FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
ต้องขอบคุณ DPP+
รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้
ตัวกรองที่เปลี่ยนแปลงได้
¹ ปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานอย่างมีนัยสำคัญ และทำให้สามารถวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.
การวิเคราะห์ด้วยเทคนิคเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ เพื่อความต้องการงานวัดที่มีประสิทธิภาพสูงสุด
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD เป็นหนึ่งในเครื่องเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ที่ทรงพลังที่สุดในกลุ่มผลิตภัณฑ์ของ Fischer. ยกระดับประสิทธิภาพการวัดของคุณไปอีกระดับด้วยรุ่นพรีเมียม: เมื่อใช้งานร่วมกับตัวประมวลผล digital pulse DPP+ ที่พัฒนาขึ้นภายในบริษัท จะสามารถประมวลผลอัตราการนับที่สูงขึ้นได้ ส่งผลให้เวลาในการวัดลดลงหรือปรับปรุงความสามารถในการทำซ้ำของผลการวัดของคุณ.
สร้างขึ้นเพื่อใช้งานได้ในระยะยาว
การออกแบบที่แข็งแกร่งสำหรับความต้องการวัดงานที่สูงเป็นพิเศษ
อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว
การออกแบบการวัดที่รวดเร็ว
ด้วยขั้นตอนง่ายๆ เพียงไม่กี่ขั้นตอน ตัวอย่างก็จะถูกวางและพร้อมสำหรับการตรวจวัด. สามารถวัดชิ้นส่วนต่างๆ ได้โดยอัตโนมัติ
รวดเร็ว
ด้วยเวลาการวัดที่สั้น คุณจึงประหยัดเวลาอันมีค่าได้
การวิเคราะห์ RoHS
การตรวจหาสารปนเปื้อนด้วยความแม่นยำในการตรวจจับสูงและประสิทธิภาพที่ยอดเยี่ยม
ประมวลผลด้วย DPP+ digital pulse
เวลาการวัดสั้นลงหรือการปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน*
*เปรียบเทียบกับ DPP
การประเมินผล และการส่งออกข้อมูลการวัดแบบเรียลไทม์ด้วย WinFTM® ซึ่งเป็นซอฟต์แวร์ที่ทรงพลังที่สุดในตลาด.
รูรับแสงขนาด 3 มม: ความเข้มข้นสูงสุดเพื่อให้ใช้เวลาตรวจวัดสั้นที่สุดแม้กับตัวอย่างที่ยาก.
ตารางการวัดที่ตั้งโปรแกรมได้สำหรับการวัดอัตโนมัติบนโครงสร้างขนาดเล็ก.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD เป็นหนึ่งในเครื่องมือวัดด้วยเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ที่ทรงพลังที่สุดในกลุ่มผลิตภัณฑ์ของ Fischer.
เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอนที่มีความละเอียดสูงและประสิทธิภาพสูงช่วยให้คุณวัดชั้นที่บางที่สุดได้อย่างแม่นยำและไม่ทำลายผิว.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน
Detector แบบ Silicon drift 50 มม.² พร้อมพื้นที่ใช้งานขนาดใหญ่พิเศษ 50 มม.²
การหาปริมาณโลหะในบ่อชุบด้วยไฟฟ้าพร้อมอุปกรณ์เสริมที่เกี่ยวข้อง
จุดวัดประมาณ.: Ø 0.25 มม.
อัตราการนับที่สูงขึ้นและเวลาการวัดลดลงอย่างมากด้วย DPP+
ประเภทเครื่องมือวัดที่ได้รับการรับรองการป้องกันเต็มรูปแบบ
รองรับความสูงของตัวอย่างได้สูงสุด 140 มม
รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่าและฟิลเตอร์ที่เปลี่ยนแปลงได้ 6 เท่า
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวัดการเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น การกำหนดความหนาของการเคลือบทองได้ถึง 2 นาโนเมตร
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบที่บางและบางมากในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น ชั้นทอง/แพลเลเดียมที่ ≤ 0.1 μm
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การวัดความหนาของชั้นเคลือบสำหรับการใช้งานแผงโซล่าเซลล์ เซลล์เชื้อเพลิง และเซลล์แบตเตอร์
- ติดตามการวิเคราะห์สารอันตราย เช่น ตะกั่วและแคดเมียม ตามมาตรฐาน RoHS, WEEE, CPSIA และข้อกำหนดอื่นๆ สำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ บรรจุภัณฑ์ และผลิตภัณฑ์อุปโภคบริโภค
- การวิเคราะห์และการตรวจสอบความถูกต้องของทองคำ โลหะมีค่า โลหะผสม และอื่นๆ
- การระบุปริมาณฟอสฟอรัสโดยตรงในชั้น NiP เชิงฟังก์ชัน
- การหาปริมาณโลหะในบ่อชุบด้วยไฟฟ้า
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBวิดีโอผลิตภัณฑ์
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceบทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®การสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated bathsReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์.
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
