FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
ประมาณ. Ø 0.2 ไมโครเมตร
3 เท่า ตัวกรองที่เปลี่ยนแปลงได้
เพื่อความแม่นยำในการตรวจจับที่ดีมากและมีความละเอียดสูง
XRF สำหรับการทดสอบ PCB สำหรับมืออาชีพ.
การรวมกันของ silicon drift detector อันทรงพลัง ช่องรับแสงหลายช่อง และตัวกรองที่เปลี่ยนแปลงได้ทำให้เครื่องมือ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ได้รับการกำหนดไว้ล่วงหน้าสำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็กบน PCB.
ผู้เชี่ยวชาญด้านการวัด PCB
โซลูชันการวัดเฉพาะสำหรับแผงวงจรพิมพ์ เป็นไปตามมาตรฐาน IPC
ตอบโจทย์ทุกความท้าทาย
ผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้และรวดเร็วสำหรับงานตรวจวัด
อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณ
Accurate and precise.
การวางตำแหน่งจุดตรวจวัดบนโครงสร้างขนาดเล็กด้วยการจดจำภาพอัตโนมัต
Commissioning.
รวดเร็วและง่ายมาก
การประเมินผล และการส่งออกข้อมูลการวัดแบบเรียลไทม์ด้วย WinFTM® ซึ่งเป็นซอฟต์แวร์ที่ทรงพลังที่สุดในตลาด.
ด้วยชุดเครื่องมือวัด PCB ที่ใช้งานง่าย Fischer นำเสนอโซลูชันการวัดเฉพาะสำหรับ PCBs.
เครื่องมือวัดอเนกประสงค์สำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็ก หลายชั้น สารเคลือบเชิงฟังก์ชัน และสารเคลือบบาง < 0.1 μm.
ความเสถียรในระยะยาวเป็นคุณลักษณะเฉพาะของเครื่องมือ X-RAY FISCHERSCOPE® ทั้งหมด. ซึ่งจะช่วยลดความพยายามในการสอบเทียบได้อย่างมาก ประหยัดเวลาและต้นทุน.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน
พื้นที่การวัดขนาดกว้างคงที่สำหรับวัดงาน PCB ขนาด 610 × 610 มม. สามารถเลือกได้ด้วยส่วนต่อขยาย 1200 x 900 มม. หรือในเวอร์ชันอัตโนมัติ ขึ้นอยู่กับเครื่องมือวัด
จุดวัดประมาณ.: Ø 0.2 มม.
รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า และฟิลเตอร์ที่เปลี่ยนแปลงได้ 3 เท่า
รองรับความสูงของตัวอย่างที่วัดได้สูงสุด 10 มม.
Detector แบบ Large silicon drift เพื่อความแม่นยำสูงสุดบนชั้นชุบที่บาง
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวัดส่วนประกอบและโครงสร้างที่เล็กที่สุดบนแผ่น PCB ขนาด 610 x 610 มม. (24 x 24 นิ้ว)
- การวัดผิวเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบที่บางมาก ≤ 0.1 μm
- การหาปริมาณสารตะกั่วในบัดกรี
- การวัดผิวชุบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การหาปริมาณฟอสฟอรัสโดยตรงของสารเคลือบ NiP
- ตรงตามข้อกำหนดของ ENIG/ENEPIG
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN096 Optimized for the PCB industry: Measure ultrathin layers of gold and palladium according to IPC-4552B/IPC-4556A 0.76 MBบทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®การสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationโบรชัวร์
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
