FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
ประมาณ. Ø 0.2 มิลลิเมตร
3 เท่า ตัวกรองที่เปลี่ยนแปลงได้
เพื่อความแม่นยำในการตรวจจับที่ดีมากและมีความละเอียดสูง
XRF สำหรับการทดสอบ PCB สำหรับมืออาชีพ.
การรวมกันของ silicon drift detector อันทรงพลัง ช่องรับแสงหลายช่อง และตัวกรองที่เปลี่ยนแปลงได้ทำให้เครื่องมือ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ได้รับการกำหนดไว้ล่วงหน้าสำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็กบน PCB.
ผู้เชี่ยวชาญด้านการวัด PCB
โซลูชันการวัดเฉพาะสำหรับแผงวงจรพิมพ์ เป็นไปตามมาตรฐาน IPC
ตอบโจทย์ทุกความท้าทาย
ผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้และรวดเร็วสำหรับงานตรวจวัด
อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณ
ตั้งโปรแกรมได้.
การวัดแบบอัตโนมัติบนโครงสร้างที่กำหนดไว้ล่วงหน้า ด้วยเทคโนโลยีการจดจำรูปแบบขั้นสูง
Commissioning.
รวดเร็วและง่ายมาก
การประเมินผล และการส่งออกข้อมูลการวัดแบบเรียลไทม์ด้วย WinFTM® ซึ่งเป็นซอฟต์แวร์ที่ทรงพลังที่สุดในตลาด.
ด้วยชุดเครื่องมือวัด PCB ที่ใช้งานง่าย Fischer นำเสนอโซลูชันการวัดเฉพาะสำหรับ PCBs.
เครื่องมือวัดอเนกประสงค์สำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็ก หลายชั้น สารเคลือบเชิงฟังก์ชัน และสารเคลือบบาง < 0.1 μm.
ความเสถียรในระยะยาวเป็นคุณลักษณะเฉพาะของเครื่องมือ X-RAY FISCHERSCOPE® ทั้งหมด. ซึ่งจะช่วยลดความพยายามในการสอบเทียบได้อย่างมาก ประหยัดเวลาและต้นทุน.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน
พื้นที่การวัดขนาดกว้างคงที่สำหรับวัดงาน PCB ขนาด 610 × 610 มม. สามารถเลือกได้ด้วยส่วนต่อขยาย 1200 x 900 มม. หรือในเวอร์ชันอัตโนมัติ ขึ้นอยู่กับเครื่องมือวัด
จุดวัดประมาณ.: Ø 0.2 มม.
รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า และฟิลเตอร์ที่เปลี่ยนแปลงได้ 3 เท่า
รองรับความสูงของตัวอย่างที่วัดได้สูงสุด 10 มม.
Detector แบบ Large silicon drift เพื่อความแม่นยำสูงสุดบนชั้นชุบที่บาง
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวัดส่วนประกอบและโครงสร้างที่เล็กที่สุดบนแผ่น PCB ขนาด 610 x 610 มม. (24 x 24 นิ้ว)
- การวัดผิวเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบที่บางมาก ≤ 0.1 μm
- การหาปริมาณสารตะกั่วในบัดกรี
- การวัดผิวชุบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การหาปริมาณฟอสฟอรัสโดยตรงของสารเคลือบ NiP
- ตรงตามข้อกำหนดของ ENIG/ENEPIG
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
หมายเหตุเกี่ยวกับบทช่วยสอน
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
หมายเหตุเกี่ยวกับบทช่วยสอน
บทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®การสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
