Jump to the content of the page

Kesici takım yapımında kullanılan semente karbür alaşımlarının analizi

Çeşitli malzemeleri işlemek için freze bıçakları ve matkap uçları kullanılır. Amaçlanan uygulamalarına bağlı olarak, farklı semente karbür alaşımlarından yapılırlar. Kaynak malzemenin kalitesini belirlemek için, bu tür araçların imalatçıları, sert metal alaşımının tam malzeme bileşimini doğrulamalıdır - bu da gelen malların muayenesi sırasında çok hassas analiz gerektirir.

 

Endüstriyel olarak en sık kullanılan semente karbürler, tungsten karbür tanelerini metalik bir bağlayıcıyla, genellikle kobaltla sinterleyerek yapılır. Az miktarda titanyum, tantal, krom ve / veya vanadyum karbür de kullanılır; son bileşime bağlı olarak, bu katkı maddeleri, bitmiş malzemenin malzeme özelliklerini ve dolayısıyla performansını önemli ölçüde etkiler.

Karbürler, en uygun oldukları endüstriyel uygulamaya göre farklı ISO sınıflandırmalarına ayrılır. Örneğin ""P"" sınıfı karbürler, nispeten yüksek oranda titanyum ve tantal karbür (TiC ve TaC) içerir ve çelik veya dökme çelik gibi uzun talaş oluşturan malzemelerin işlenmesi için kullanılır. “K” grubunun sert metalleri çok az TiC veya TaC içerir veya hiç içermez; dökme demir, demir dışı metaller, sertleştirilmiş çelik, ahşap veya plastik gibi kısa talaş oluşturan malzemelerin işlenmesi için tercih edilirler. Geleneksel tungsten-karbür bazlı sert metallere ek olarak, sert malzemeler olarak sadece titanyum karbür ve titanyum nitrür içerenler vardır; bunlar çok yüksek sertlik ve aşınma direnci ile karakterize edilir.

Kapsamlı endüstriyel uygulama, ilgili sert metallerin bileşimini hassas bir şekilde analiz etmek için tahribatsız X-ışını floresans (XRF) yöntemini kimyasal analizden üstün olarak belirlemiştir. XRF ile, alaşım bileşenleri ~% 0.1 kadar düşük konsantrasyonlarda bile hızlı ve doğru bir şekilde ölçülebilir. Bu nedenle, FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® gibi yarı iletken dedektörlere sahip cihazlar, alaşımda bulunan elementleri açıkça sınırlamak için idealdir.

    WC TiC TaC NbC
örnek 1 X 92.48 5.99 -0.41 1.16 0.60
  S 0,28 0.14 0.29 0.13 0.03
örnek 2 X 69.19 8.17 10.17 9.77 2.51
  s 0.53 0.07 0.48 0.41 0.05
Yukarıdaki her iki örneğin spektrumlarını ölçme sonuçları (% olarak).
    Cr3C2 VC Ni Mo
örnek 1 X -0.10 0.13 0.17 -0.02
  s 0.09 0.20 0.05 0.01
örnek 2 X -0.11 0.14 0.18 -0.02
  s 0.11 0.24 0.04 0.01

Sadece saf elementlerden değil, aynı zamanda kimyasal bileşiklerden (örn. karbürler) oluşan numuneleri analiz etmek için, WinFTM® yazılımı bir 'bileşenler modu' sağlar. Bu, WC veya TiC gibi bir dizi bileşenin ölçülmesini mümkün kılar ve TaC, tıpkı diğer öğeler gibi ve bunları tüm bileşen için ölçülen bir değerle görüntüler: daha fazla dönüştürmeye gerek yoktur.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®, semente karbürlerin hassas alaşım analizi için mükemmel şekilde uygundur. Gelen malların denetiminde kullanılan, sert metallerin bileşiminin belirlenmesini sağlar ve hızlı ve doğru malzeme tanımlamayı kolaylaştırır. Daha fazla bilgi için lütfen yerel FISCHER temsilcinize başvurun.

Jump to the top of the page