En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB

Ürün model veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir

 

Üst düzey çok yönlü cihaz.

Küçük yapılar, çok katlı kaplamalar, fonksiyonel kaplamalar ve ince kaplamalar (<0,1 µm) üzerinde ölçüm yapmak için evrensel cihaz.

Yaklaşık Ø 0,2 µm çok küçük ölçme spotu
4 farklı değiştirilebilir kolimatör
3 farklı değiştirilebilir filtre
Yüksek algılama hassasiyeti ve hassas ölçüm sonuçları için
büyük silikon drift detektörü

Profesyoneller için XRF PCB ölçümleri.

Güçlü bir silikon drift dedektör, çoklu kolimatör ve değiştirilebilir filtrelerin kombinasyonu, FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB cihazları PCB'lerdeki küçük yapıları ölçmek için birebirdir.

PCB için özel tasarlandı.

Baskı devre kartları için IPC standartlarını karşılayan özel ölçüm çözümleri

Zorlu ölçüm görevleri için.

Kapsamlı ölçüm ihtiyaçları için güvenilir ve hızlı sonuçlar

Tamamen otomatikleştirilebilir.

Tek bir tıklama ile cihazınız ölçümleri sizin için gerçekleştirir

Programlanabilir.

Gelişmiş desen tanıma teknolojisi sayesinde önceden tanımlanmış yapılar üzerinde otomatik ölçümler

İlk çalıştırma.

Son derece hızlı ve kolay

  • Özellikler

      Tungsten anotlu mikrofokus tüp

      Sabit, 610 × 610 mm'ye kadar ebatlardaki PCB'ler için geniş ölçüm tablası, isteğe bağlı olarak uzatılabilir ölçüm tablası ile isteğe bağlı olarak 1200 x 900 mm uzatılabilir ölçüm tablası seçeneği

      Ölçüm noktası yakl: Ø 0,2 mm

      4 farklı değiştirilebilir kolimatör ve 3 farklı değiştirilebilir filtre

      10 mm'ye kadar olası numune yüksekliği

      İnce kaplamalarda yüksek hassasiyet için büyük silikon drift detektör

  • Uygulama örnekleri

      • PCB'lerde 610 x 610 mm'ye (24 x 24 inç) kadar çok küçük devre bileşenleri ve yapılar üzerinde ölçüm
      • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde fonksiyonel kaplamaların ölçümü
      • ≤ 0,1 μm kalınlığında çok ince kaplamaların analizi
      • Lehimlerde kurşun içeriğinin belirlenmesi
      • Karmaşık çok katlı kaplamaların tayini
      • NiP kaplamalarda doğrudan fosfor tayini
      • ENIG/ENEPIG gereksinimlerini karşılar

      Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!

Uygulama Notları
Öğretici içerikler
Webinarlar
Broşürler
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

Fischer Insights.

Ölçüm yöntemi.

X-ışını floresan analizinin nasıl çalıştığını öğrenin ve keşfedin.

Daha fazla bilgi edinin
Hizmetlerimiz.

Güvenilir ölçüm sonuçları için ihtiyacınız olan her şeyi size sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinin
Neden Fischer?

Bir şirket olarak bizim adımıza konuşan birçok iyi nedeni deneyimleyin.

Daha fazla bilgi edinin

Daha fazla ürün keşfedin.