XDL / XDLM / XDAL

ด้วยแกนที่ขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์ (อุปกรณ์เสริม) และทิศทางการวัดจากด้านบนไปยังด้านล่าง อุปกรณ์ตรวจวัดจากกลุ่ม XDL® ช่วยให้สามารถทำการทดสอบแบบอนุกรมอัตโนมัติได้ มีรุ่นที่หลากหลาย โดยมีแหล่งเอ็กซ์เรย์ ชุดกรอง รูรับแสง และชุดตรวจจับแตกต่างกันไป ทำให้สามารถเลือกอุปกรณ์เอ็กซ์เรย์ที่มีลักษณะอุปกรณ์ที่เหมาะสำหรับงานตรวจวัดของคุณมากที่สุดได้

XDL Series

คุณลักษณะ:

  • อุปกรณ์เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนส์สำหรับงานตรวจวัดที่หลากหลาย ด้วยส่วนประกอบฮาร์ดแวร์มากมาย
  • เหมาะสำหรับการทดสอบแผงวงจรที่ประกอบแล้วหรือชิ้นส่วนที่มีรอยยุบเช่นกัน เนื่องจากระยะการวัดที่สามารถปรับได้ (สูงสุด 80 มม.)
  • การทดสอบแบบอนุกรมอัตโนมัติพร้อมโต๊ะงาน XY แบบตั้งโปรแกรมได้และแกน Z (อุปกรณ์เสริม)
  • เหมาะสมที่สุดสำหรับการตรวจวัดชั้นเคลือบที่บางมาก โดยใช้ชุดตรวจจับแบบซิลิกอนดริฟท์ที่มีความละเอียดการแยกแยะพลังงานสูง (อุปกรณ์ XDAL)

การประยุกต์ใช้:

การตรวจวัดความหนาของชั้นเคลือบ

  • การตรวจวัดชั้นเคลือบบนบอร์ดขนาดใหญ่และแผงวงจรแบบยืดหยุ่น (Flex PCB)
  • ชั้นเคลือบแบบบางสำหรับนำไฟฟ้ารวมถึงการแยกชั้นในแผงวงจร
  • ชั้นเคลือบในอุปกรณ์สามมิติ
  • การเคลือบโครเมี่ยม เช่น ชิ้นส่วนพลาสติกที่ตกแต่งผิวด้วยโครเมี่ยม

การวิเคราะห์วัสดุ

  • การวิเคราะห์อ่างชุบโลหะด้วยไฟฟ้า
  • การวิเคราะห์ชั้นเคลือบเพื่อรองรับการใช้งาน ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และสารกึ่งตัวนำ
  • การวิเคราะห์ชั้นเคลือบวัสดุแข็ง เช่น CrN, TiN หรือ TiCN

ติดต่อ FISCHER

Contact

Helmut Fischer (Thailand) Co., Ltd.
1232 ถนนพระราม 9 แขวงสวนหลวง เขตสวนหลวง 10250 กรุงเทพมหานคร ประเทศไทย
Bangkok/ประเทศไทย
เบอร์โทรศัพท์: +66 2 379-9852 , +66 2 379-9853 , +66 92 284 6105
อีเมลล์: thailand@helmutfischer.com
แบบฟอร์มในการติดต่อออนไลน์

ข่าวสารข้อมูล

ดาวน์โหลด