Modern baskılı devre kartlarının (PCB'ler), hepsi metalle kaplanmış elektrik bağlantıları için çok sayıda temas noktasıyla donatılmıştır. Bu kaplanmış alanların metrolojik olarak izlenmesi, hassas proses kontrolü için zorunludur. Ancak özellikle büyük ölçekli kartlar için, bu küçük ölçüm noktalarına manuel konumlandırma yapmak mümkün değildir.
PCB'lerde kaplanmış temas noktalarının kalınlığının ve malzeme bileşiminin metrolojik olarak izlenmesi için X-ışını floresanı (XRF) çok etkili bir yöntem olarak ortaya konmuştur. FISCHER, XRF sistemlerinin, FISCHERSCOPE®, PCB'lerde kontak pedlerinin ölçümü için özel olarak optimize edilmiş X-RAY serisi Otomasyon talepleri proses kontrolü için de istikrarlı bir şekilde arttığından, bir sonraki mantıklı adım, minimum operatör gerektiren hızlı ve etkili kalite kontrolü için bir çözüm geliştirmekti. çaba.
Ölçüm sırasında operatörün etkisini en aza indirmek için WinFTM® analiz yazılımı (sürüm 6.30 ve üstü) artık otomatik şekil tanıma özelliği sunuyor. Bu, programlanabilir XY tablaları olan tüm XRF cihazlarında ölçüm noktasının çok küçük yapılar üzerinde doğru ve hassas bir şekilde konumlandırılmasını sağlar. Özellikle otomatik işlemlerde, örneğin büyük devre kartlarını test ederken ve aynı konumlarda tekrar tekrar ölçüm yaparken şekil tanıma etkin bir şekilde kullanılabilir.
Cihaza bir sonraki PCB yüklendiğinde orijinal olarak programlanmış ölçüm noktalarından küçük bir farkla nadir olmamakla birlikte, mikrometre aralığındaki yapılarda gerçek ölçüm konumu, yalnızca şekil tanıma teknolojisi ile gerçekleştirilir.
WinFTM® ile, şekil tanıma menüsü kullanılarak şekil ayrıntıları veya desenleri tanımlanabilir, bu da kullanıcının görüntü çerçevesi içindeki ölçüm konumunu serbestçe seçmesini sağlar. Daha sonra, ölçüm başlamadan önce, yazılım ölçüm noktasını (artı işaretlerinin odağında) resim ayrıntısıyla karşılaştırır ve otomatik olarak sıradaki bir sonraki temas pedini daha doğru bir konumlandırma, konumlandırma ve hedefleme türetir. Çeşitli yapılarda otomatik ölçümler yapmak için birkaç görüntü detayı veya deseni tanımlamak da mümkündür.
Örüntü tanıma menüsündeki ön ayarları kullanarak, önceden bilmeden bu yazılım işlevini çalıştırmak kolaydır. Buna ek olarak, çeşitli arama algoritmaları seçilebilir ve hata kontrolü yoluyla hedef görüntüden (desen) küçük sapmalara izin verilebilir.
WinFTM® yazılımında yerleşik olan yeni örüntü tanıma özelliği, FISCHER'in XRF ölçüm sistemleriyle birlikte kullanıldığında baskılı devre kartlarının mükemmel otomatik kalite kontrolünü sağlar. Daha fazla bilgi için lütfen yerel FISCHER temsilcinize başvurun.