XUV

ด้วยพื้นที่การวัดสุญญากาศของเครื่องในกลุ่ม XUV® ช่วยให้สามารถตรวจสอบโลหะเบาตั้งแต่โซเดียมเป็นต้นไป โดยใช้การวิเคราะห์ด้วยวิธีเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนส์ analysis (RFA) เนื่องจากอากาศภายภายนอกมีคุณสมบัติดูดซับรังสี ในกรณีทั่วไปจึงไม่สามารถใช้วิธีนี้ได้ ด้วยเหตุนี้ เครื่องเอ็กซ์เรย์แบบสูญญากาศดังกล่าวจึงเหมาะสมที่สุดสำหรับการวัดงานความหนาของชั้นเคลือบและการวิเคราะห์วัสดุที่มีความยุ่งยากและซับซ้อน

XUV

คุณลักษณะ:

  • เหมาะเป็นพิเศษสำหรับการวิจัยและพัฒนา เนื่องจากมีคุณสมบัติในการตรวจจับที่ดีเยียม ความแม่นยำสูงที่สามารถทำซ้ำได้ และสามารถอัปเกรดเพื่อทำการวัดได้อย่างอเนกประสงค์
  • ห้องสุญญากาศและชุดตรวจจับสัญญาณชนิดซิลิกอนดริฟท์ประสิทธิภาพสูง เพื่อการวัดที่แม่นยำแม้สำหรับธาตุเบา
  • การวัดแบบต่อเนื่องอัตโนมัติ พร้อมแกน X, Y และ Z ที่ตั้งโปรแกรมได้
  • สามารถปรับให้เหมาะสำหรับความต้องการของวัสดุต่างๆ และเงื่อนไขการวัด ด้วยการปรับช่องรับแสงและชุดกรองแบบเปลี่ยนได้

การประยุกต์ใช้:

การตรวจวัดความหนาของผิวเคลือบ

  • ผิวเคลือบที่เป็นธาตุเบา ตั้งแต่โซเดียมเป็นต้นไป ในระดับ nm
  • ผิวเคลือบอะลูมิเนียมและซิลิกอน

การวิเคราะห์วัสดุ

  • การหาความบริสุทธิ์และแหล่งที่มาของหินมีค่า
  • การวิเคราะห์วัสดุทั่วไปและทางนิติเวช
  • การวิเคราะห์สารปริมาณน้อยด้วยความละเอียดสูง

ติดต่อ FISCHER

Contact

Helmut Fischer (Thailand) Co., Ltd.
1232 ถนนพระราม 9 แขวงสวนหลวง เขตสวนหลวง 10250 กรุงเทพมหานคร ประเทศไทย
Bangkok/ประเทศไทย
เบอร์โทรศัพท์: +66 2 379-9852 , +66 2 379-9853 , +66 92 284 6105
อีเมลล์: thailand@helmutfischer.com
แบบฟอร์มในการติดต่อออนไลน์

ข่าวสารข้อมูล

ดาวน์โหลด