WinFTM®

Laptop with WinFTM

หัวใจสำคัญของเครื่อง FISCHERSCOPE® X-RAYของเรา

ซอฟต์แวร์ที่ทรงพลังที่สุดในตลาดสำหรับการวัดความหนาของชั้นเคลือบและการวิเคราะห์วัสดุโดยใช้เอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์.

สมบูรณ์แบบ
ส่วนเชื่อมต่อที่กำหนดได้
รูปแบบการวัด
อัตโนมัติ
การควบคุมกระบวนการ
เชิงสถิติ

จัดการและประเมินข้อมูลการวัดอย่างมีประสิทธิภาพ.

ไม่ว่าจะเป็นการตรวจสอบขาเข้า การควบคุมคุณภาพ หรือห้องปฏิบัติการวิจัย ข้อกำหนดสำหรับซอฟต์แวร์เทคโนโลยีการวัดที่ดีจะแตกต่างกันไปตามสเปกตรัมการใช้งานของเครื่องมือวัด X-RAY FISCHERSCOPE. เพื่อให้เป็นไปตามข้อกำหนดเหล่านี้ WinFTM® จึงนำเสนอคุณสมบัติและฟังก์ชันที่จำเป็นสำหรับการวัดที่รวดเร็ว การประเมินที่มีประสิทธิภาพ และการจัดทำเอกสารข้อมูลการวัดอย่างมืออาชีพ.

ผลการวัดที่ตรวจสอบได้.

ขั้นตอนการสอบเทียบที่เรียบง่ายและมีคำแนะนำและมาตรฐานการสอบเทียบของ Fischer พร้อมใบรับรอง DAkkS

Standard-free และการวัดที่แม่นยำ 

การวัดความหนาของชั้นเคลือบและองค์ประกอบของวัสดุตามอัลกอริธึมพารามิเตอร์พื้นฐานที่พัฒนาอย่างต่อเนื่อง

อัตโนมัติ.

การโปรแกรมและการดำเนินการลำดับการวัดที่เกิดซ้ำโดยอัตโนมัติ

การประเมินผลที่สะดวก.

การประเมินทางสถิติที่ครอบคลุม รวมถึงการควบคุมกระบวนการทางสถิติ (SPC)

การส่งออกข้อมูลโดยตรง.

ส่งออกข้อมูลไปยังอินเทอร์เฟซต่างๆ ได้อย่างง่ายดาย เช่น ระบบการจัดการคุณภาพ

สร้างรายงานข้อมูลได้อย่างง่ายดาย.

รายงานที่ปรับแต่งได้อย่างเต็มที่และการสร้างโปรโตคอลการวัดผลแต่ละรายการเพียงคลิกเดียว

ฟังก์ชันการทำงาน

คุณสมบัติเหล่านี้และคุณสมบัติอื่นๆ มากมายทำให้ WinFTM® เป็นซอฟต์แวร์ XRF ที่ครอบคลุมมากที่สุดสำหรับการควบคุมคุณภาพ:

  • การจดจำรูปแบบอัตโนมัต

      WinFTM® มีเทคโนโลยีการจดจำภาพและการจดจำรูปแบบขั้นสูงที่ช่วยให้สามารถระบุโครงสร้างที่กำหนดไว้ล่วงหน้าได้โดยอัตโนมัติ. ซึ่งช่วยให้คุณสามารถชดเชยความเบี่ยงเบนในการวางตำแหน่งเมื่อทำการวัดชิ้นส่วนทดสอบหลายชิ้น (เช่น ในการตรวจสอบชิ้นงานในการผลิต).

  • การจดจำวัสดุโดยอัตโนมัติ (ประเภทของสาร)

      ด้วยการจดจำวัสดุอันชาญฉลาด ชิ้นส่วนทดสอบต่างๆ ที่มีองค์ประกอบและความหนาของชั้นต่างกันจึงสามารถจัดเรียงเป็นประเภทของสารที่กำหนดไว้ล่วงหน้าได้. จากนั้น WinFTM® จะสามารถโหลดพารามิเตอร์การสอบเทียบและการวัดที่เหมาะสมสำหรับชิ้นส่วนทดสอบแต่ละชิ้นได้โดยอัตโนมัติ.

  • กระบวนการวัดอัตโนมัติ

      WinFTM® ช่วยให้สามารถตั้งโปรแกรมและดำเนินการลำดับการวัดที่เกิดซ้ำได้โดยอัตโนมัติ. แม้แต่กระบวนการวัดที่ซับซ้อนก็สามารถดำเนินการได้อย่างง่ายดายและเชื่อถือได้ด้วยการคลิกหรือการกดแป้นพิมพ์. คำแนะนำสำหรับผู้ปฏิบัติงานสามารถแสดงบนหน้าจอได้อย่างชัดเจน ซึ่งอำนวยความสะดวกในการใช้งานเพิ่มเติม.

  • การตรวจสอบย้อนกลับทำได้ง่าย

      ต้องขอบคุณฟังก์ชันการสอบเทียบที่ใช้งานง่ายของ WinFTM® และ Fischer ที่ครอบคลุมของเราผลงานมาตรฐานการสอบเทียบคุณจะได้รับผลการวัดที่เชื่อถือได้และตรวจสอบย้อนกลับได้. WinFTM® รองรับการสอบเทียบตามมาตรฐานด้วยมาตรฐานการสอบเทียบสูงสุด 64 มาตรฐานต่องานการวัด.

  • การตรวจสอบเครื่องมือวัด

      WinFTM® สนับสนุนคุณด้วยฟังก์ชันครบวงจรและเป็นอัตโนมัติเต็มรูปแบบสำหรับการตรวจสอบเกจ. เมื่อใช้ร่วมกับชุดตรวจสอบเครื่องมือวัดที่มีให้เลือกใช้ของเรา เครื่องมือตรวจวัดของคุณจะตรวจสอบตัวเองตามช่วงเวลาที่กำหนด และบันทึกผลลัพธ์ได้อย่างน่าเชื่อถือ.

  • การวัด Standard free

      ด้วยอัลกอริธึมพารามิเตอร์พื้นฐานของเรา ซึ่งได้รับการพัฒนาและเพิ่มประสิทธิภาพเพิ่มเติมตลอดหลายปีที่ผ่านมา ระบบของเราช่วยให้สามารถกำหนดความหนาของชั้นเคลือบและวิเคราะห์วัสดุได้ แม้ว่าจะไม่ได้สอบเทียบด้วยมาตรฐานการสอบเทียบก็ตาม. ซึ่งช่วยประหยัดเวลาและเพิ่มความยืดหยุ่นในการวัด.

  • ฟังก์ชันทางสถิติรวมถึงการควบคุมกระบวนการทางสถิติ (SPC)

      WinFTM® นำเสนอการประเมินทางสถิติที่ครอบคลุม เช่น ฮิสโตแกรม เครือข่ายความน่าจะเป็น รวมถึงไดอะแกรม SPC รวมถึง Cp/Cpk การคำนวณ. ทำให้คุณสามารถวิเคราะห์ข้อมูลการวัดได้อย่างมีประสิทธิภาพและตรวจจับความแปรผันของกระบวนการได้.

  • ฟังก์ชันรายงาน

      ซอฟต์แวร์ของเราช่วยให้คุณสร้างโปรโตคอลได้อย่างง่ายดายด้วยส่วนหัวของโปรโตคอลที่แก้ไขได้ ข้อมูลการวัดผล ผลลัพธ์ทางสถิติ และอื่นๆ อีกมากมาย. คุณสามารถพิมพ์รายงานหรือส่งออกผลการวัดในรูปแบบต่าง.

  • โปรโตคอลการวัดแบบกำหนดเอง

      รับรายงานการวัดผลด้วยการคลิกเพียงไม่กี่ครั้ง! ด้วยเทมเพลตที่กำหนดค่าได้อย่างสมบูรณ์ คุณจึงสามารถส่งออกผลการวัดในรูปแบบที่ถูกต้องได้ภายในไม่กี่วินาที.

การประยุกต์ใช้งาน

การวัดความหนาผิวเคลือบ
การวิเคราะห์วัสดุ
การวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงคุณภาพ
การวิเคราะห์โซลูชัน
  • ตัวแปรที่วัดได้สูงสุด 24 ตัวพร้อมกัน (ตัวแปรที่วัดได้อาจเป็นความหนาของชั้นชุบหรือความเข้มข้นขององค์ประกอบ)
  • ความหนาและองค์ประกอบของชั้นชุบสามารถวัดได้แบบคู่ขนาน
  • โหมดการวัดพื้นที่
  • วัดได้ถึง 24 องค์ประกอบพร้อมกัน
  • การวิเคราะห์ทองคำพร้อมตัวบ่งชี้ผลลัพธ์เป็น % หรือกะรัต
  • การวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามสำหรับการคัดกรอง RoHS
    • การระบุวัสดุอัตโนมัต
    • สัญญาณไฟจราจรแบบธรรมดาสำหรับการผ่าน/ไม่ผ่าน
  • การวิเคราะห์วัสดุที่ไม่รู้จัก
  • รวมการระบุองค์ประกอบอัตโนมัติ
  • วัดองค์ประกอบได้สูงสุด 24 ธาตุพร้อมกัน
  • การแปลงเศษส่วนมวลให้เป็นความเข้มข้นของสารละลายโดยอัตโนมัติ
  • การวัดความหนาผิวเคลือบ

      • ตัวแปรที่วัดได้สูงสุด 24 ตัวพร้อมกัน (ตัวแปรที่วัดได้อาจเป็นความหนาของชั้นชุบหรือความเข้มข้นขององค์ประกอบ)
      • ความหนาและองค์ประกอบของชั้นชุบสามารถวัดได้แบบคู่ขนาน
      • โหมดการวัดพื้นที่
  • การวิเคราะห์วัสดุ

      • วัดได้ถึง 24 องค์ประกอบพร้อมกัน
      • การวิเคราะห์ทองคำพร้อมตัวบ่งชี้ผลลัพธ์เป็น % หรือกะรัต
      • การวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามสำหรับการคัดกรอง RoHS
        • การระบุวัสดุอัตโนมัต
        • สัญญาณไฟจราจรแบบธรรมดาสำหรับการผ่าน/ไม่ผ่าน
  • การวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงคุณภาพ

      • การวิเคราะห์วัสดุที่ไม่รู้จัก
      • รวมการระบุองค์ประกอบอัตโนมัติ
  • การวิเคราะห์โซลูชัน

      • วัดองค์ประกอบได้สูงสุด 24 ธาตุพร้อมกัน
      • การแปลงเศษส่วนมวลให้เป็นความเข้มข้นของสารละลายโดยอัตโนมัติ
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Report documentation

ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์.

วิธีการวัด.

เรียนรู้และค้นพบว่าการวิเคราะห์ด้วยเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ทำงานอย่างไร.

เรียนรู้เพิ่มเติม
การบริการ.

เรานำเสนอทุกสิ่งที่คุณต้องการเพื่อผลลัพธ์การวัดที่เชื่อถือได้.

เรียนรู้เพิ่มเติม
ทำไมต้องฟิสเชอร์.

สัมผัสประสบการณ์ดีๆ มากมายที่บ่งบอกความเป็นเราในฐานะบริษัท.

เรียนรู้เพิ่มเติม

ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.