Jump to the content of the page

Gelişmiş talepler için X-ışını floresans analizi

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®, XDL serisinin en iyi X-ışını floresan ölçüm cihazıdır. 'Küçük kardeşleri' gibi , yukarıdan aşağıya doğru ölçüm yapar, bu da garip şekilli numunelerin bile test edilmesini kolay ve kullanışlı hale getirir. Ölçüm koşullarını görevinize göre optimize etmek için FISCHERSCOPE X-RAY XDAL , standart cihaz olarak değiştirilebilir kolimatörler ve filtrelerle birlikte gelir.

Ölçüm görevi ne kadar zor olursa dedektör tipi o kadar önemlidir! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL  bu nedenle 3 farklı yarı iletken dedektör sunar.

Silikon PIN diyotu orta menzilli bir dedektördür ve nispeten büyük bir ölçüm alanı üzerinde birden fazla elemanı ölçmek için çok uygundur. Bir PIN ile donatıldığında, XDAL  genellikle sert malzeme kaplamalarını incelemek için kullanılır.

Yüksek kaliteli silikon drift dedektörü (SDD), silikon PIN diyotundan daha iyi enerji çözünürlüğü sunar. Bu şekilde donanımlı XDAL  spektrometreleri, elektronik endüstrisindeki karmaşık ölçüm görevlerini çözmek için kullanılır: örneğin, ince alaşımlı katmanların ölçümü veya altın ve platin gibi çok benzer elementlerin malzeme analizi. Bu, ENIG ve ENEPIG uygulamalarıyla kalite kontrolü için güvenilir XRF cihazıdır.

Özellikle zorlu uygulamalar için Fischer, ekstra geniş detektör yüzeyine sahip bir SDD de sunuyor. Bu dedektörün gücü, katmanları sadece birkaç nanometre aralığına kadar güvenilir bir şekilde ölçme ve binde bir aralıkta analiz yapma yeteneğinde yatmaktadır. Bu XDAL   cihazlarla, lehimlerde kurşun miktarını yüksek güvenilirlikle test edebilirsiniz.

Özellikleri

  • <0.0 5μm katmanlar üzerinde otomatik ölçümler ve DIN ISO 3497 ve ASTM B 568'e göre ppm aralığında malzeme analizi için 3 farklı dedektör seçeneğine sahip üniversal X-ışını floresans spektrometresi Si-PIN diyot; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
  • 3x değiştirilebilir birincil filtre
  • 4x değiştirilebilir kolimatörler
  • En küçük ölçüm noktası yakl. 0,15 mm
  • 14 cm'ye kadar numune yükseklikleri
  • 10 µm konumlandırma hassasiyetine sahip programlanabilir XY tablası
  • Büyük baskılı devre kartlarında ölçüm için oluklu gövde </ li >
  • Sertifikalı tam korumalı cihaz 

Uygulamalar

  • Kaplamaların ve alaşımların malzeme analizi (ayrıca ince kaplamalar ve düşük konsantrasyonlar).
  • Elektronik endüstrisi, ENIG, ENEPIG. Konektörler ve kontaklar.
  • Altın, mücevher ve saatçilik endüstrisi.
  • PCB imalatında ince (birkaç nanometre) altın ve paladyum kaplamaların ölçülmesi.
  • Zararlı elementlerin analizi.
  • Yüksek güvenilirlikli uygulamalar için kurşun (Pb) tayini.
  • Sert malzeme kaplamalarının analizi.
Jump to the top of the page