FISCHERSCOPE® XDAL®
Novo
com geometria de medição otimizada
super-rápido
orientação ao usuário com o software FISIQ® X
Manuseio fácil, velocidade máxima e precisão.
Quando a precisão ultrapassa limites, o nosso FISCHERSCOPE® XDAL® redefine o que é possível. O sucessor inovador do nosso FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® é ideal para aplicações no campo de revestimentos finos e ultrafinos (< 0.05 μm) e para análise de materiais na faixa de ppm. Pode escolher entre os nossos modelos XDAL® 650, equipado com o nosso potente detector de deriva de silício de 50 mm², e XDAL® 620, equipado com um detector de deriva de silício de 20 mm². Em conjunto com o nosso avançado software XRF FISIQ® X, esta solução de alta gama garante um processo de medição fluido para maior conveniência, segurança e máxima produtividade.
Posicionamento de amostras ultrarrápido.
Eixo Z de alta velocidade: 6 vezes mais rápido*
Captura rápida de amostras.
Foco automático em menos de 2 segundos – 14 vezes mais rápido*
Operação automatizada.
Tampa automática ou manual para máxima flexibilidade
Iluminação ideal da amostra e captura de imagens.
Resolução da câmera 10 vezes maior* e iluminação LED multizona
* Em comparação com o FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Precisão incomparável e resultados repetíveis.
Geometria de medição otimizada
Status do dispositivo sempre visível.
Luz de status intuitiva de 180°
Usabilidade e orientação ao usuário aprimoradas.
Novo software FISIQ® X
Peças grandes.
A abertura em C permite a medição de peças grandes
Câmera detalhada com iluminação LED multizona: oferece a iluminação ideal para qualquer tipo de superfície (fosca, brilhante ou reflexiva), garantindo análise precisa em todas as condições.
Meça à sua maneira – de forma automática ou manual – com um exaustor motorizado para máxima flexibilidade.
Um design otimizado com distância aprimorada entre o tubo de raios-X, amostra e detector
garante intensidade máxima e precisão de medição sem igual — assegurando resultados confiáveis e de alta qualidade.
A faixa de luz LED mostra o estado do dispositivo num relance. A luz azul indica o modo de espera, a verde indica um dispositivo pronto para medição e a laranja pulsante indica uma medição em curso.
FISIQ® X: O primeiro e moderno software XRF com modo de espetro suportado por IA. Aumente a sua produtividade com fluxos de trabalho simplificados e eficientes.
Caraterísticas
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio, outros ânodos disponíveis a pedido
Carcaça com ranhura em C para medir amostras maiores
Detector de desvio de silício de 20 mm² ou 50 mm² para maior precisão em camadas finas
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 6 vezes alteráveis
Aprovação individual como instrumento totalmente protegido
Software FISIQ® X com modo de espectro assistido por IA para processos de medição mais inteligentes
Distância de medição contínua com medição de cima para baixo
Alturas possíveis de amostras até 140 mm
Capô automatizado e mesa de medição programável para medições automatizadas
Exemplos de aplicação
- Análise de revestimentos muito finos de ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Medições de revestimentos funcionais nas indústrias eletrônica e de semicondutores, por exemplo, em estruturas de chumbo, conectores ou placas de circuitos impressos
- Medição de sistemas multicamadas complexos
- Medições automatizadas, por exemplo, no controle de qualidade
- Determinação do teor de chumbo na solda
- Determinação do teor de fósforo em revestimentos NiP
- Determinação de acabamentos de PCB
Tem outras aplicações? Então entre em contato!
Notas de aplicação
Notas do tutorial
Vídeos de produtos
Brochuras
Notas de aplicação
Notas do tutorial
Vídeos de produtos
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Brochuras
FISCHER insights
Descubra mais produtos
