FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
วิธีการ DCM ที่จดสิทธิบัตรแล้ว
การป้องกันเต็มรูปแบบ
อย่างสมบูรณ์แบบ
เครื่องวิเคราะห์ด้วยเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ สำหรับความต้องการที่สูงขึ้น.
XDAL® : หลอดไมโครโฟกัสและเครื่องตรวจจับเซมิคอนดักเตอร์ต่างๆ ทำให้ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® ซีรีส์ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวิเคราะห์ผิวเคลือบบางและบางมาก < 0.05 μm รวมถึงการวิเคราะห์วัสดุในช่วง ppm. รุ่นที่มี silicon drift detector ขนาด 50 มม.² ยังเหมาะสำหรับการวัด RoHS อีกด้วย. ด้วยความยืดหยุ่นและตัวเลือกการกำหนดค่าที่หลากหลาย (ตาราง รูรับแสง ตัวกรอง และตัวตรวจจับ) รุ่น XDAL® จึงวัดค่าได้อย่างน่าเชื่อถือ แม่นยำ และรับประกันความปลอดภัย 100%.
ความพิเศษ
รวดเร็วและง่ายดาย
ความเป็นไปได้มากมายด้วยเครื่องมือวัดเพียงเครื่องเดียว
การวัดความหนาของชั้นเคลือบ การวิเคราะห์วัสดุ และ trace analysis
การทดสอบด้วยจุดวัดหลายจุด
แม้จะมีตัวอย่างจำนวนมาก จุดตรวจวัดก็สามารถทำได้บนพื้นผิวตัวอย่างทั้งหมด
สำหรับการวัดชิ้นงานขนาดใหญ่
ฝาครอบเครื่องขนาดใหย๋รูปทรง C
อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
ให้เครื่องมือวัดของคุณทำงานแทนคุณเพียงคลิกเดียว
การออกแบบที่กระทัดรัด
ความสมดุลระหว่างประสิทธิภาพและความต้องการพื้นที่ใช้สอย
การประเมินผล และการส่งออกข้อมูลการวัดแบบเรียลไทม์ด้วย WinFTM® ซึ่งเป็นซอฟต์แวร์ที่ทรงพลังที่สุดในตลาด.
ลดความเสี่ยงในการตรวจสอบสินค้าขาเข้าให้เหลือน้อยที่สุด: กำจัดชุดบัดกรีที่แตกต่างกันด้วยตารางการวัดที่ตั้งโปรแกรมได้และเครื่องตรวจจับเซมิคอนดักเตอร์.
คงไม่สะดวกไปกว่านี้แล้ว: ระยะการวัดแบบไม่มีขั้นตอนพร้อมการวัดจากด้านบนและการสอบเทียบได้.
คุณสมบัติ
หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน
จุดวัดประมาณ.: Ø 0.15 มม.
Detector แบบ silicon PIN และ silicon drift ให้ความแม่นยำในการตรวจวัดที่ดีมากและมีความละเอียดสูง
ตัวกรองแบบเปลี่ยนได้ 3 เท่า
ประเภทเครื่องมือวัดที่ได้รับการรับรองการป้องกันเต็มรูปแบบ
การหาปริมาณโลหะในบ่อชุบด้วยไฟฟ้าพร้อมอุปกรณ์เสริมที่เกี่ยวข้อง
รูรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า
ความสูงของชิ้นงานที่วัดได้สูงสุด 140 มม
ตัวเลือกตารางวัดแบบต่างๆ
ตัวอย่างการใช้งาน
- การวิเคราะห์ผิวเคลือบแบบบางและบางมากที่มีขนาด ≤ 0.05 μm
- การวัดผิวเคลือบเชิงฟังก์ชันในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์ เช่น บนลีดเฟรม หน้าสัมผัสปลั๊ก หรือ PCB
- การกำหนดการวัดผิวเคลือบหลายชั้นที่ซับซ้อน
- การวัดแบบอัตโนมัติ เช่น ในการควบคุมคุณภาพ
- การหาปริมาณสารตะกั่วในการบัดกรี
- สำหรับเวอร์ชัน SDD (20 มม.² หรือ 50 มม.²):
- การหาปริมาณฟอสฟอรัสในชั้น NiP
- ตรงตามข้อกำหนดของ ENIG/ENEPIG
คุณมีแอปพลิเคชั่นเพิ่มเติมหรือไม่? แล้วติดต่อ เรา!
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
วิดีโอผลิตภัณฑ์
บทช่วยสอน
การสัมมนาผ่านเว็บ
โบรชัวร์
บทความทางเทคนิค
คู่มือการประยุกต์ใช้งาน
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBวิดีโอผลิตภัณฑ์
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introductionบทช่วยสอน
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®การสัมมนาผ่านเว็บ
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationโบรชัวร์
บทความทางเทคนิค
ข้อมูลเชิงลึกของฟิสเชอร์.
ค้นหาผลิตภัณฑ์เพิ่มเติม.
