FISCHERSCOPE® XDV®
ใหม่
พร้อมรูปทรงการวัดที่ปรับให้เหมาะสม
ที่รวดเร็วเป็นพิเศษ
คำแนะนำสำหรับผู้ใช้ ด้วยซอฟต์แวร์ FISIQ® X
ความเร็วพบกับความแม่นยำ
ออกแบบมาเพื่อความเร็วสูงสุด ความแม่นยำสูงสุด และความใช้งานที่เข้าใจง่าย นี่คือการแนะนำเครื่องมือ XRF รุ่นใหม่ FISCHERSCOPE® XDV® ในฐานะหนึ่งในโซลูชัน XRF ระดับไฮเอนด์ของเรา เครื่องมือนี้ถูกออกแบบมาเพื่อการวัดโครงสร้างระดับไมโครอย่างมั่นใจ เมื่อทำงานร่วมกับซอฟต์แวร์ล้ำสมัย FISIQ® X อุปกรณ์นี้ให้ประสิทธิภาพการวัดที่ยอดเยี่ยม นอกจากนี้ เวิร์กโฟลว์ที่เรียบง่ายและมีประสิทธิภาพช่วยให้กระบวนการวัดเป็นไปอย่างราบรื่นและเพิ่มปริมาณงานในกระบวนการควบคุมคุณภาพของคุณอย่างมาก
การจัดตำแหน่งตัวอย่างความเร็วสูงพิเศษ
แกน Z ความเร็วสูง เร็วขึ้น 6 เท่า*
การจับภาพตัวอย่างอย่างรวดเร็ว
โฟกัสอัตโนมัติภายใน 2 วินาที – เร็วขึ้น 14 เท่า*
การทำงานอัตโนมัติ
ฝาครอบแบบอัตโนมัติหรือแบบแมนนวล เพื่อความยืดหยุ่นสูงสุด
แสงสว่างและการจับภาพตัวอย่างที่เหมาะสมที่สุด
ความละเอียดกล้องสูงขึ้น 10 เท่า* และไฟ LED หลายโซน
* เมื่อเทียบกับ FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
ความแม่นยำสูงที่ไม่มีใครเทียบได้และผลลัพธ์ที่ทำซ้ำได้
รูปทรงการวัดที่ได้รับการปรับให้เหมาะสม
สถานะอุปกรณ์มองเห็นได้ตลอดเวลา
ไฟแสดงสถานะ 180° ที่ใช้งานง่าย
การใช้งานที่ง่ายขึ้นและการแนะนำผู้ใช้ที่ดีขึ้น
ซอฟต์แวร์ FISIQ® X ใหม่
ตรวจสอบทุกสิ่งทุกอย่างได้ตลอดเวลาด้วยกล้องมุมมองสูงความละเอียดสูง ไม่ว่าจะเป็นผิวด้าน ผิวเงา หรือผิวสะท้อนแสง – ระบบไฟ LED แบบหลายโซนเผยให้เห็นทุกรายละเอียดอย่างแม่นยำ
เลือกระหว่างการทำงานแบบอัตโนมัติและแบบแมนนวล เสริมด้วยฝาครอบที่ควบคุมด้วยมอเตอร์เพื่อความยืดหยุ่นสูงสุดในงานวัดของคุณ
ดูสถานะของเครื่องได้ทันทีด้วยไฟแสดงสถานะที่เข้าใจง่าย: โหมดสแตนด์บาย (สีน้ำเงิน), พร้อมวัด (สีเขียว) หรือกำลังทำการวัด (สีส้มแบบกระพริบ)
ได้รับประโยชน์จากความแม่นยำในการวัดที่ยอดเยี่ยม และได้รับผลลัพธ์ที่น่าเชื่อถือและมีคุณภาพสูง ด้วยการปรับระยะห่างที่เหมาะสมระหว่างหลอดเอกซเรย์, ตัวอย่าง, และตัวตรวจจับ.
บรรลุการวัดที่รวดเร็วและแม่นยำอย่างยิ่งด้วยกระบวนการทำงานที่ง่ายและมีประสิทธิภาพ แม้ในแอปพลิเคชันที่ท้าทายที่สุด เช่น การวิเคราะห์เวเฟอร์.
พบ FISIQ® X ตอนนี้ – ซอฟต์แวร์ XRF ตัวแรกที่มีเทคโนโลยี AI!
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัสพร้อมแอโนดทังสเตน โดยสามารถเลือกแอโนดชนิดอื่นได้ตามคำขอ
Silicon drift detector 50 มม.² เพื่อการวัดด้วยความแม่นยำสูงสุดบนชั้นชุบที่บาง
ฝาครอบแบบอัตโนมัติและแท่นวัดแบบตั้งโปรแกรมได้ สำหรับการวัดแบบอัตโนมัติ
ช่องรับแสงแบบเปลี่ยนได้ 4 เท่าและฟิลเตอร์แบบเปลี่ยนได้ 6 เท่า
การรับรองเฉพาะรายในฐานะเครื่องมือที่มีระบบป้องกันอย่างสมบูรณ์
FISIQ® X ซอฟต์แวร์พร้อมโหมดสเปกตรัมที่รองรับ AI เพื่อกระบวนการวัดที่ชาญฉลาดยิ่งขึ้น
ระยะการวัดแบบปรับได้ต่อเนื่อง โดยทำการวัดจากด้านบนลงล่าง
รองรับความสูงของตัวอย่างชิ้นงานวัดได้สูงสุด 140 มม.
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวิเคราะห์ชั้นเคลือบบางมาก เช่น ชั้นทอง/แพลเลเดียมที่มีความหนา ≤ 50 นาโนเมตร (0.002 mils)
- การวัดชั้นเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น การวัดความหนาชั้นทองบนเฟรมตะกั่วได้ถึงระดับ 2 นาโนเมตร (0.00008 mils)
- การวัดชั้นเคลือบบางพิเศษบนเวเฟอร์ซิลิคอน
- การกำหนดการเคลือบธาตุเบา บนเวเฟอร์ (Al, Ti, NiP)
- ฟอยล์สำหรับเซลล์เชื้อเพลิงและแบตเตอรี่: การวิเคราะห์โลหะ (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ในเมทริกซ์อินทรีย์ (คาร์บอน)
- การวิเคราะห์ทองคำที่ต้องการความแม่นยำระดับสูงสุด
- การวัดระบบชั้นเคลือบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การวัดแบบอัตโนมัติ เช่น ในกระบวนการควบคุมคุณภาพ
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่ จากนั้นติดต่อเราได้เลย!
หมายเหตุเกี่ยวกับบทช่วยสอน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
โบรชัวร์
หมายเหตุเกี่ยวกับบทช่วยสอน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®โบรชัวร์
FISCHER ข้อมูลเชิงลึก
ค้นพบผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม
