FISCHERSCOPE® XDV®
Novo
posicionamento mais rápido
focagem automática mais rápida
maior resolução da câmara
Em comparação com o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
Dependendo da superfície da amostra.
A velocidade encontra a precisão.
O FISCHERSCOPE® XDV® é um dispositivo de medição de fluorescência de raios X topo de gama da Fischer e é ideal para medições automatizadas em estruturas minúsculas. O dispositivo impressiona pela sua facilidade de utilização, velocidade máxima e precisão. A iluminação de estado geral mostra o estado atual do dispositivo num relance, enquanto a campânula de medição motorizada pode ser aberta e fechada novamente de forma totalmente automática - para uma operação segura e conveniente. O moderno software FISIQ® X XRF garante processos eficientes e suaves, bem como um maior rendimento no seu processo de medição.
Eixo Z de alta velocidade.
Para um posicionamento rápido das suas amostras
Focagem automática em menos de 2 segundos.
Rápida aquisição e focagem do seu objeto de medição para processos de medição ainda mais eficientes
Câmara de visão geral de alta resolução.
Mantenha uma melhor visão geral com imagens mais nítidas e detalhadas
Iluminação LED multi-zona.
Iluminação perfeita em todos os momentos, independentemente da superfície
Campânula de medição automatizada.
Funcionamento manual ou automático para máxima flexibilidade
Geometria de medição optimizada.
Precisão de medição sem paralelo graças ao espaçamento melhorado entre o tubo de raios X, a amostra e o detetor
Iluminação de estado intuitiva.
Verifique o estado do dispositivo num relance
Ilumine todos os pormenores: Beneficie da iluminação LED multi-zona e da câmara de visão geral de alta resolução para uma iluminação perfeita e a análise mais precisa.
Funcionamento sem esforço e com as mãos livres: Flexibilidade inigualável graças a uma campânula motorizada. Manualmente, com o premir de um botão, ou através de automação controlada por software. Feito para processos contínuos e sem interrupções.
Uma distância optimizada entre o tubo de raios X, a amostra e o detetor permite uma intensidade máxima e garante uma precisão de medição excecional - para resultados particularmente fiáveis e de alta qualidade.
A faixa de luz LED mostra o estado do dispositivo num relance. A luz azul indica o modo de espera, a verde indica um dispositivo pronto para medição e a laranja pulsante indica uma medição em curso.
FISIQ® X: O primeiro e moderno software XRF com modo de espetro suportado por IA. Aumente a sua produtividade com fluxos de trabalho simplificados e eficientes.
Caraterísticas
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio, outros ânodos disponíveis a pedido
Câmara de medição automatizada
Detetor de desvio de silício de 20 mm² ou 50 mm² para maior precisão em camadas finas
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 6 vezes alteráveis
Dispositivo de proteção total de tipo aprovado
Software FISIQ® X com modo de espetro suportado por IA para processos de medição mais inteligentes
Distância de medição contínua com medição de cima para baixo
Alturas possíveis de amostras até 140 mm
Mesa de medição programável para medições automáticas
Exemplos de aplicação
- Análise de revestimentos muito finos, por exemplo, revestimentos de ouro/paládio de ≤ 50 nm (0,002 mils)
- Medições de revestimentos funcionais nas indústrias eletrônica e de semicondutores, por exemplo, determinação da espessura do revestimento de camadas de ouro até 2 nm (0,00008 mils) para estruturas de chumbo
- Medição de revestimentos ultra-finos em bolachas de silício
- Determinação de revestimentos de elementos leves em bolachas (Al, Ti, NiP)
- Folhas de células de combustível e de baterias: metais (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) em matriz orgânica (carbono)
- Análise de ouro com os mais elevados requisitos
- Determinação de sistemas complexos de multi-revestimento
- Medições automatizadas, por exemplo, no controle de qualidade
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