FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

O produto pode variar com base no modelo ou características

 

Medição em linha com a mais alta precisão para películas finas.

Instrumento XRF robusto para medição e análise de películas finas e sistemas de camadas no processo em curso com ligação ao sistema de controlo da produção.

Até 50% ¹ aumentou
desempenho graças ao DPP+
Robusto e de baixa manutenção
através de partes inamovíveis
Medição em vácuo ²
ou no ar
¹ ² Mostrar mais
Mostrar menos

Desvio padrão significativamente melhorado e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com DPP para DPP+.

² Apenas FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.

 

Controle de qualidade contínuo e inteligente.

Concebida para um tempo de funcionamento máximo, a série FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 convence, entre outras coisas, com um elevado grau de personalização e um excelente desempenho de medição - sem contato, não destrutivo e preciso. Os dispositivos desta série formam unidades modulares, pelo que podem ser facilmente instalados como componentes puros numa fábrica existente.

Feito à medida.

Fácil integração, adaptável individualmente à sua aplicação

Não dá trabalho.

Temperaturas de amostra até 250 °C (482 °F) graças ao arrefecimento a água

Processador de impulsos digital DPP+.

Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*

*em comparação com o DPP

Robusto e confiável.

Sem peças móveis

Design compacto.

Cabeça de medição com todos os componentes necessários numa única unidade

Compatível com vácuo.

Pode ser montado em câmaras de vácuo

  • Características

      Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio; ânodo de molibdénio opcional

      Abertura fixa (configurável até Ø 11 mm)

      Para medições no vácuo ou no ar

      Opcionalmente com arrefecimento a água para temperaturas de amostra até 250 °C

      Detetor de desvio de silício 50 mm² para a mais alta precisão

      Filtro fixo (configurável)

      Arrefecimento Peltier

      Taxas de contagem mais elevadas e tempos de medição significativamente reduzidos graças ao DPP+

      Qualquer posição de instalação possível

      Controle remoto e exportação de dados através da interface TCP/IP

  • Exemplos de aplicação

      • Medição de revestimentos finos e cargas baixas em produtos e substratos de grande superfície, como células de combustível, painéis de vidro e superfícies muito quentes
      • Monitorização da composição e espessura de camadas em sistemas fotovoltaicos, como CIGS, CIS, CdTe e CdS
      • Medição de camadas finas de alguns µm em tiras de metal, folhas de metal e películas de plástico
      • Monitorização de processos de equipamentos de pulverização catódica e galvanoplastia

      Tem outras aplicações? Então entre em contato conosco!

Fischer Insights.

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