FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

ผลิตภัณฑ์อาจแตกต่างกันไปตามรุ่นหรือคุณสมบัติ

 

การหาปริมาณฟิล์มบาง ธาตุ และโลหะผสม.

เครื่อง XRF อเนกประสงค์สำหรับการวัดบนโครงสร้างที่เล็กที่สุด การเคลือบหลายชั้นที่บางมาก การเคลือบเชิงฟังก์ชัน และการเคลือบที่บาง ≤ 0.1 µm.

¹ ปรับปรุงแล้ว ประสิทธิภาพเพิ่มขึ้น 50%
ต้องขอบคุณ DPP+
อุปกรณ์วางชิ้นงานวัด สามารถปรับระดับความสูงได้
เพื่อกำหนดจุดวัดที่รวดเร็วและง่ายดาย
การปรับระยะการวัดผ่าน
วิธีการ DCM ที่จดสิทธิบัตรแล้ว
¹ แสดงเพิ่มเติม
แสดงน้อยลง

¹ ค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานดีขึ้นอย่างเห็นได้ชัด และทำให้มีความสามารถในการวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.

 

เครื่องเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์สำหรับการวิเคราะห์ชั้นเคลือบที่บางมาก.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 คือเครื่องวิเคราะห์ XRF อเนกประสงค์จาก Fischer สำหรับการตรวจวัดชั้นเคลือบผิวที่บาง ธาตุ และโลหะผสม. ด้วยการวัดจากบนลงล่าง ตัวอย่างจะถูกวางบนแท่นที่สามารถปรับระดับด้วยตนเอง. เลเซอร์ทำหน้าที่เป็นตัวช่วยกำหนดตำแหน่ง. ซึ่งหมายความว่าแม้แต่ตัวอย่างที่มีรูปทรงที่ซับซ้อนก็สามารถวิเคราะห์ได้อย่างแม่นยำและง่ายดาย.

อเนกประสงค์

เหมาะสำหรับอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์

การวิเคระห์ RoHS 

การตรวจสอบสารอันตรายที่เชื่อถือได้

การออกแบบการวัดที่รวดเร็ว 

วางตัวอย่างและพร้อมสำหรับการตรวจวัดในไม่กี่ขั้นตอน

สมดุลย์

อัตราส่วนต้นทุนและผลประโยชน์ที่เหมาะสมที่สุด

ประมวลผลด้วย DPP+ digital pulse 

เวลาการวัดสั้นลงหรือการปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน*

*เปรียบเทียบกับ DPP

  • คุณสมบัติ

      detector แบบ Silicon drift 50 มม.² พร้อมพื้นที่ใช้งานขนาดใหญ่พิเศษ 50 มม.²

       

      รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า และฟิลเตอร์ที่เปลี่ยนแปลงได้ 3 เท่า

      อัตราการนับที่สูงขึ้นและเวลาการวัดลดลงอย่างมากด้วย DPP+

      หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน

      รองรับความสูงของตัวอย่างได้สูงสุด 140 มม

      จุดวัดประมาณ.: Ø 0.15 มม.

  • ตัวอย่างการใช้งาน

      • การวิเคราะห์ผิวเคลือบแบบบางและบางมากที่มีขนาด ≤ 0.1 µm
      • การวัดผิวเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น บนลีดเฟรม หน้าสัมผัสปลั๊ก หรือ PCB
      • การกำหนดผิวเคลือบหลายชั้นที่ซับซ้อน
      • การหาปริมาณสารตะกั่วในสารบัดกรี
      • การหาปริมาณฟอสฟอรัสในผิวเคลือบ NiP

      คุณมีแอปพลิเคชันเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!

คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์.

วิธีการวัด.

เรียนรู้และค้นพบว่าการวิเคราะห์ด้วยเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ทำงานอย่างไร.

เรียนรู้เพิ่มเติม
การบริการ.

เรานำเสนอทุกสิ่งที่คุณต้องการเพื่อผลลัพธ์การวัดที่เชื่อถือได้.

เรียนรู้เพิ่มเติม
ทำไมต้องฟิสเชอร์.

สัมผัสประสบการณ์ดีๆ มากมายที่บ่งบอกความเป็นเราในฐานะบริษัท.

เรียนรู้เพิ่มเติม

ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.