlı ölçüm tasarımı.

Numune sadece birkaç adımda yerleştirilir ve ölçüme hazır hale gelir. Birçok parçanın otomatik ölçümü mümkündür

Hızlı.

Kısa ölçüm süreleri sayesinde arttırılmış zaman tasarrufu

RoHS analizi.

Yüksek tespit doğruluğu ve üstün performans ile kirleticilerin tayini

DPP+ dijital pulse processor.

Daha kısa ölçüm süreleri veya iyileştirilmiş standart sapma*

*DPP ile karşılaştırıldığında

  • Özellikler

      Tungsten anotlu mikrofokus tüp

      Ekstra geniş 50 mm² etkili alana sahip silikon drift dedektörü

      İlgili aksesuarlar ile elektrokaplama banyolarında metal içeriğinin analizi

      Ölçüm noktası yakl: Ø 0,25 mm

      DPP+ sayesinde daha yüksek count oranları ve önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süresi

      Tip onaylı tam korumalı cihaz

      140 mm'ye kadar olası numune yüksekliği

      4 farklı değiştirilebilir kolimatör ve 6 farklı değiştirilebilir filtre

  • Uygulama örnekleri

      • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde fonksiyonel kaplamaların ölçülmesi, örneğin 2 nm'ye kadar altın kaplamaların kalınlığının belirlenmesi
      • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde ≤ 0,1 μm altın/paladyum kaplamalar gibi ince ve çok ince kaplamaların analizi
      • Karmaşık çok katlı kaplama uygulamalarının tayini
      • Fotovoltaik, fuel cell ve pil hücresi uygulamaları için kaplama kalınlığı ölçümü
      • RoHS, WEEE, CPSIA ve elektronik, ambalaj ve tüketici ürünleri için diğer direktiflere göre kurşun ve kadmiyum gibi tehlikeli maddelerin iz analizleri
      • Altın ve diğer değerli metallerin ve değerli metal alaşımlarının analizi ve orijinallik kontrolü
      • Fonksiyonel NiP katmanlarında fosfor içeriğinin doğrudan belirlenmesi
      • Elektrokaplama banyolarının metal içeriğinin belirlenmesi

      Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!

Uygulama Notları
Ürün videoları
Öğretici içerikler
Webinarlar
Broşürler
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Fischer Insights.

Ölçüm yöntemi.

X-ışını floresan analizinin nasıl çalıştığını öğrenin ve keşfedin.

Daha fazla bilgi edinin
Hizmetlerimiz.

Güvenilir ölçüm sonuçları için ihtiyacınız olan her şeyi size sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinin
Neden Fischer?

Bir şirket olarak bizim adımıza konuşan birçok iyi nedeni deneyimleyin.

Daha fazla bilgi edinin

Daha fazla ürün keşfedin.