FISCHERSCOPE® XDAL®
ใหม่
การจัดตำแหน่งที่เร็วขึ้น
ระบบโฟกัสอัตโนมัติที่เร็วขึ้น
ความละเอียดของกล้องที่สูงขึ้น
¹ เมื่อเปรียบเทียบกับ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
² ขึ้นอยู่กับพื้นผิวของตัวอย่างงานวัด
การจัดการที่สะดวกสบาย ความรวดเร็ว และความแม่นยำสูงสุด
FISCHERSCOPE® XDAL® เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการใช้งานในด้านการวัดผิวเคลือบที่มีความซับซ้อนและบางมาก <0.05 μm และสำหรับการวิเคราะห์วัสดุในระดับ ppm เครื่องมือวัดรุ่นนี้มาพร้อมกับเครื่องตรวจจับที่ทรงพลังล่าสุด นั่นคือ silicon drift detector ขนาด 50 มม.² ไฟแสดงสถานะที่ใช้งานง่ายและฝาเครื่องเปิดปิดแบบอัตโนมัติ ร่วมกับซอฟต์แวร์ FISIQ® X ของ XRF ที่ทันสมัย ช่วยให้กระบวนการวัดเป็นไปอย่างราบรื่น เพื่อความสะดวก ปลอดภัย และรองรับปริมาณงานสูงสุด
แกน Z ความเร็วสูง
เพื่อการจัดวางตัวอย่างด้วยความรวดเร็ว
โฟกัสอัตโนมัติภายใน 2 วินาที
การรับรู้และมุ่งเน้นวัตถุการวัดของคุณ อย่างรวดเร็วเพื่อกระบวนการวัดที่มีประสิทธิภาพมากยิ่งขึ้น
กล้องแสดงภาพรวมความละเอียดสูง
รักษาภาพรวมที่ดีขึ้นด้วยภาพที่คมชัดและมีรายละเอียดมากขึ้น
ไฟ LED หลายโซน
ให้แสงสว่างที่สมบูรณ์แบบตลอดเวลา ไม่ว่าพื้นผิวจะเป็นแบบใดก็ตาม
ฝาเครื่องเปิดปิดอัตโนมัติ
การทำงานด้วยตนเองหรืออัตโนมัติเพื่อความยืดหยุ่นสูงสุด
รูปทรงการวัดที่เหมาะสมที่สุด
ความแม่นยำในการวัดที่ไม่มีใครเทียบได้เนื่องจากระยะห่างที่เพิ่มขึ้นระหว่างหลอดเอกซเรย์ ตัวอย่าง และตัวตรวจจับ
ไฟแสดงสถานะที่ใช้งานง่าย
ตรวจสอบสถานะของเครื่องมือวัดได้ในพริบตา
กล้องถ่ายภาพรายละเอียดพร้อมไฟ LED แบบหลายโซน: แสงสว่างที่เหมาะสมสำหรับพื้นผิวตัวอย่างทุกประเภท (ผิวด้าน มันเงา สะท้อนแสง)
ฝาเครื่องใช้มอเตอร์ที่สามารถเปิดและปิดได้โดยการกดปุ่ม หรือควบคุมผ่านซอฟต์แวร์ เพื่อให้กระบวนการวัดดำเนินไปอย่างราบรื่นและมีประสิทธิภาพสูงสุด
ระยะห่างที่ได้รับการปรับปรุงระหว่างหลอดเอกซเรย์ ตัวอย่าง และเครื่องตรวจจับ ทำให้มั่นใจ และรับประกันความแม่นยำในการวัดที่ไม่มีใครเทียบได้ เพื่อผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้และมีคุณภาพสูงสูงสุด
แถบไฟ LED แสดงสถานะของเครื่องมือวัดได้ทันที ไฟสีน้ำเงินระบุโหมดสแตนด์บาย ไฟสีเขียวระบุเครื่องมือวัดพร้อมสำหรับการวัด และไฟสีส้มกะพริบแสดงว่าอยู่ระหว่างการวัด
FISIQ® X: ซอฟต์แวร์ XRF ที่ทันสมัยและเป็นรุ่นแรกพร้อมโหมดสเปกตรัมที่รองรับ AI เพิ่มประสิทธิภาพการทำงานของคุณด้วยเวิร์กโฟลว์ที่เรียบง่ายและมีประสิทธิภาพ
คุณสมบัติ
Microfocus tube พร้อม tungsten anode มีขั้วบวกอื่นๆ ให้เลือกตามคำขอ
ตัวเครื่องแบบ C-slot การวัดแบบอัตโนมัติสำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่
ตัวตรวจจับ Silicon drift detector 20 มม.² หรือ 50 มม.² เพื่อความแม่นยำสูงสุดบนชั้นบาง
ช่องรับแสงแบบเปลี่ยนได้ 4 เท่าและฟิลเตอร์แบบเปลี่ยนได้ 6 เท่า
เครื่องมือวัดที่ได้รับการรับรองประเภทป้องกันแบบเต็มรูปแบบ
ซอฟต์แวร์ FISIQ® X พร้อมโหมดสเปกตรัมที่รองรับ AI สำหรับกระบวนการวัดที่ชาญฉลาดยิ่งขึ้น
การวัดระยะแบบไม่มีขั้นตอนด้วยการวัดจากบนลงล่าง
รองรับตัวอย่างขนาดสูงสุด 140 มม.
ตารางการวัดแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับการวัดอัตโนมัติ
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบที่บางมาก ≤ 0.1 μm (0.004 มิล)
- การวัดผิวเคลือบในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น lead frames ขั้วต่อ หรือแผงวงจรพิมพ์
- การสร้างระบบการเคลือบหลายชั้นที่มีความซับซ้อน
- การวัดอัตโนมัติ เช่น ในการควบคุมคุณภาพ
- การกำหนดปริมาณตะกั่วในตะกั่วบัดกรี
- การกำหนดปริมาณฟอสฟอรัสในสารเคลือบ NiP
- การกำหนดพื้นผิวของ PCB
คุณมีแอปพลิเคชันอื่นๆ อีกหรือไม่ จากนั้นติดต่อเราได้เลย!
วิดีโอผลิตภัณฑ์
โบรชัวร์
วิดีโอผลิตภัณฑ์
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®โบรชัวร์
Fischer ข้อมูลเชิงลึก.
ค้นพบผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม
