FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
ต้องขอบคุณ DPP+
เพื่อกำหนดจุดวัดที่รวดเร็วและง่ายดาย
วิธีการ DCM ที่จดสิทธิบัตรแล้ว
¹ ค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานดีขึ้นอย่างเห็นได้ชัด และทำให้มีความสามารถในการวัดหรือเวลาการวัดลดลงอย่างมากเมื่อเปรียบเทียบ DPP กับ DPP+.
เครื่องเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์สำหรับการวิเคราะห์ชั้นเคลือบที่บางมาก.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 คือเครื่องวิเคราะห์ XRF อเนกประสงค์จาก Fischer สำหรับการตรวจวัดชั้นเคลือบผิวที่บาง ธาตุ และโลหะผสม. ด้วยการวัดจากบนลงล่าง ตัวอย่างจะถูกวางบนแท่นที่สามารถปรับระดับด้วยตนเอง. เลเซอร์ทำหน้าที่เป็นตัวช่วยกำหนดตำแหน่ง. ซึ่งหมายความว่าแม้แต่ตัวอย่างที่มีรูปทรงที่ซับซ้อนก็สามารถวิเคราะห์ได้อย่างแม่นยำและง่ายดาย.
อเนกประสงค์
เหมาะสำหรับอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์
การวิเคระห์ RoHS
การตรวจสอบสารอันตรายที่เชื่อถือได้
การออกแบบการวัดที่รวดเร็ว
วางตัวอย่างและพร้อมสำหรับการตรวจวัดในไม่กี่ขั้นตอน
สมดุลย์
อัตราส่วนต้นทุนและผลประโยชน์ที่เหมาะสมที่สุด
ประมวลผลด้วย DPP+ digital pulse
เวลาการวัดสั้นลงหรือการปรับปรุงส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน*
*เปรียบเทียบกับ DPP
คุณสมบัติ
detector แบบ Silicon drift 50 มม.² พร้อมพื้นที่ใช้งานขนาดใหญ่พิเศษ 50 มม.²
รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า และฟิลเตอร์ที่เปลี่ยนแปลงได้ 3 เท่า
อัตราการนับที่สูงขึ้นและเวลาการวัดลดลงอย่างมากด้วย DPP+
หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน
รองรับความสูงของตัวอย่างได้สูงสุด 140 มม
จุดวัดประมาณ.: Ø 0.15 มม.
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบแบบบางและบางมากที่มีขนาด ≤ 0.1 µm
- การวัดผิวเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น บนลีดเฟรม หน้าสัมผัสปลั๊ก หรือ PCB
- การกำหนดผิวเคลือบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การหาปริมาณสารตะกั่วในสารบัดกรี
- การหาปริมาณฟอสฟอรัสในผิวเคลือบ NiP
คุณมีแอปพลิเคชันเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!