FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI

^{ผลิตภัณฑ์อาจแตกต่างกันไปตามรุ่นหรือคุณสมบัติ}

ตัวเลือกแรกสำหรับการวัดเวเฟอร์แบบอัตโนมัติ

เครื่องมือวัดพิเศษสำหรับการวัดและวิเคราะห์โครงสร้างที่เล็กที่สุด การเคลือบที่บางมาก และการชุบหลายชั้นบนเวเฟอร์ที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางสูงสุด 12 นิ้วโดยอัตโนมัติ.

โบรชัวร์เครื่องมือวัด Automation

ขอรายละเอียดเพิ่มเติม

                    
                        ประสิทธิภาพ ¹ เพิ่มขึ้น
                    
                        50%

                        ต้องขอบคุณ DPP+

เลนส์โพลีคาปิลลารี 

                        ผลิตในองค์กรและพัฒนาอย่างต่อเนื่อง²

                    
                        อัตราส่วนต้นทุน 
                    
ที่ถูกที่สุด

¹ ² แสดงเพิ่มเติม

แสดงน้อยลง

¹ ปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานอย่างมีนัยสำคัญ และทำให้สามารถวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.

² เลนส์โพลีคาปิลลารีซึ่งมีการพัฒนาเพิ่มเติมอย่างต่อเนื่อง. เลนส์คาปิลลารีระดับไฮเอนด์ที่ผลิตโดย Fischer ซึ่งเป็นผู้ผลิตเครื่องมือตรวจวัดเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์เพียงรายเดียวของโลกที่มีการผลิตโพลีคาปิลลารีเป็นของตัวเอง.

โปรดักส์ไฮไลท์ แกลเลอรี่ภาพ คุณสมบัติและการใช้งาน สื่อ ข้อมูลเชิงลึกของ Fischer ผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม ติดต่อ

การวัดโครงสร้างบนเวเฟอร์ด้วยเครื่อง XRF ที่แม่นยำ

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ SEMI เป็นเครื่องมือวัดที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคบนเวเฟอร์แบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ. กระบวนการจัดการและตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์อัตโนมัติทำให้มั่นใจได้ถึงประสิทธิภาพที่สูงมาก และช่วยให้การจัดการและการวัดแผ่นเวเฟอร์ปราศจากข้อผิดพลาดเนื่องจากเงื่อนไขการตรวจสอบที่สอดคล้องกันผ่านสภาพแวดล้อมการตรวจสอบแบบห่อหุ้ม. เครื่องมือวัดอันทรงพลัง detector microfocus tube Ultra และ เลนส์ polycapillary สำหรับจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุดรับประกันประสิทธิภาพการวัดที่โดดเด่น.

โซลูชันระบบอัตโนมัติมีจำหน่ายในรูปแบบโซลูชันที่ออกแบบไว้ล่วงหน้า. ได้รับประโยชน์จากการออกแบบฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ที่มีอยู่. เราร่วมกันแก้ไขและปรับใช้เครื่องมือวัดอัตโนมัติตามความต้องการของคุณ.