FISCHERSCOPE® XDV®
Novo
com geometria de medição otimizada
super-rápido
orientação ao usuário com o software FISIQ® X
A velocidade encontra a precisão.
Projetado para máxima velocidade, maior precisão e facilidade de uso intuitiva — é assim que apresentamos a nova geração de instrumentos XRF FISCHERSCOPE® XDV®. Como uma de nossas soluções XRF de alta qualidade, o instrumento foi projetado para medições em microestruturas com confiança. Combinado com nosso software de ponta FISIQ® X, o dispositivo oferece desempenho de medição excepcional. Além disso, fluxos de trabalho simplificados e eficientes garantem processos de medição suaves e aumento significativo da produtividade em seu controle de qualidade.
Posicionamento de amostras super-rápido.
Eixo Z de alta velocidade, 6 vezes mais rápido*
Captura rápida de amostras.
Autofoco em menos de 2 segundos – 14 vezes mais rápido*
Operação automatizada.
Tampa automática ou manual para máxima flexibilidade
Iluminação ideal da amostra e captura de imagem.
Resolução de câmera 10 vezes maior* e iluminação LED multizona
* Em comparação com FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
Precisão incomparável e resultados repetíveis.
Geometria de medição otimizada
Estado do dispositivo sempre visível.
Luz de status intuitiva de 180°
Usabilidade aprimorada e orientação ao usuário.
Novo software FISIQ® X
Tenha sempre tudo à vista com a câmera panorâmica de alta resolução. Sejam superfícies foscas, brilhantes ou reflexivas, a iluminação LED multizona revela cada detalhe com precisão.
Escolha entre o funcionamento automatizado e manual, reforçado por uma campânula motorizada para máxima flexibilidade nos seus fluxos de trabalho de medição.
Veja imediatamente o estado do dispositivo com a iluminação de estado intuitiva: em espera (azul), pronto para medição (verde) e medição ativa (laranja pulsante).
Aproveite a excelente precisão de medição e obtenha resultados confiáveis e de alta qualidade graças à distância otimizada entre o tubo de raios X, a amostra e o detector.
Obtenha medições rápidas e ultra-precisas com fluxos de trabalho simplificados e eficientes, mesmo nas aplicações mais exigentes, como a análise de bolachas.
Conheça agora o FISIQ® X - o primeiro software XRF com tecnologia de IA!
Caraterísticas
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio, outros ânodos disponíveis a pedido
Detector de desvio de silício de 50 mm² para maior precisão em camadas finas.
Capota automatizada e mesa de medição programável para medições automatizadas
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 6 vezes alteráveis
Aprovação individual como instrumento totalmente protegido
Software FISIQ® X com modo de espectro assistido por IA para processos de medição mais inteligentes
Distância de medição contínua com medição de cima para baixo
Alturas possíveis de amostras até 140 mm
Exemplos de aplicação
- Análise de revestimentos muito finos, por exemplo, revestimentos de ouro/paládio de ≤ 50 nm (0,002 mils)
- Medições de revestimentos funcionais nas indústrias eletrônica e de semicondutores, por exemplo, determinação da espessura do revestimento de camadas de ouro até 2 nm (0,00008 mils) para estruturas de chumbo
- Medição de revestimentos ultra-finos em bolachas de silício
- Determinação de revestimentos de elementos leves em bolachas (Al, Ti, NiP)
- Folhas de células de combustível e de baterias: metais (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) em matriz orgânica (carbono)
- Análise de ouro com os mais elevados requisitos
- Medição de sistemas multicamadas complexos
- Medições automatizadas, por exemplo, no controle de qualidade
Tem outras aplicações? Então entre em contato conosco!
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