FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
แม้ใช้เวลาในการวัดสั้น
มีขนาดเล็กที่สุด ด้วยขนาดจุดวัด 10 µm (FWHM)
เพื่อการวัดโครงสร้างขนาดเล็กที่เชื่อถือได้
¹ ประสิทธิภาพเพิ่มขึ้นสูงสุด 50%: ปรับปรุงค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานอย่างมีนัยสำคัญ และทำให้สามารถวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.
² เลนส์คาปิลลารีระดับไฮเอนด์ที่ผลิตโดย Fischer ซึ่งเป็นผู้ผลิตเครื่องมือตรวจวัดเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนซ์เพียงรายเดียวของโลกที่มีการผลิตโพลีคาปิลลารีเป็นของตัวเอง. มีโพลีคาปิลลารีระดับไฮเอนด์ให้เลือกสามแบบ – โซลูชันที่เหมาะสมสำหรับแต่ละการใช้งานของคุณ: halo-free 10 µm, halo-free 20 µm หรือ halo 20 µm.
XRF สำหรับควบคุมคุณภาพ PCB โดยอัตโนมัติ
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB เป็นผู้เชี่ยวชาญอย่างแท้จริงสำหรับการควบคุมคุณภาพของ PCB ที่เชื่อถือได้ ด้วยเครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอนอันทรงพลัง หลอดไมโครโฟกัส Ultra และเลนส์โพลีคาปิลลารี เครื่องมือวัด XRF จึงตรวจวัดด้วยจุดตรวจวัดขนาดเล็กมากด้วยความเข้มสูงมาก. สิ่งนี้ช่วยให้การวัดของคุณเป็นไปได้อย่างน่าเชื่อถือแม้แต่ชั้นชุบที่บางที่สุด. เครื่องมือวัดได้รับการรับรองมาตรฐานตามข้อกำหนด IPC 4552 และ 4556 สำหรับ ENIG และ ENEPIG รวมถึง 4553A (Silver) และ 4554 (Tin).
ตอบโจทย์ทุกความท้าทาย
ผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้และรวดเร็วสำหรับงานตรวจวัดที่มีความทะเยอทะยาน
อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณ
เชี่ยวชาญการวัดงาน PCB
โซลูชันการวัดเฉพาะสำหรับแผงวงจรพิมพ์ เป็นไปตามมาตรฐาน IPC
เลนส์โพลีคาปิลลารีที่ทันสมัยที่สุดในตลาด
เลนส์โพลีคาปิลลารีที่ผลิตภายในบริษัทของเราให้ผลการวัดที่โดดเด่นในเวลาการวัดที่สั้น
เที่ยงตรงและแม่นยำ
การวางตำแหน่งจุดตรวจวัดบนโครงสร้างขนาดเล็กด้วยการจดจำภาพอัตโนมัต
ความพิเศษ
รวดเร็วและง่ายดาย
ประมวลผลด้วย DPP+ digital pulse
เวลาการวัดสั้นลงหรือการปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน*
*เปรียบเทียบกับ DPP
ชุดเครื่องมือวัด PCB: โซลูชันการวัดเฉพาะสำหรับ PCBs เป็นไปตามมาตรฐาน IPC 4552 (ENIG), 4556 (ENEPIG), 4553A (Silver) และ 4554 (Tin).
เครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็ก หลายชั้น สารเคลือบเชิงฟังก์ชัน และสารเคลือบบาง ≤ 3 นาโนเมตรหรือ 10 นาโนเมตร.
ด้วยหลอดไมโครโฟกัส Ultra ความเข้มของการกระตุ้นจะเพิ่มขึ้นอย่างมาก. ช่วยให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพการวัดที่ดียิ่งขึ้นด้วยจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุด.
การเลือกตำแหน่งการวัดทีละตำแหน่งอาจใช้เวลานานมาก. ลดความพยายามนี้ลงอย่างมากด้วยซอฟต์แวร์จดจำภาพที่นำมาใช้.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัส Ultra พร้อมขั้วบวกทังสเตนเพื่อประสิทธิภาพที่สูงขึ้นในการวัดจุดที่เล็กที่สุดด้วย; โมลิบดีนัมแอโนดเป็นตัวเลือก
ตัวกรองแบบเปลี่ยนได้ 4 เท่า
รองรับความสูงของตัวอย่างการวัดได้สูงสุด 10 มม.
เลนส์โพลีคาปิลลารีช่วยให้จุดตรวจวัดมีขนาดเล็กเป็นพิเศษพร้อมความเข้มข้นสูงและมีระยะเวลาการวัดสั้น
จุดวัดประมาณ.: Ø 10 หรือ 20 µm (FWHM)
พื้นที่ตรวจวัดที่ตั้งโปรแกรมได้ พร้อมความแม่นยำสูงสำหรับงาน PCB ขนาด 610 x 610 มม. สามารถเลือกติดตั้งฟิกซ์เจอร์สุญญากาศได้
Detector แบบ Silicon drift ขนาด 20 หรือ 50 มม.² เพื่อความแม่นยำสูงสุดในการวัดบนฟิล์มบาง
DPP+ เพื่อความแม่นยำสูงสุดแม้ใช้เวลาในการวัดสั้น
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวัดบนส่วนประกอบและโครงสร้างแบนที่เล็กที่สุดบน PCB ขนาด 610 x 610 มม. (24 x 24 นิ้ว)
- การวิเคราะห์การเคลือบที่บางมาก เช่น ชั้นทอง/แพลเลเดียม ≤ 3 นาโนเมตร หรือ 10 นาโนเมตร
- การวัดอัตโนมัติ เช่น ในการควบคุมคุณภาพ
- ด้วยตัวเลือก 10 μm: การวัดด้วยจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุดร่วมกับเครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอนขนาดใหญ่
- ด้วยตัวเลือกโต๊ะสุญญากาศ: การวัดบน PCB ที่ยืดหยุ่น
- ได้การรับรองตามมาตรฐาน IPC 4552 และ 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Silver) และ 4554 (Tin) โดยสมบูรณ์)
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MBบทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®การสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
