Baskılı devre kartlarını test etmek için profesyonel seri
Günümüzün baskılı devre kartlarında çok sayıda kaplanmış temas noktası bulunmaktadır. Lehimli derzlerin güvenilirliğini, korozyon direncini ve raf ömrünü garanti etmek için çeşitli malzemelerin ilgili kalınlıkları doğru ilişki içerisinde olmalıdır. Bu sıkı spesifikasyonları kontrol etmek için, enerji dispersive X-ışını floresans seçilen yöntemdir.
Helmut Fischer, PCB serisi ile baskılı devre kartları için özel ölçüm çözümleri sunar. PCB profesyonelleri, basit olduğu kadar iddialı ölçüm görevleri ve nanometre aralığına kadar katman kalınlığı ölçümü için güvenilir ve hızlı sonuçlar sağlar.
Gereksinimlerinize bağlı olarak çeşitli modeller mevcuttur. Bizi arayın! Sizin için buradayız.
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
Basit ölçümler ve nokta kontrolleri için FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB ideal XRF cihazıdır. Sağlam bir giriş seviyesi enstrümanı olan XRF spektrometresi, kısa ölçüm süreleri sağlayan proportional counter tüp dedektörü ile donatılmıştır.
- Standart uygulamalar için tungsten mikrofokus tüpü
- En küçük ölçüm noktası Ø yakl. 0,15 mm
- Potasyumdan (19) uranyuma (92) kadar olan elementleri analiz etmek için proportional counter tüp dedektörü
- Fischer patentli: ölçüm mesafesinin basit ve hızlı ayarlanması için DCM yöntemi
- 610 x 610 mm'ye (24” x 24”) kadar baskılı devre kartları için sabit, geniş numune aşaması
- Maksimum numune yüksekliği 90 mm
- Tam korumalı cihaz, Alman radyasyondan korunma yasasına göre tip onaylı
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB proportional counter dedektör ile donatılmıştır. Bununla birlikte, bu X-ışını floresan cihazı çeşitli kolimatörlere ve filtrelere sahiptir, böylece göreviniz için en uygun ölçüm koşullarını oluşturabilirsiniz. Temel konfigürasyonda PCB'nin konumlandırılmasını kolaylaştıran bir dışarı çekilebilir numune tablası vardır. Talep üzerine otomatik ölçümler için programlanabilir bir XY tablası da mevcuttur.
- Standart uygulamalar için Tungsten mikrofokus tüpü
- Optimize edilmiş ölçüm koşulları için isteğe bağlı 4x değiştirilebilir kolimatör
- Daha karmaşık görevler için daha iyi uyarma koşulları için isteğe bağlı 3x değiştirilebilir filtre
- En küçük ölçüm noktası yakl. Ø 0,15 mm
- Potasyumdan (19) uranyuma (92) kadar olan elementleri analiz etmek için oransal sayaç
- 610 x 610 mm'ye kadar baskılı devre kartları için manuel olarak çıkarılabilir veya programlanabilir ölçüm tablası (24” x 24”)
- Maksimum PCB numune yüksekliği: 5 mm
- Fischer patentli, mesafesinin basit ve hızlı ayarlanması için mesafeden bağımsız DCM ölçüm yöntemi
- Alman radyasyon korunma yasasına göre tam korumalı bir tip olarak bireysel kabul denetimi
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
XULM-PCB ve XDLM-PCB'nin aksine, FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB, son derece hassas bir silikon drift detektörü (SDD), farklı kolimatör ve filtrelerle donatılmıştır. Bu, ENIG ve ENEPIG yöntemlerine göre test için de optimum ölçüm koşulları yaratır. Temel konfigürasyonunda cihaz, PCB konumlandırmasını basitleştiren bir açılır numune tablasına sahiptir. Talep üzerine bu, büyük PCB'ler için uygun bir uzantıyla donatılabilir.
- Tungsten veya krom anotlu mikrofokus tüp
- Optimize edilmiş ölçüm koşulları için 4x değiştirilebilir kolimatör
- Daha karmaşık görevler için optimum uyarma koşulları için 3x değiştirilebilir filtre
- En küçük ölçüm noktası yakl. Ø 0,15 mm
- Alüminyumdan (13) uranyuma (92) kadar olan elementlerin analizi için silikon drift dedektörü (SDD)
- Fischer patentli, mesafesinin basit ve hızlı ayarlanması için mesafeden bağımsız DCM ölçüm yöntemi
- 610 x 610 mm'ye (24” x 24”) kadar baskılı devre kartları için manuel olarak kullanılabilir tabla
- Maksimum numune yüksekliği 10 mm
- Tam korumalı cihaz, Alman radyasyondan korunma yasasına göre tip onaylı
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Yüksek güvenilirlikli uygulamalarda, baskılı devre kartları kalite açısından kritik bileşenlerdir. Bu gibi durumlarda, ENIG ve ENEPIG işlemlerine göre üst düzey kaplamalar kullanılır. Bu işlemlerde en ince katman kalınlıkları 40 ile 100 nm arasındadır. Oransal detektörlerin doğruluğu artık süreci izlemek için yeterli değildir. Burada FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB doğru seçimdir. Boyutu 50 µm'den küçük yapılarda hassas ölçümler yapılmasını sağlar.
Özellikle çok küçük yapılarla uğraşırken, fazla sayıda rastgele örnek incelenecekse, her bir ölçüm pozisyonunun ayrı ayrı seçilmesi çok zaman alabilir. Ancak Fischer tarafından uygulanan görüntü tanıma yazılımı ile bu işlerden kurtulabilirsiniz. Görüntünün bir bölümünü saklamanız yeterlidir; XDV®-µ PCB karşılık gelen yapıları arar, bulur ve otomatik olarak ölçer.
- Tungsten veya molibden anotlu mikro fokus tüp
- Optimize edilmiş ölçüm koşulları için 4x değiştirilebilir kolimatör
- Daha karmaşık görevler için optimum uyarma koşulları için 4x değiştirilebilir filtre
- Çok küçük ölçüm noktaları için polikapiler optik yakl. Ø 20 veya Ø 10 µm
- Alüminyumdan (13) uranyuma (92) kadar olan elementlerin analizi için silikon drift dedektörü (SDD)
- İsteğe bağlı olarak FLEX PCB'ler için vakum tutuculu programlanabilir ölçüm masası
- Maksimum numune yüksekliği < 4-5 mm
- Tam korumalı cihaz, Alman radyasyondan korunma yasasına göre tip onaylı
