Jump to the content of the page
Chrome Plating Measurement

FISCHERSCOPE X-RAY XDL ve XDLM

FISCHERSCOPE X-RAY XDL ve XDLM

Özellikleri

  • ISO 3497 ve ASTM B 568'e göre otomatik malzeme analizi ve kaplama kalınlığının tahribatsız ölçümü için enerji dispersive X-ışını floresan spektrometresi.
  • En küçük ölçüm noktası XDLM: yaklaşık. 0.1 mm; en küçük ölçüm noktası XDL: yakl. 0.2 mm.
  • X-ışını kaynağı olarak tungsten X-ışını tüpü veya tungsten mikrofokus tüpü (XDLM).
  • Hızlı ölçüm için kanıtlanmış proportional dedektörler.
  • Sabit veya değiştirilebilir kolimatörler.
  • Sabit veya otomatik olarak değiştirilebilen birincil filtreler.
  • Manuel veya programlanabilir bir XY tablası mevcuttur.
  • Büyük baskılı devre kartlarında ölçüm için oluklu gövde.
  • Ölçüm yerini kolayca sabitlemek için video kamera.
  • Sertifikalı tam korumalı cihazlar.

Uygulamalar

  • Korozyon koruması olarak demir üzerine çinko gibi elektrolizle kaplanmış galvaniz kaplamalar.
  • Seri üretilen parçaların seri testi. Özel çeliklerin bileşiminin analizi, ör. A4'te molibden tespiti.
  • Dekoratif krom kaplamalar, ör. / Ni / Cu / ABS. Au / Ni / Cu / PCB veya Sn / Cu / PCB gibi baskılı devre kartlarında fonksiyonel altın kaplamaların ölçümü.
  • Au / Ni / Cu ve Sn / Ni / Cu gibi elektronik endüstrisindeki konnektörler ve kontaklar üzerindeki kaplamalar.

Otomatik ölçüm dünyasına girişiniz

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® ve XDLM® spektrometreleri XUL serisi ile yakından ilişkilidir. Dedektör, X-ışını tüpleri ve filtre kombinasyonları gibi tüm ana bileşenler aynıdır. Ancak önemli bir fark var: XDL ve XDLM cihazları yukarıdan aşağıya doğru ölçüyor. Ve bu düz olmayan numunelerin uygun analizi anlamına gelir - karmaşık şekiller artık sorun değil! Yukarıdan aşağıya yaklaşımın başka bir avantajı daha vardır: Kolay otomatik ölçümler yapar. Programlanabilir bir numune kademesi ile donatılmış XDL 240 ve XDLM 237 yüzeyleri taramak için idealdir. Böylece, daha büyük parçalardaki katmanların kalınlığını kontrol edebilir veya art arda çok sayıda küçük parçayı otomatik olarak ölçebilirsiniz. XUL serisinde olduğu gibi, XDLM'deki "M", "mikrofokus tüpü" anlamına gelir. Bu, bu cihazların özellikle küçük numuneleri analiz etmek için çok uygun olduğu anlamına gelir. Sadece 0.1 mm çapında bir ölçüm noktası ile XDLM, elektronik endüstrisi için mükemmeldir.

 

Jump to the top of the page