X-RAY XDV-µ SEMI

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI คือระบบการวัดแบบอัตโนมัติที่ได้รับการปรับให้เหมาะสมสำหรับการควบคุมคุณภาพโครงสร้างจุลภาคในงานแพ็คเกจ 2.5D/3D ที่ซับซ้อน ในอุตสาหกรรมสารกึ่งตัวนำ การวิเคราะห์แบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบช่วยป้องกันการชำรุดเสียหายของวัสดุ เวเฟอร์ ที่มีมูลค่าสูง และเงื่อนไขการทดสอบที่สม่ำเสมอช่วยให้ได้ผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้ เครื่องนี้เหมาะสำหรับใช้ในห้องคลีนรูม เครื่องสามารถรอบคลุมและประยุกต์ใช้ในส่วนการผลิต เวเฟอร์ ได้อย่างง่ายดาย

[Translate to Thai:] FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI

คุณลักษณะ:

  • กระบวนการจัดการและทดสอบเวเฟอร์อัตโนมัติเต็มรูปแบบ ช่วยให้จัดสรรเจ้าหน้าที่ได้อย่างมีประสิทธิภาพ
  • สามารถทดสอบโครงสร้างที่มีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 10 µm ได้อย่างแม่นยำ
  • ระบุตำแหน่งที่ต้องการวัดโดยอัตโนมัติ โดยใช้ระบบการตรวจจับด้วยภาพ
  • การใช้งานที่เรียบง่ายผ่านซอฟต์แวร์ WinFTM ของ Fischer
  • รองรับการใช้งานแบบแยก: สามารถทำการวัดแบบแมนนวลได้ตลอดเวลา
  • ยืดหยุ่น: สถานีต่อเทียบสำหรับ FOUP, SMIF และคาสเซตสำหรับเวเฟอร์ขนาด 6"", 8"" และ 12""

การประยุกต์ใช้:

การวัดความหนาของชั้นเคลือบ

  • ชั้นเคลือบเมทัลไลเซชันฐาน (UBM) ในระดับนาโนเมตร
  • ส่วนครอบจุดเชื่อมบนแกนทองแดงแบบบางที่ปราศจากตะกั่ว Lead Free
  • การใช้งานกับผิวหน้าสัมผัสขนาดเล็กมาก และแพ็คเกจ 2.5D/3D อื่นๆ ที่มีความซับซ้อน

การวิเคราะห์วัสดุ

  • C4 และ บัมพ์จุดเชื่อมขนาดเล็ก
  • ส่วนครอบจุดเชื่อมบนแกนทองแดงที่ปราศจากตะกั่ว

ติดต่อ FISCHER

Contact

Helmut Fischer (Thailand) Co., Ltd.
1232 ถนนพระราม 9 แขวงสวนหลวง เขตสวนหลวง 10250 กรุงเทพมหานคร ประเทศไทย
Bangkok/ประเทศไทย
เบอร์โทรศัพท์: +66 2 379-9852 , +66 2 379-9853 , +66 92 284 6105
อีเมลล์: thailand@helmutfischer.com
แบบฟอร์มในการติดต่อออนไลน์

ข่าวสารข้อมูล