FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
































































Ürün model veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir
performans
kolay ölçüm mesafesi ayarı
¹ DPP ile DPP+ karşılaştırıldığında önemli ölçüde daha iyi standart sapma ve arttırılmış ölçüm kabiliyeti, önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süresi.
Çok ince katmanlar için evrensel X-ışını floresan analizi.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600, ince tabakaların, iz elementlerin ve alaşımların belirlenmesi için Fischer'in evrensel XRF cihazıdır. Birçok noktadan ölçüm için numune, elle hareketli ölçüm tablasına yerleştirilir. Lazer pointer numunenin konumlandırmasına yardımcı olur. Bu, karmaşık geometrilere sahip numunelerin bile hassas ve kolay bir şekilde ölçülebilmesini sağlar.
Çok yönlüdür.
Elektronik ve yarı iletken endüstrisi için ideal
RoHS analizi.
Tehlikeli maddelerin güvenilir tayini
Hızlı ölçüm tasarımı.
Numune sadece birkaç adımda yerleştirilir ve ölçüme hazır hale gelir
Dengeli.
Optimum maliyet-fayda oranı
DPP+ dijital pulse processor.
Daha kısa ölçüm süreleri veya standart sapmanın iyileştirilmesi*
*DPP ile karşılaştırıldığında
Özellikler
Ekstra geniş 20 mm² etki alanına sahip silikon drift dedektörü
4 farklı değiştirilebilir kolimatör seçeneği ve 3 farklı değiştirilebilir filtre
DPP+ sayesinde daha yüksek count oranları ve önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süreleri
Tungsten anotlu mikrofokus tüp
140 mm'ye kadar olası numune yüksekliği
Ölçüm noktası yakl: Ø 0,15 mm
Uygulama örnekleri
- ≤ 0,1 µm ince ve çok ince kaplamaların analizi
- Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde kurşun çerçeveler, fiş kontakları veya PCB'ler gibi fonksiyonel kaplamaların ölçülmesi
- Karmaşık çok katlı sistemlerin tayini
- Lehimlerde kurşun içeriğinin tayini
- NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin belirlenmesi
Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!



