FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL
ใหม่
ผลิตภัณฑ์อาจแตกต่างกันไปตามรุ่นหรือคุณสมบัติ
เพื่อความเร็วในการประมวลผลสูงสุด
ในกลุ่มเครื่องมือวัดระดับเดียวกัน ด้วยความมั่นคงที่เหนือกว่า
เพื่อการจับยึดชิ้นงานที่สมบูรณ์แบบ
ออกแบบมาโดยเฉพาะสำหรับ PCB ที่มีความซับซ้อน พร้อมรองรับการตรวจวัดปริมาณงานสูงสุด
รวดเร็ว แม่นยำ และเชื่อถือได้ – นี่คือ FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL ของเรา! ด้วยการออกแบบให้เป็นรุ่นขนาดใหญ่ของFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB ที่ได้รับความไว้วางใจ เครื่องมือนี้จึงช่วยให้คุณสามารถตรวจวัดและควบคุมคุณภาพ PCB ขนาดใหญ่ได้อย่างมีประสิทธิภาพ พร้อมมอบความแม่นยำในระดับแนวหน้าของตลาด เครื่องมาพร้อม พื้นที่วัดขนาดใหญ่ที่สุดในระดับเดียวกัน ระบบ Polycapillary Optic ที่ผลิตโดย Fischer เอง, Silicon Drift Detector (SDD) ขนาดใหญ่ และ Microfocus Tube Ultra จึงพร้อมสำหรับการควบคุมคุณภาพปริมาณงานสูง แม้กับโครงสร้างที่มีขนาดเล็กมากและชั้นเคลือบที่บางที่สุด เช่น ENIG, ENEPIG, Immersion Silver และ Immersion Tin ค้นพบโซลูชันการวัดสำหรับ PCB ขนาดใหญ่ที่ระบบมาตรฐานทั่วไปไม่สามารถรองรับได้!!
วัดขนาดแผงวงจรพิมพ์ (PCB) ขนาดใหญ่ด้วยระบบเดียว
พื้นที่วัดขนาดใหญ่ที่สุดในระดับเดียวกัน 610×610 มม.(24×24 นิ้ว)ช่วยให้สามารถจัดวางชิ้นงานและตรวจวัดได้ในครั้งเดียว
Vacuum Chuckเพื่อการจับยึดชิ้นงานอย่างมั่นคง
ช่วยยึด PCB แม้มีความบางมากให้อยู่กับที่อย่างมั่นคง โดยไม่ต้องปรับตำแหน่งชิ้นงานใหม่ (อุปกรณ์เสริม)
เลื่อนโต๊ะวัดกลับได้โดยไม่ต้องใช้มือ – สะดวกและปลอดภัยยิ่งขึ้น
ควบคุมการเลื่อนโต๊ะวัดด้วย Foot Switch ช่วยให้การจัดการ PCB ขนาดใหญ่ระหว่างการวัด XRF เป็นไปอย่างรวดเร็วและปลอดภัย
พร้อมสำหรับ Smart Factory.
สามารถเชื่อมต่อเข้ากับ สายการผลิตอัตโนมัติ ได้อย่างราบรื่น หรือใช้งานเป็นเครื่องวัดแบบ Standalone ได้ตามความต้องการ
กำหนดตำแหน่งวัดที่ถูกต้อง-โดยอัตโนมัติ
ระบบ Intelligent Pattern Recognition ช่วยให้การวัดทำได้รวดเร็วยิ่งขึ้น พร้อมลดขั้นตอนการทำงานที่ต้องควบคุมด้วยตนเอง
ความแม่นยำในการวัดระดับแนวหน้าของตลาด
ให้ผลการวัดที่ แม่นยำและทำซ้ำได้อย่างสม่ำเสมอ แม้ใช้งานในระยะยาว
โครงสร้างเฟรมที่โดดเด่น แข็งแรง และมั่นคง
เลือกใช้ชิ้นส่วนเกรดอุตสาหกรรมที่แข็งแรง พร้อมการออกแบบที่ผ่านการพิสูจน์ด้านความทนทาน เพื่อให้เครื่องมี เสถียรภาพสูงและใช้งานได้ยาวนาน
ผลการวัดที่เชื่อถือได้ตามมาตรฐาน IPC
สอดคล้องกับมาตรฐาน IPC ที่เกี่ยวข้องกับการเคลือบผิว PCB ช่วยเพิ่มความมั่นใจในกระบวนการผลิตและการควบคุมคุณภาพอย่างสูงสุด
วัดความหนาผิวเคลือบได้อย่างรวดเร็ว แม่นยำ และเชื่อถือได้ ด้วย FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL รุ่นใหม่
ออกแบบมาโดยเฉพาะสำหรับ PCB ขนาดใหญ่ พร้อมรองรับการตรวจวัดปริมาณงานสูงสุด
ระบบกำหนดตำแหน่งแบบครั้งเดียวที่มีพื้นที่วัดใหญ่ที่สุดในประเภทเดียวกัน คือ 610 × 610 มม. (24 × 24 นิ้ว) ทำให้คุณสามารถวัด PCB ที่ซับซ้อนได้อย่างครอบคลุมจบในเครื่องเดียว พร้อมแท่นจับยึดระบบสูญญากาศ (อุปกรณ์เสริม) ที่ช่วยล็อกแผ่น PCB ชนิดบางพิเศษได้อย่างมั่นคง
การใช้ Foot Switch (สวิตช์เท้า) ช่วยให้สามารถเลื่อนโต๊ะวัดกลับได้โดยไม่ต้องใช้มือ ทำให้การจัดการแผ่น PCB ขนาดใหญ่ระหว่างการวัดด้วย XRF ปลอดภัยและมีประสิทธิภาพมากยิ่งขึ้น
ระบบ Intelligent Pattern Recognition สามารถตรวจจับและค้นหาตำแหน่งที่เหมาะสมสำหรับการวัดได้โดยอัตโนมัติ ช่วย เพิ่มความรวดเร็วในการทำงาน และ ลดการดำเนินการด้วยตนเองของผู้ปฏิบัติงาน
ส่วนประกอบระดับอุตสาหกรรมที่มีความแข็งแรงและทนทาน ให้ความเสถียรในการทำงานที่เหนือกว่า พร้อมการออกแบบที่ได้รับการพิสูจน์แล้วว่าสามารถใช้งานได้ยาวนาน
คุณสมบัติ
หลอด Microfocus Tube Ultra พร้อม Tungsten Anode ให้ประสิทธิภาพที่สูงยิ่งขึ้นสำหรับการวัดบนจุดขนาดเล็กมาก; พร้อมตัวเลือก Molybdenum Anode เพื่อรองรับการใช้งานที่หลากหลายยิ่งขึ้น
ฟิลเตอร์ที่เปลี่ยนได้ 4 แบบ
สามารถรองรับชิ้นงานที่มีความสูงได้สูงสุด 10 มม.
เทคโนโลยี Polycapillary Optics ช่วยให้สามารถวัดในจุดที่มีขนาดเล็กเป็นพิเศษ โดยใช้เวลาในการวัดสั้นลง พร้อมความเข้มของรังสีเอกซ์สำหรับการกระตุ้นที่สูง ทำให้การวัดมีประสิทธิภาพและแม่นยำยิ่งขึ้น
จุดวัดมีขนาดประมาณ Ø 10 µm หรือ 17 µm (FWHM)
โต๊ะวัดความแม่นยำสูงแบบตั้งโปรแกรมได้ รองรับแผ่น PCB ขนาดสูงสุด 610 × 610 มม. และสามารถติดตั้ง Vacuum Chuck (ระบบจับยึดชิ้นงานด้วยสุญญากาศ) ได้ตามต้องการ
ตัวตรวจวัดแบบ Silicon Drift Detector (SDD) ขนาด 20 mm² หรือ 50 mm² ให้ความแม่นยำสูงสุดสำหรับการวัด ฟิล์มเคลือบที่มีความบางมาก
DPP+ ให้ความแม่นยำสูงสุด แม้ในระยะเวลาการวัดที่สั้น
สวิตช์เท้าสำหรับสั่งให้แท่นวัดเลื่อนออกโดยอัตโนมัติ
ตัวอย่างการใช้งาน
- วัดชิ้นส่วนและโครงสร้างขนาดเล็กบนพื้นผิวเรียบของแผ่น PCB ขนาดสูงสุด 610 × 610 มม. (24 × 24 นิ้ว)
- วิเคราะห์ชั้นเคลือบที่มีความบางมาก เช่น ชั้นทอง (Gold) / แพลเลเดียม (Palladium) ที่มีความหนาเพียง ≤ 3 นาโนเมตร หรือ 10 นาโนเมตร
- รองรับการวัดแบบอัตโนมัติ เช่น การใช้งานในกระบวนการ ควบคุมคุณภาพ (Quality Control)
- เมื่อติดตั้ง Polycapillary Optics ขนาด 10 μm สามารถวัดด้วย จุดวัดขนาดเล็กเป็นพิเศษ พร้อมทำงานร่วมกับ Silicon Drift Detector (SDD) ขนาดใหญ่ เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพในการวัด
- เมื่อติดตั้ง Vacuum Chuck สามารถรองรับการวัดบน แผ่น PCB แบบยืดหยุ่น (Flexible PCB)
- รองรับมาตรฐาน IPC อย่างครบถ้วน ได้แก่ IPC-4552 และ IPC-4556 (ENIG, ENEPIG), IPC-4553A (Silver) และ IPC-4554 (Tin)
มีการใช้งานในรูปแบบอื่นที่ต้องการสอบถามเพิ่มเติมหรือไม่?ติดต่อเราได้เลย!
แนะนำการประยุกต์ใช้งาน
คู่มือแนะนำการใช้งาน
บทเรียนแนะนำ
สัมมนาออนไลน์
โบรชัวร์
แนะนำการประยุกต์ใช้งาน
AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MB AN111 High-throughput quality control of the thinnest coatings and the finest structures on large-scale PCBs 3.21 MBคู่มือแนะนำการใช้งาน
บทเรียนแนะนำ
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®สัมมนาออนไลน์
Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกจาก FISCHER
ดูผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม
