FISIQ® X
ใหม่
ที่เรียบง่ายและทันสมัย
ที่มีการแนะนำขั้นตอนและมีประสิทธิภาพ
ที่หลากหลาย
ออกแบบมาเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการทำงานของคุณ
ฉลาดขึ้น เร็วขึ้น และใช้งานง่ายขึ้น — นี่คือ FISIQ® X ซอฟต์แวร์ XRF ที่ใช้งานง่ายและทันสมัยที่สุดในตลาด! ด้วย FISIQ® X คุณสามารถวัดความหนาของสารเคลือบได้เร็วขึ้นสูงสุด 6 เท่า* และวิเคราะห์วัสดุได้เร็วขึ้นสูงสุด 13 เท่า* ด้วยอัลกอริทึมที่ได้รับการปรับปรุงและการวิเคราะห์สเปกตรัมที่ขับเคลื่อนด้วย AI ซึ่งออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการสมัยใหม่ FISIQ® X พร้อมใช้งานสำหรับอุปกรณ์ FISCHERSCOPE® XDAL® และ FISCHERSCOPE® XDV® ทำให้การควบคุมคุณภาพของคุณพร้อมสำหรับอนาคต!
* การเปรียบเทียบเวลาในการคำนวณระหว่าง WinFTM® 6 และ FISIQ® X
อินเทอร์เฟซผู้ใช้ที่ทันสมัย
ฟังก์ชั่นการดําเนินงานส่วนกลางและข้อมูลสามารถมองเห็นได้อย่างชัดเจน
เวิร์กโฟลว์อัจฉริยะ
สำหรับกระบวนการวัดที่มีประสิทธิภาพและการจัดการที่ง่ายดาย
กลไกอัลกอริทึมที่ได้รับการปรับปรุง
ความเสถียร ความแม่นยำ และความสามารถในการทำซ้ำได้อย่างยอดเยี่ยม แม้ในงานวัดที่ท้าทายที่สุด
โหมดสเปกตรัมที่รองรับ AI
วิเคราะห์และเปรียบเทียบสเปกตรัมของคุณได้สะดวกกว่าที่เคย
ผลการวัดที่ตรวจสอบได้
เวิร์กโฟลว์การสอบเทียบที่มีคำแนะนำและมาตรฐานการสอบเทียบจาก FISCHER พร้อมใบรับรองจาก DAkkS
การสอบเทียบ
ไลบรารีมาตรฐานสำหรับการจัดการมาตรฐานการสอบเทียบของคุณอย่างชัดเจน
ด้วย FISIQ® X คุณเพิ่มประสิทธิภาพการทำงานของคุณผ่านกระบวนการทำงานที่ง่ายและมีประสิทธิภาพ
การเปรียบเทียบและวิเคราะห์สเปกตรัมไม่เพียงแต่รวดเร็วและง่ายขึ้นด้วยโหมดสเปกตรัมที่ขับเคลื่อนด้วย AI
FISIQ® X ยังรองรับการวิเคราะห์แบบจำนวนมากอย่างรวดเร็ว ช่วยให้คุณระบุองค์ประกอบของวัสดุที่ไม่รู้จักได้อย่างมีประสิทธิภาพ
วัดตามมาตรฐานของคุณได้อย่างมั่นใจด้วยเวิร์กโฟลว์การสอบเทียบที่เรียบง่ายและมีการแนะนำขั้นตอน พร้อมใช้งานได้ทันทีด้วยคลังมาตรฐานสำเร็จรูปของเรา
กำหนดโปรแกรมการวัดของคุณล่วงหน้าได้อย่างง่ายดายด้วยการลากและวาง เพื่อเพิ่มความปลอดภัยในกระบวนการของคุณและรับรองผลลัพธ์ที่สม่ำเสมอและสามารถทำซ้ำได้
วางตัวอย่างของคุณและเริ่มโปรแกรมการวัด ดูภาพสดและข้อมูลที่เกี่ยวข้องทั้งหมดที่แสดงอย่างชัดเจนเพื่อให้ได้ข้อมูลเชิงลึกทันที
ระบุองค์ประกอบได้ทันที ดูผลลัพธ์ทั้งหมดได้ในครั้งเดียว และสร้างรายงานได้อย่างรวดเร็วเพียงไม่กี่คลิก
FISIQ® X สามารถใช้งานร่วมกับ FISCHERSCOPE® XDAL® หรือ FISCHERSCOPE® XDV® ได้อย่างลงตัว ช่วยยกระดับกระบวนการควบคุมคุณภาพของคุณไปอีกขั้น!
เวิร์กโฟลว์ – ง่ายและมีประสิทธิภาพ
การสอบเทียบ
การวัด
การวิเคราะห์
การรายงาน
- สร้างการสอบเทียบได้อย่างง่ายดาย
- เลือก standards จากไลบรารี
- วัด standards
- การสอบเทียบสำเร็จ
- เลือกโปรแกรมจากแถบงาน
- วางตัวอย่างของคุณ
- เปิดโปรแกรมวัดผล
- ตรวจสอบผลลัพธ์ได้อย่างง่ายดาย
- วางตัวอย่างของคุณ
- วัดสเปกตรัม
- ระบุองค์ประกอบของธาตุได้ทันที
- แสดงค่าความเข้มข้นควบคู่ไปกับสเปกตรัม
- เลือกบล็อกผลลัพธ์
- เลือกเทมเพลตรายงาน
- ส่งออกด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว
- สร้าง PDF โดยอัตโนมัติ
การสอบเทียบ
- สร้างการสอบเทียบได้อย่างง่ายดาย
- เลือก standards จากไลบรารี
- วัด standards
- การสอบเทียบสำเร็จ
การวัด
- เลือกโปรแกรมจากแถบงาน
- วางตัวอย่างของคุณ
- เปิดโปรแกรมวัดผล
- ตรวจสอบผลลัพธ์ได้อย่างง่ายดาย
การวิเคราะห์
- วางตัวอย่างของคุณ
- วัดสเปกตรัม
- ระบุองค์ประกอบของธาตุได้ทันที
- แสดงค่าความเข้มข้นควบคู่ไปกับสเปกตรัม
การรายงาน
- เลือกบล็อกผลลัพธ์
- เลือกเทมเพลตรายงาน
- ส่งออกด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว
- สร้าง PDF โดยอัตโนมัติ
วิดีโอผลิตภัณฑ์
โบรชัวร์
วิดีโอผลิตภัณฑ์
FISIQ® X Softwareโบรชัวร์
FISCHER ข้อมูลเชิงลึก
ค้นพบผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม
