FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
ต้องขอบคุณ DPP+
ขนาดจุดวัดที่เล็กที่สุด
ระยะการวัดที่ใหญ่ที่สุด - ดีที่สุดในระดับเดียวกัน!
¹ ปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานอย่างมีนัยสำคัญ และทำให้สามารถวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.
ประสิทธิภาพที่ดีที่สุด.
จุดเด่นของชิ้นส่วนทดสอบขนาดเล็กที่มีรูปร่างซับซ้อน. ระยะการวัดที่ไม่มีใครเทียบได้เมื่อรวมกับจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุด และ microfokus tube Ultra เพิ่มประสิทธิภาพที่สูงขึ้นพร้อมจุดวัดที่เล็กที่สุด ทำให้ FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD เป็นเครื่องมือ XRF ชั้นนำของอุตสาหกรรม.
ตอบโจทย์ทุกความท้าทาย
ผลลัพธ์ที่รวดเร็วและเชื่อถือได้
เลนส์ โพลีคาปิลลรีที่ทันสมัยที่สุดในตลาด
เลนส์โพลีคาปิลลารีที่ผลิตภายในบริษัทของเราให้ผลการวัดที่โดดเด่นโดยใช้เวลาการวัดสั้น
เที่ยงตรงและแม่นยำ
การวางตำแหน่งจุดตรวจวัดบนโครงสร้างขนาดเล็กด้วยการจดจำภาพอัตโนมัติ
อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณเพียงคลิกเดียว
ประมวลผลด้วย DPP+ digital pulse
เวลาการวัดสั้นลงหรือการปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน*
*เปรียบเทียบกับ DDP
การประเมินผล และการส่งออกข้อมูลการวัดแบบเรียลไทม์ด้วย WinFTM® ซึ่งเป็น ซอฟต์แวร์ที่ทรงพลังที่สุดในตลาด.
ด้วยหลอดไมโครโฟกัส Ultra ความเข้มของการกระตุ้นจะเพิ่มขึ้นอย่างมาก. ช่วยให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพการวัดที่ดียิ่งขึ้นด้วยจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุด.
ตาราง XY ที่ตั้งโปรแกรมได้ความแม่นยำสูงพร้อมความแม่นยำในการเข้าใกล้ ≤ 2 µm และฝาคลอบช่องตัว C เพื่อการวางตำแหน่งชิ้นงานที่แม่นยำที่สุดและการจดจำรูปแบบอัตโนมัติ.
เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอนประสิทธิภาพสูงช่วยให้คุณวัดโครงสร้างที่เล็กที่สุดและชั้นที่บางที่สุด < 0.1 µm ได้อย่างแม่นยำและไม่ทำลายผิว.
เลนส์โพลีคาปิลลารีระยะไกลช่วยให้มีจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุดและการวัดที่แม่นยำบนแผ่น PCBs, connectors หรือพินที่ประกอบเข้าด้วยกันที่ระยะการวัดเฉพาะ 12 มม.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัส Ultra พร้อมขั้วบวกทังสเตนเพื่อประสิทธิภาพที่สูงขึ้นในการวัดจุดที่เล็กที่สุดด้วย; โมลิบดีนัมแอโนดเป็นตัวเลือก
ตัวกรองแบบเปลี่ยนได้
อัตราการนับที่สูงขึ้นและเวลาการวัดลดลงอย่างมากด้วย DPP+
เลนส์โพลีคาปิลลารีช่วยให้จุดตรวจวัดมีขนาดเล็กเป็นพิเศษซึ่งมีเวลาการวัดสั้นและมีความเข้มสูง
จุดวัดประมาณ.: Ø 60 µm
การหาปริมาณโลหะในบ่อชุบด้วยไฟฟ้าพร้อมอุปกรณ์เสริมที่เกี่ยวข้อง
Detector แบบ Silicon drift พร้อมพื้นที่ทำงาน 20 หรือ 50 มม.² เพื่อความแม่นยำสูงสุดในการวัดชั้นชุบที่บางมาก
รองรับความสูงของตัวอย่างที่วัดได้สูงสุด 135 มม.
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวัดบนส่วนประกอบและโครงสร้างที่เล็กที่สุด เช่น PCB ที่ประกอบแล้วและมีรูปร่างซับซ้อน หน้าสัมผัสปลั๊ก พื้นที่การติด ส่วนประกอบ SMD หรือลวดเส้นเล็ก
- การวัดชั้นชุบในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์
- การวัดผิวชุบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การวัดอัตโนมัติ เช่น ในการควบคุมคุณภาพ
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceบทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®การสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
