วิธีการวัดแบบการกระเจิงกลับของรังสีเบตา

ชั้นเคลือบและวัสดุพื้นฐานก่อนชุบรูปแบบใดที่สามารถตรวจวัดได้ด้วยวิธีการกระเจิงกลับของรังสีเบตา?

วิธีการกระเจิงกลับของรังสีเบตาสามารถตรวจวัดชั้นเคลือบที่มีเลขอะตอม Z แตกต่างจากเลขอะตอมของวัสดุพื้นฐานก่อนชุบอย่างมีนัยสำคัญ เช่น Au บน Ni, แลคเกอร์บน Fe, Sn บน Cu

วิธีการกระเจิงกลับของรังสีเบตาสามารถทำการตรวจวัดด้วยความแม่นยำเพียงใด?

ขึ้นอยู่กับพารามิเตอร์ต่างๆ เช่น ความหนาของชั้นเคลือบ องค์ประกอบของพื้นผิว เวลาการตรวจวัด ความแตกต่างของเลขอะตอมของชั้นเคลือบและวัสดุพื้นฐานก่อนชุบ

ปัจจัย 'ความหนาแน่น' มีความสำคัญสำหรับการปรับเทียบหรือไม่?

ใช่ กรณีนี้จะเกิดขึ้น
ตัวอย่าง:
เริ่มแรก อุปกรณ์ตรวจวัดได้รับการปรับเทียบโดยใช้ตัวอย่างซึ่งมีชั้นเคลือบที่มีความหนาแน่น 2g/cm³ จากนั้นทำการตรวจวัดตัวอย่างชุดใหม่ซึ่งมีชั้นเคลือบที่มีความหนาแน่น 1g/cm³ หากไม่ได้ทำการปรับเทียบใหม่ จะทำให้เกิดข้อผิดพลาดในการตรวจวัด ซึ่งหมายความว่าค่าที่วัดได้จะน้อยเกินไปเสมอ ลักษณะดังกล่าวเนื่องจากอุปกรณ์จะประเมินสัญญาณการตรวจวัดของตัวอย่างชุดใหม่ในลักษณะเดียวกับเมื่อชั้นเคลือบมีความหนาแน่น 2g/cm³

ติดต่อ FISCHER

Contact

Helmut Fischer (Thailand) Co., Ltd.
1232 ถนนพระราม 9 แขวงสวนหลวง เขตสวนหลวง 10250 กรุงเทพมหานคร ประเทศไทย
Bangkok/ประเทศไทย
เบอร์โทรศัพท์: +66 2 379-9852 , +66 2 379-9853 , +66 92 284 6105
อีเมลล์: thailand@helmutfischer.com
แบบฟอร์มในการติดต่อออนไลน์