En yeni FISCHERSCOPE® XDAL® ve XDV® ürünlerimizi, son teknoloji FISIQ® X yazılımıyla birlikte inceleyin. Daha fazla bilgi!

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Ürün model veya özelliklere göre değişiklik gösterebilir

 

İnce filmlerin, iz elementlerin ve alaşımların belirlenmesi.

En küçük yapılarda, çok ince çok katmanlı kaplamalarda, fonksiyonel kaplamalarda ve ≤ 0,1 µm çok ince kaplamalarda ölçüm için evrensel cihaz.

Bulunabilirlik bölgeye ve ülkeye bağlıdır.

DPP+ sayesinde 50%'ye kadar ¹ iyileştirilmiş
performans
Hızlı numune yerleştirme için elle hareketli tabla
Ölçüm mesafesinin ayarlanması Patentli DCM yöntemi ile
kolay ölçüm mesafesi ayarı
¹ Daha fazla göster
Daha az göster

¹ DPP ile DPP+ karşılaştırıldığında önemli ölçüde daha iyi standart sapma ve arttırılmış ölçüm kabiliyeti, önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süresi.

Çok ince katmanlar için evrensel X-ışını floresan analizi.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600, ince tabakaların, iz elementlerin ve alaşımların belirlenmesi için Fischer'in evrensel XRF cihazıdır. Birçok noktadan ölçüm için numune, elle hareketli ölçüm tablasına yerleştirilir. Lazer pointer numunenin konumlandırmasına yardımcı olur. Bu, karmaşık geometrilere sahip numunelerin bile hassas ve kolay bir şekilde ölçülebilmesini sağlar.

Çok yönlüdür.

Elektronik ve yarı iletken endüstrisi için ideal

RoHS analizi.

Tehlikeli maddelerin güvenilir tayini

Hızlı ölçüm tasarımı.

Numune sadece birkaç adımda yerleştirilir ve ölçüme hazır hale gelir

Dengeli.

Optimum maliyet-fayda oranı

DPP+ dijital pulse processor.

Daha kısa ölçüm süreleri veya standart sapmanın iyileştirilmesi*

*DPP ile karşılaştırıldığında

  • Özellikler

      Ekstra geniş 20 mm² etki alanına sahip silikon drift dedektörü

      4 farklı değiştirilebilir kolimatör seçeneği ve 3 farklı değiştirilebilir filtre

      DPP+ sayesinde daha yüksek count oranları ve önemli ölçüde azaltılmış ölçüm süreleri

      Tungsten anotlu mikrofokus tüp

      140 mm'ye kadar olası numune yüksekliği

      Ölçüm noktası yakl: Ø 0,15 mm

  • Uygulama örnekleri

      • ≤ 0,1 µm ince ve çok ince kaplamaların analizi
      • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde kurşun çerçeveler, fiş kontakları veya PCB'ler gibi fonksiyonel kaplamaların ölçülmesi
      • Karmaşık çok katlı sistemlerin tayini
      • Lehimlerde kurşun içeriğinin tayini
      • NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin belirlenmesi

      Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!

Uygulama Notları
Öğretici içerikler
Webinarlar
Broşürler
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

Fischer Insights.

Ölçüm yöntemi.

X-ışını floresan analizinin nasıl çalıştığını öğrenin ve keşfedin.

Daha fazla bilgi edinin
Hizmetlerimiz.

Güvenilir ölçüm sonuçları için ihtiyacınız olan her şeyi size sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinin
Neden Fischer?

Bir şirket olarak bizim adımıza konuşan birçok iyi nedeni deneyimleyin.

Daha fazla bilgi edinin

Daha fazla ürün keşfedin.