FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
kolay ölçüm mesafesi ayarı
otomatikleştirilebilir
Daha yüksek performans ihtiyaçları için X-ışını floresan analizi.
İnce, daha ince, XDAL®: Mikrofokus tüpü ve çeşitli yarı iletken dedektörler sayesinde FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® serisi, ince ve çok ince (<0,05 μm) kaplama uygulamaları ve ppm aralığında malzeme analizi için idealdir. Cihazın 50 mm² silikon drift dedektörlü versiyonu ayrıca RoHS ölçümü için de uygundur. Esnek ve çeşitli yapılandırma seçenekleri (masa, açıklık, filtre ve dedektör) ile uyumlu XDAL® cihazı güvenilir, hassas ölçümler için en iyi çözümdür.
Devreye alma.
Son derece hızlı ve kolay
Tek cihaz, birçok olanak.
Kaplama kalınlığı ölçümü, malzeme analizi ve iz analizi
Çoklu ölçüm noktalarının test edilmesi.
Büyük numunelerde bile, tüm numune yüzeyinde ölçüm noktalarının belirlenmesi mümkündür
Ayrıca büyük numuneler için.
C yuvalı başlığa sahip tasarım düz ve büyük numunelerin ölçümünü mümkün kılar
Tamamen otomatikleştirilebilir.
Tek bir tıklama ile cihazınız sizin için ölçümleri gerçekleştirir
Kompakt tasarım.
Performans ve alan ihtiyacı arasında ideal denge
Kendini kanıtlamış WinFTM® yazılımı ile ölçüm verilerinin gerçek zamanlı iletimi, değerlendirilmesi ve dışa aktarımı.
Giriş kalite kontrol sürecinde riski en aza indirin: programlanabilir ölçüm tablası ve yarı iletken dedektör sayesinde farklı lehim gruplarını ortadan kaldırın.
Daha kullanışlı olamazdı: Yukarıdan bir ölçüm ve bir kalibrasyon ex çalışması ile kademesiz ölçüm mesafesi.
Özellikler
Tungsten anotlu mikrofokus tüp
Ölçüm noktası yakl: Ø 0,15 mm
Silikon PIN ve silikon drift dedektörleri yüksek algılama hassasiyeti ve hassas ölçüm sonuçları sunar
3 farklı değiştirilebilir filtreler
Tip onaylı tam korumlı cihaz
İlgili aksesuarlar ile elektrokaplama banyolarının metal içeriğinin tayini
4 farklı değiştirilebilir kolimatör
140 mm'ye kadar olası numune yükseklikleri
Çeşitli ölçüm tablası seçenekleri
Uygulama örnekleri
- ince ve çok ince (≤ 0,05 μm) kaplamaların analizi
- Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde kurşun çerçeveler, fiş kontakları veya PCB'ler gibi fonksiyonel kaplamaların ölçülmesi
- Karmaşık çok katlı kaplamaların tayini
- Kalite kontrolde olduğu gibi otomatik ölçümler
- Lehimlerde kurşun içeriğinin belirlenmesi
- SDD versiyonu ile (20 mm² veya 50 mm²):
- NiP katmanlarında fosfor içeriğinin tayini
- ENIG/ENEPIG gereksinimlerini karşılar
Başka ihtiyaçlarınız mı var? O zaman bizimle iletişime geçin!
Uygulama Notları
Ürün videoları
Öğretici içerikler
Webinarlar
Broşürler
Teknik makaleler
Uygulama Notları
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBÜrün videoları
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: IntroductionÖğretici içerikler
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Webinarlar
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationBroşürler
Teknik makaleler
Fischer Insights.
Daha fazla ürün keşfedin.
