Jump to the content of the page

Baskılı Devre Kartlarında nm seviyesinde Au / Pd Kaplamalar

Elektronik endüstrisi her zamankinden daha ince kaplamalardan yararlandığından, üreticiler ürün izleme için güvenilir parametreler sağlamak üzere ölçüm teknolojileri konusundaki taleplerini artırmaktadır. Bir örnek, Au ve Pd için sadece birkaç nm kaplama kalınlığına sahip Au / Pd / Ni / Cu / baskılı devre kart sistemidir. Bu kaplama sistemlerinin kalitesini izlemek için, X-ışını floresans cihazları kendilerini tercih edilen ölçüm yöntemi olarak belirlemiştir.

 

Kaplamalar ne kadar ince olursa, uygun bir dedektör seçmek o kadar önemli hale gelir. Tablo 1, sırasıyla oransal sayaçlı, PIN diot ve silikon drift dedektör (SDD) takılmış FISCHERSCOPE® X-RAY cihazlarından elde edilen sonuçların bir karşılaştırmasını göstermektedir.

 

Çeşitli dedektör tipleri ve bunlara karşılık gelen ulaşılabilir standart sapmalar ve varyasyon katsayıları.
  50 nm Au   24 nm Pd  
Detektör tipi Standart
sapma
Varyasyon
katsayısı
Standart
sapma
Varyasyon katsayısı
Oransal
sayaç
(0,2 mm Diyafram)
2,2 nm 4,3% 3 nm 13%
PIN diod dedektörü
(1 mm Diyafram)
0,9 nm % 1,8 1,2 nm % 4,8
SDD dedektörü
(1 mm Diyafram)
0,2 nm % 0,4 0,5 nm % 2,1

Yukarıdaki Tablo 1'de gösterildiği gibi, SDD'nin önemli ölçüde üstün tekrarlanabilirlik hassasiyeti, çok ince Au ve Pd kaplamaların bile güvenilir şekilde ölçülmesine olanak tanır.

SDD'li cihazlarda doğruluk da daha iyidir, çünkü kullanılabilir sinyalin yüksek enerji çözünürlüğü arka plandan veya bitişik floresan hatlarından daha az etkilenir.

Baz malzeme tarafından üretilen floresan sinyalinin uygun şekilde kullanılması ince kaplamalarda daha önemlidir. Arka plan sinyalinin genel olarak çıkarılması tekrarlanabilirlik hassasiyetini arttırırken, sonuçları hatalı yapabilir. Değerlendirme yazılımı WinFTM ® bu nedenle alt tabaka malzemesinin bileşiminin her ölçümde dikkate alınmasına izin verir.

FISCHER ürünleri için yerel FISCHER personeli, baskılı devre kartlarındaki Au / Pd kaplamaları ölçmek için uygun bir X-ışını floresan aleti seçmenize yardımcı olmaktan mutluluk duyacaktır - FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®, oransal sayaçlı , PIN dedektörlü XDAL® veya SDD dedektörlü XDV®-SDD.

Jump to the top of the page