FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
ต้องขอบคุณ DPP+
ผลิตเองและพัฒนาอย่างต่อเนื่อง²
polycapillary optic³ ที่เหมาะสม
¹ ปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานอย่างมีนัยสำคัญ และทำให้สามารถวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.
² เลนส์โพลีคาปิลลารีซึ่งมีการพัฒนาเพิ่มเติมอย่างต่อเนื่อง. เลนส์คาปิลลารีระดับไฮเอนด์ที่ผลิตโดย Fischer ซึ่งเป็นผู้ผลิตเครื่องมือตรวจวัดเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนซ์เพียงรายเดียวของโลกที่มีการผลิตโพลีคาปิลลารีเป็นของตัวเอง.
³ มีโพลีคาปิลลารีระดับไฮเอนด์ให้เลือกสามแบบ – โซลูชันที่เหมาะสมสำหรับแต่ละการใช้งานของคุณ: halo-free 10 µm, halo-free 20 µm หรือ halo 20 µm.
สำหรับความต้องการสูงสุดไปจนถึงระดับ µ ที่น้อยที่สุด.
เครื่องมือ FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ เป็นหนึ่งในเครื่องมือวัดเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนซ์ระดับไฮเอนด์ของ Fischer เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็ก. มีการติดตั้งเครื่องตรวจจับ silicon drift อันทรงพลังรุ่นล่าสุด หลอดไมโครโฟกัส Ultra และเลนส์โพลีคาปิลลารีที่ผลิตภายในบริษัท. เนื่องจากความเข้มของรังสีสูง เวลาในการวัดจึงลดลงอย่างมาก และสามารถทำการวัดที่แม่นยำสูงสุดได้บนจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุด.
ตอบโจทย์ทุกความท้าทาย
ผลลัพธ์ที่รวดเร็วและเชื่อถือได้
เลนส์โพลีคาปิลลารีที่ทันสมัยที่สุดในตลาด
เลนส์โพลีคาปิลลารีที่ผลิตภายในบริษัทของเราให้ผลการวัดที่โดดเด่นโดยใช้เวลาการวัดสั้น
เที่ยงตรงและแม่นยำ
การวางตำแหน่งจุดตรวจวัดบนโครงสร้างขนาดเล็กด้วยการจดจำภาพอัตโนมัต
อัตโนมิติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณเพียงคลิกเดียว
ประมวลผลด้วย DPP+ digital pulse
เวลาการวัดสั้นลงหรือการปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน*
*เปรียบเทียบกับ DPP
ระบบวิดีโอพร้อมออพติคอลซูม 3 เท่าและซอฟต์แวร์ WinFTM® ช่วยให้มั่นใจได้ถึงตำแหน่งการวัดที่แม่นยำของทุกตัวอย่าง.
ด้วยหลอดไมโครโฟกัส Ultra ความเข้มของการกระตุ้นจะเพิ่มขึ้นอย่างมาก. ช่วยให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพการวัดที่ดียิ่งขึ้นด้วยจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุด.
ด้วยนวัตกรรมออปติคัลเอกซเรย์โพลีแคปิลลารี เครื่งมือวัดจึงตรวจวัดด้วยจุดตรวจวัดที่เล็กมาก โดยที่ยังคงความเข้มข้นที่สูงมากไว้ได้.
เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอนประสิทธิภาพสูงช่วยให้คุณวัดโครงสร้างที่เล็กที่สุดและชั้นที่บางที่สุด < 0.1 µm ได้อย่างแม่นยำและไม่ทำลายผิว.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัส Ultra พร้อมขั้วบวกทังสเตนเพื่อประสิทธิภาพที่สูงขึ้นในการวัดจุดที่เล็กที่สุดด้วย; โมลิบดีนัมแอโนดเป็นตัวเลือก
ตัวกรองแบบเปลี่ยนได้
อัตราการนับที่สูงขึ้นและเวลาการวัดลดลงอย่างมากด้วย DPP+
เลนส์โพลีคาปิลลารีช่วยให้สามารถวัดจุดที่มีขนาดเล็กเป็นพิเศษด้วยความเข้มสูงและเวลาการวัดสั้น
จุดวัดประมาณ.: Ø 10 หรือ 20 µm
Detector แบบ silicon drift พร้อมพื้นที่ใช้งาน 20 หรือ 50 มม.² เพื่อความแม่นยำสูงสุด
รองรับความสูงของตัวอย่างที่วัดได้สูงสุด 135 มม.
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวัดบนส่วนประกอบและโครงสร้างที่แบนและเล็กที่สุด เช่น traces หน้าสัมผัส หรือลีดเฟรม
- การวัดชั้นชุบในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์
- การวัดความหนาผิวชุบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การวัดโดยอัตโนมัติ เช่น ในการควบคุมคุณภาพ
- การวัดองค์ประกอบแสง เช่น การกําหนดปริมาณฟอสฟอรัสในสารโพแทสเซียมในทองคําและแพลเลเดียม (ENIG/ENEPIG)
คุณมีแอปพลิเคชั่นเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN008 Thickness and composition of NiP on connectors or small structures on PCBs 0.56 MB AN032 Material analysis of solder bumps in the Integrated circuit (IC) packaging industry 0.57 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN098 Optimized for the electronics industry: Measuring ENIG and ENEPIG on a new level 1.46 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBวิดีโอผลิตภัณฑ์
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceบทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: Automated measurements on smallest structures using pattern recognitionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 1: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 2: Test of stability, calibration and normalizationFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 3: XY programmingการสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์.
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
