FISCHERSCOPE® XDAL®
Novo
posicionamento mais rápido
focagem automática mais rápida
maior resolução da câmara
Em comparação com o FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Dependendo da superfície da amostra.
Manuseio fácil, velocidade máxima e precisão.
O FISCHERSCOPE® XDAL® é a solução perfeita para medição de revestimentos finos e ultrafinos (<0,05 μm) e análise de materiais em nível de ppm. Esta versão do equipamento incorpora a mais avançada geração de detectores de alta performance, incluindo um detector silicon drift de 50 mm². Com iluminação de status intuitiva, câmara de medição automatizada e o sofisticado software FISIQ® X XRF, o sistema garante operação ágil e precisa - oferecendo máxima eficiência, segurança e produtividade operacional.
Eixo Z de alta velocidade.
Para um posicionamento rápido das suas amostras
Focagem automática em menos de 2 segundos.
Rápida aquisição e focagem do seu objeto de medição para processos de medição ainda mais eficientes
Câmara de visão geral de alta resolução.
Mantenha uma melhor visão geral com imagens mais nítidas e detalhadas
Iluminação LED multi-zona.
Iluminação perfeita em todos os momentos, independentemente da superfície
Campânula de medição automatizada.
Funcionamento manual ou automático para máxima flexibilidade
Geometria de medição optimizada.
Precisão de medição sem paralelo graças ao espaçamento melhorado entre o tubo de raios X, a amostra e o detetor
Iluminação de estado intuitiva.
Verifique o estado do dispositivo num relance
Câmera detalhada com iluminação LED multizona: oferece a iluminação ideal para qualquer tipo de superfície (fosca, brilhante ou reflexiva), garantindo análise precisa em todas as condições.
Exaustor motorizado que pode ser aberto e fechado com o premir de um botão ou controlado por software. Para processos suaves e eficientes.
Um design otimizado com distância aprimorada entre o tubo de raios-X, amostra e detector
garante intensidade máxima e precisão de medição sem igual — assegurando resultados confiáveis e de alta qualidade.
A faixa de luz LED mostra o estado do dispositivo num relance. A luz azul indica o modo de espera, a verde indica um dispositivo pronto para medição e a laranja pulsante indica uma medição em curso.
FISIQ® X: O primeiro e moderno software XRF com modo de espetro suportado por IA. Aumente a sua produtividade com fluxos de trabalho simplificados e eficientes.
Caraterísticas
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio, outros ânodos disponíveis a pedido
Caixa com ranhura em C para medições automáticas em amostras maiores
Detetor de desvio de silício de 20 mm² ou 50 mm² para maior precisão em camadas finas
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 6 vezes alteráveis
Dispositivo de proteção total de tipo aprovado
Software FISIQ® X com modo de espetro suportado por IA para processos de medição mais inteligentes
Distância de medição contínua com medição de cima para baixo
Alturas possíveis de amostras até 140 mm
Mesa de medição programável para medições automáticas
Exemplos de aplicação
- Análise de revestimentos muito finos de ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Medições de revestimentos funcionais nas indústrias eletrônica e de semicondutores, por exemplo, em estruturas de chumbo, conectores ou placas de circuitos impressos
- Determinação de sistemas complexos de multi-revestimento
- Medições automatizadas, por exemplo, no controle de qualidade
- Determinação do teor de chumbo na solda
- Determinação do teor de fósforo em revestimentos NiP
- Determinação de acabamentos de PCB
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